[發明專利]一種EMMC芯片壽命檢測方法

有效

• 申請號: 201210589306.6
• 申請日: 2012-12-31
• 公開（公告）號: CN103514958A
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發明（設計）人: 羅宏選;張航志
• 申請（專利權）人: TCL集團股份有限公司
• 主分類號: G11C29/08
• 分類號: G11C29/08
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所 44268
• 代理人: 王永文;楊宏

技術領域

本發明涉及移動設備存儲芯片，尤其涉及一種EMMC芯片壽命檢測方法。

背景技術

隨著智能電視和移動終端設備的飛速發展，在這些設備上存儲系統數據和用戶數據的芯片大都采用flash芯片實現，因此flash芯片存儲對整個設備的系統安全來說是極為重要的。

在目前主流應用android系統的設備中，flash存儲包括兩種方案，一種是flash+專用文件系統(YAFFS，Yet?Another?Flash?File?System)，另外一種是EMMC芯片（Embedded?Multi?Media?Card）+傳統文件系統。由于EMMC芯片具有接口統一，體積小，讀寫速度快，使用方便等優點，被越來越多用做智能電視，手機，MID等的存儲芯片。EMMC芯片將控制器和flash存儲封裝在一塊芯片中，因此，其可以直接使用傳統文件系統。

現有技術EMMC芯片存儲部分采用的是flash芯片，flash芯片的存儲單元包括SLC（Single?Level?Cell單層單元）和MLC（Multi-Level?Cell多層單元）兩種架構的芯片，讀寫仍然有存儲壽命限制，其壽命主要取決于對塊的擦除次數。其中，SLC芯片的擦寫周期有的高達100000次，而MLC芯片有的只有3000次，甚至更低的只有1000次的擦除壽命。在Android智能電視或移動終端設備的應用環境中，有時需要向EMMC芯片上保存一些數據或者更新一些數據，這樣就涉及到flash芯片的擦寫，頻繁的擦寫會縮短flash芯片的壽命進而會影響到整個設備的壽命。然而，在設備的具體使用過程中，系統應用對EMMC芯片訪問的頻率是多少，每次數據的存儲量是多少，均無法直觀看到。對于EMMC芯片的使用情況也無法得知，EMMC芯片的壽命也無法預知。系統中每個應用是獨立開發的，可能會運行在各種不同的平臺上，對存儲的需求也是不一樣的，因此對某個設備而言，存儲的操作可能是復雜的。這樣就有可能導致讀寫出現問題，進而丟失數據或造成不必要的損失。

因此，現有技術還有待于改進和發展。

發明內容

鑒于上述現有技術的不足之處，本發明為解決現有技術缺陷和不足，提出一種改進的方案，在EMMC驅動程序中增加測試程序的監控代碼，并提供接口給測試程序操作，測試程序可通過操作接口獲知EMMC芯片被訪問的相關信息，確定flash芯片的使用狀況,從而更加有效、安全地使用EMMC存儲設備。

本發明解決技術問題所采用的技術方案如下：?

一種EMMC芯片壽命檢測方法，包括如下步驟：

A、統計EMMC芯片的入口處需要寫入EMMC芯片的請求總數據量；

B、寫入數據到EMMC芯片，判斷flash空閑存儲塊是否足夠寫入數據，當flash空閑存儲塊足夠寫入數據時，將數據寫入EMMC芯片；

C、統計單位時間內寫入EMMC芯片中flash空閑存儲塊小于1個塊的寫入次數N₁、小于2個連續塊的寫入次數N₂，直至小于n個連續塊的寫入次數N_n；

D、統計單位時間內寫入EMMC芯片中flash空閑存儲塊小于1個塊的數據緩沖率K₁、小于2個塊的數據緩沖率K₂，直至小于n個連續塊的數據緩沖率K_n；

E、根據EMMC芯片中flash的總塊數m、每個flash塊可被編程的次數P、所述N₁?、N₂、……N_n參數、數據緩沖率K₁、K₂……K_n參數計算出EMMC芯片的壽命為????????????????????????????????????????????????單位時間。

進一步地，步驟A中具體為，對所有需要寫入EMMC芯片的程序及其請求數據量進行列表存儲，以統計出需要寫入EMMC芯片的請求總數據量。

所述步驟B中寫入數據到EMMC芯片是測試程序或各應用程序根據需求寫入數據到EMMC芯片。

步驟C中，統計寫入EMMC芯片中flash空閑存儲塊小于1個塊的寫入次數N₁、小于2個連續塊的寫入次數N₂，直至小于n個連續塊的寫入次數N_n是通過對EMMC芯片底層驅動程序監控讀取EMMC驅動中的數據結構來實現的。