[發明專利]磁共振系統、射頻線圈測試裝置及通道的匹配方法和裝置

有效

• 申請號: 201210588056.4
• 申請日: 2012-12-30
• 公開（公告）號: CN103901370A
• 公開（公告）日: 2014-07-02
• 發明（設計）人: 陽昭衡
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技有限公司
• 主分類號: G01R33/20
• 分類號: G01R33/20
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 駱蘇華

1.一種射頻線圈測試通道的匹配方法，所述射頻線圈測試通道至少包括一個，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接，其特征在于，包括：

在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻，得到所述各射頻線圈測試通道的取樣值；

對所述各射頻線圈測試通道進行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數據；

將所述各射頻線圈測試通道的測試數據與所述各射頻線圈測試通道的取樣值進行匹配，得到匹配結果；

根據所述匹配結果，重新定義所述各射頻線圈測試通道。

2.根據權利要求1所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特征在于，所述射頻線圈測試通道為射頻通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。

3.根據權利要求1所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特征在于，所述射頻線圈測試通道為直流供電通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。

4.根據權利要求2或3所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特征在于，所述對所述各射頻線圈測試通道進行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數據包括：

將所述各射頻線圈測試通道的電流信號轉換成電壓信號；

對所述電壓信號進行模數轉換，得到所述測試數據。

5.根據權利要求1所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特征在于，所述射頻線圈測試通道為線圈編碼通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的識別碼。

6.根據權利要求5所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特征在于，所述測試數據為所述取樣電阻的識別碼。

7.根據權利要求6所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特征在于，所述識別碼是依據所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的阻值預先定義的。

8.一種射頻線圈測試通道的匹配裝置，所述射頻線圈測試通道至少包括一個，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接，其特征在于，包括：

存儲單元，用于存儲在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻后得到的所述各射頻線圈測試通道的取樣值；

測量單元，用于對所述各射頻線圈測試通道進行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數據；

匹配單元，用于將所述測量單元測量的所述各射頻線圈測試通道的測試數據與所述存儲單元存儲的所述各射頻線圈測試通道的取樣值進行匹配，得到匹配結果；

定義單元，用于根據所述匹配單元得到的匹配結果，重新定義所述各射頻線圈測試通道。

9.根據權利要求8所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特征在于，所述射頻線圈測試通道為射頻通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。

10.根據權利要求8所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特征在于，所述射頻線圈測試通道為直流供電通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。

11.根據權利要求9或10所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特征在于，所述測試量單元包括：

電流電壓轉換單元，用于將所述各射頻線圈測試通道的電流信號轉換成電壓信號；

模數轉換單元，用于將所述電壓信號進行模數轉換，得到所述測試數據。

12..根據權利要求8所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特征在于，所述射頻線圈測試通道為線圈編碼通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的識別碼。

13.根據權利要求12所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特征在于，所述測試數據為所述取樣電阻的識別碼。

14.根據權利要求13所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特征在于，所述識別碼是依據所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的阻值預先定義的。