[發明專利]一種空洞率的測算方法無效
| 申請號： | 201210591447.1 | 申請日： | 2012-12-29 |
| 公開（公告）號： | CN103020392A | 公開（公告）日： | 2013-04-03 |
| 發明（設計）人： | 李鋒;顏景林;鄭海鵬 | 申請（專利權）人： | 上海華碧檢測技術有限公司 |
| 主分類號： | G06F17/50 | 分類號： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 200433 上海市楊*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 空洞 測算 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種空洞率的測算方法，其特征在于：該方法包括以下步驟：
A、在Word、Excel或者PowerPoint中設置一個m×n的矩陣圖；?
B、將帶有空洞測量體的X-Ray圖片插入所述步驟A中的矩陣圖中，與矩陣圖重疊，并置于矩陣圖底層；
C、分別計算空洞所占矩陣圖的空格數量和測量體所占矩陣圖的空格數量；
D、通過計算，空洞所占矩陣圖的空格數量除以測量體所占矩陣圖的空格數量即為測量體的空洞率。
2.根據權利要求1所述的一種空洞率的測算方法，其特征在于：所述步驟A中，m與n均不小于10。
3.根據權利要求1所述的一種空洞率的測算方法，其特征在于：所述步驟B中測量體的X-Ray圖片的長和寬分別小于矩陣圖的長和寬。
4.根據權利要求1所述的一種空洞率的測算方法，其特征在于：所述步驟C中空格的計算原則為：占矩陣圖空格面積大于等于一半的則計為1，占矩陣圖空格面積小于一半的則計為0。
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