[發(fā)明專利]一種針對掃描測試中捕獲功耗的優(yōu)化方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210592088.1
• 申請日: 2012-12-29
• 公開（公告）號: CN103091620A
• 公開（公告）日: 2013-05-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔡志匡;陳慧;黃丹丹;李哲文;邵金梓
• 申請（專利權(quán)）人: 江蘇東大集成電路系統(tǒng)工程技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G06F17/50
• 代理公司: 南京天翼專利代理有限責(zé)任公司 32112
• 代理人: 王鵬翔;朱戈勝

1.一種針對掃描測試中捕獲功耗的優(yōu)化方法，其特征在于，包括如下步驟：

（1）生成帶掃描鏈網(wǎng)表；

（2）門控時(shí)鐘單元分組；將門控時(shí)鐘單元驅(qū)動(dòng)的掃描單元數(shù)目相同的門控時(shí)鐘單元分為一組；任意兩個(gè)門控時(shí)鐘組的使能信號可以同時(shí)被激活；

（3）功耗約束單元設(shè)計(jì)；對電路中門控時(shí)鐘單元的門控使能端進(jìn)行約束，即每個(gè)門控時(shí)鐘單元的門控使能端口前增加一個(gè)與門，與門的一個(gè)輸入端連接到驅(qū)動(dòng)該門控使能信號的相關(guān)邏輯，另一個(gè)輸入端連接到一個(gè)或門的輸出端，或門的一個(gè)輸入端連接譯碼器的低功耗使能信號，另一個(gè)輸入端連接測試模式信號TestMode的取反值；在正常功能模式下，或門的輸出始終為1，保證增加的功耗約束電路不會對芯片正常功能造成影響；在測試模式下，或門的輸出取決于低功耗使能信號；

（4）結(jié)合生成帶掃描鏈的網(wǎng)表，進(jìn)行芯片版圖上設(shè)計(jì)，芯片版圖設(shè)計(jì)包括布圖規(guī)劃、布局、時(shí)鐘樹綜合和布線；

（5）在完成芯片版圖設(shè)計(jì)后，將帶掃描結(jié)構(gòu)的門級網(wǎng)表、工藝庫、時(shí)序約束文件和測試協(xié)議讀入自動(dòng)測試向量生成工具，進(jìn)行可測試性設(shè)計(jì)規(guī)則檢查，最后生成測試向量。

（6）在步驟（5）的基礎(chǔ)之上，對生成的測試向量進(jìn)行門級仿真。