[發(fā)明專利]磁共振系統(tǒng)、射頻線圈測(cè)試裝置及通道的匹配方法和裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210588056.4
• 申請(qǐng)日: 2012-12-30
• 公開（公告）號(hào): CN103901370A
• 公開（公告）日: 2014-07-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陽(yáng)昭衡
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R33/20
• 分類號(hào): G01R33/20
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 駱蘇華

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及磁共振成像技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種磁共振系統(tǒng)、射頻線圈測(cè)試裝置及通道的匹配方法和裝置。

背景技術(shù)

磁共振成像（MRI，Magnetic?Resonance?Imaging）作為核磁共振應(yīng)用的重要領(lǐng)域，由于其對(duì)人體軟組織有極好的分辨力、成像參數(shù)能提供豐富的診斷信息、對(duì)人體沒有電離輻射損傷等諸多優(yōu)點(diǎn)，磁共振成像系統(tǒng)已成為醫(yī)學(xué)臨床診斷的主要工具之一。作為磁共振系統(tǒng)中接收信號(hào)的核心部件，射頻線圈在直接接觸人體使用前，需要利用射頻線圈測(cè)試裝置對(duì)射頻線圈進(jìn)行包括諸如傳輸特性、射頻線圈類型等性能測(cè)試，確保經(jīng)過性能測(cè)試后的射頻線圈正常使用。

在利用射頻線圈測(cè)試裝置對(duì)射頻線圈進(jìn)行測(cè)試或利用射頻線圈對(duì)人體進(jìn)行測(cè)試之前，需要將射頻線圈測(cè)試裝置或磁共振系統(tǒng)中的射頻線圈測(cè)試通道通過線纜與射頻線圈對(duì)應(yīng)的通道連接起來。根據(jù)通道功能的不同，射頻線圈測(cè)試通道可分為射頻通道、直流供電通道和線圈編碼通道，每種類型的測(cè)試通道都包括多個(gè)。其中，射頻通道用于傳輸射頻線圈單元的控制信號(hào)，直流供電通道用于給與射頻線圈連接的放大器或其他單元提供工作電壓，線圈編碼通道用于連接射頻線圈和射頻線圈測(cè)試裝置或磁共振系統(tǒng)中的線圈編碼模塊。

以利用射頻線圈測(cè)試裝置對(duì)射頻線圈進(jìn)行測(cè)試為例，圖1所示為射頻線圈通道與射頻線圈測(cè)試裝置中對(duì)應(yīng)的射頻線圈測(cè)試通道連接的示意圖。參考圖1，射頻線圈通道接頭面板11上包括與射頻通道1、射頻通道2、…、射頻通道m(xù)對(duì)應(yīng)的射頻通道接頭（RF1、RF2、…、RFm），與直流供電通道1、直流供電通道2、·…、直流供電通道n對(duì)應(yīng)的直流供電通道接頭（DC1、DC2、…、DCn），與線圈編碼通道1、線圈編碼通道2、…、線圈編碼通道p對(duì)應(yīng)的線圈編碼通道接頭（CODE1、CODE2、·…、CODEp），相應(yīng)地，射頻線圈測(cè)試裝置的印制電路板（PCB，Printed?Circuit?Board）12上包括m個(gè)射頻通道接口（rf1、rf2、…、rfm），n個(gè)直流供電通道接口（dc1、dc2、…、dcn），p個(gè)線圈編碼通道接口（code1、code2、…、codep）。在對(duì)射頻線圈進(jìn)行測(cè)試前，通過線纜將射頻線圈測(cè)試裝置的印制電路板12上的接口與射頻線圈通道接頭面板11上的接頭連接起來，以實(shí)現(xiàn)射頻線圈測(cè)試裝置中的射頻線圈測(cè)試通道與射頻線圈對(duì)應(yīng)的通道連接。現(xiàn)有技術(shù)中，通過識(shí)別連接線的顏色對(duì)通道進(jìn)行匹配，例如，連接射頻線圈通道接頭面板11上的射頻通道接頭RF1的連接線為白色，那么這根白色的連接線只能與射頻線圈測(cè)試裝置的印制電路板12上對(duì)應(yīng)的射頻通道接口rf1連接。

在對(duì)射頻線圈測(cè)試通道匹配的過程中，由于需要對(duì)多根連接線的顏色進(jìn)行識(shí)別，匹配效率較低。并且，由于連接線的數(shù)量較多，操作時(shí)容易造成射頻線圈測(cè)試通道匹配錯(cuò)誤，不利于射頻線圈維護(hù)。

更多關(guān)于通道匹配的技術(shù)方案可以參考申請(qǐng)?zhí)枮?01010610184.5、發(fā)明名稱為多通道射頻相位匹配控制裝置和方法的中國(guó)專利申請(qǐng)文件。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明解決的是對(duì)射頻線圈測(cè)試通道進(jìn)行匹配時(shí)匹配效率低、不利于射頻線圈維護(hù)的問題。

為解決上述問題，本發(fā)明提供了一種射頻線圈測(cè)試通道的匹配方法，所述射頻線圈測(cè)試通道至少包括一個(gè)，各射頻線圈測(cè)試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接，所述射頻線圈測(cè)試通道的匹配方法包括：在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻，得到所述各射頻線圈測(cè)試通道的取樣值；對(duì)所述各射頻線圈測(cè)試通道進(jìn)行測(cè)量，得到所述各射頻線圈測(cè)試通道的測(cè)試數(shù)據(jù)；將所述各射頻線圈測(cè)試通道的測(cè)試數(shù)據(jù)與所述各射頻線圈測(cè)試通道的取樣值進(jìn)行匹配，得到匹配結(jié)果；根據(jù)所述匹配結(jié)果，重新定義所述各射頻線圈測(cè)試通道。

可選的，所述射頻線圈測(cè)試通道為射頻通道，所述各射頻線圈測(cè)試通道的取樣值為所述各射頻線圈測(cè)試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。

可選的，所述射頻線圈測(cè)試通道為直流供電通道，所述各射頻線圈測(cè)試通道的取樣值為所述各射頻線圈測(cè)試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。

可選的，所述對(duì)所述各射頻線圈測(cè)試通道進(jìn)行測(cè)量，得到所述各射頻線圈測(cè)試通道的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：將所述各射頻線圈測(cè)試通道的電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)；對(duì)所述電壓信號(hào)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到所述測(cè)試數(shù)據(jù)。

可選的，所述射頻線圈測(cè)試通道為線圈編碼通道，所述各射頻線圈測(cè)試通道的取樣值為所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的識(shí)別碼。

可選的，所述測(cè)試數(shù)據(jù)為所述取樣電阻的識(shí)別碼。