[發明專利]一種高溫涂層超導基帶用織構在線檢測裝置及檢測方法

無效

• 申請號: 201210592608.9
• 申請日: 2012-12-29
• 公開（公告）號: CN103076349A
• 公開（公告）日: 2013-05-01
• 發明（設計）人: 索紅莉;王毅;孟易辰;馬麟
• 申請（專利權）人: 北京工業大學
• 主分類號: G01N23/20
• 分類號: G01N23/20
• 代理公司: 北京思海天達知識產權代理有限公司 11203
• 代理人: 張慧

1.一種高溫涂層超導基帶用織構在線檢測裝置，包括收放帶系統、X衍射儀、動力系統和工控機系統,其中X衍射儀包括X射線源、樣品臺配歐拉環、射線探測器，其特征在于，收放帶系統包括收帶輪、放帶輪和導輪，收帶輪和放帶輪安裝在X衍射儀的底座上,用于帶材的導入和導出，基帶由放帶輪經導輪進入樣品臺中,動力系統包括伺服電機，動力系統中伺服電機與收帶輪相連，工控機通過控制伺服電機從而帶動收帶輪收緊帶材，由工控機控制提供走帶牽引的動力。

2.利用權利要求的在線檢測裝置進行檢測的方法，其特征在于，包括以下步驟：將動態退火后基帶通過收放帶系統置于X衍射儀（XRD）的樣品臺上，工控機系統調節走帶速度1mm/s-100mm/s、步長1mm-5m和等待時間1s-600s，實現可視化操作，采用ω掃描測定基帶（200）晶面的面外織構，織構采樣頻率為每隔1mm～5m采集一個信號對采集的面外織構信息作高斯擬合，得到搖擺曲線的半高寬，并以基帶上的取樣點位置為橫坐標，搖擺曲線的半高寬值為縱坐標作圖，由此得到長帶整體的面外織構信息；同時檢測θ或/和2θ的衍射峰強度，從而進行物相分析以及晶胞參數計算。