[發(fā)明專利]一種提高反發(fā)射薄膜與鉬柵網(wǎng)基底結(jié)合力的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210585107.8 | 申請日: | 2012-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN103898440A | 公開(公告)日: | 2014-07-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 呂琴麗;李弢;楊明華;郜健 | 申請(專利權(quán))人: | 北京有色金屬研究總院 |
| 主分類號: | C23C14/02 | 分類號: | C23C14/02;C23C14/16;C23C14/34;H01J9/14 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 提高 發(fā)射 薄膜 鉬柵網(wǎng) 基底 結(jié)合 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及柵控行波管的鉬柵反發(fā)射薄膜制備方法,具體涉及一種提高反發(fā)射薄膜與鉬柵網(wǎng)基底結(jié)合力的方法。
背景技術(shù)
金屬鉬(Mo)因其不僅具備高溫電真空材料特性,還具有很好的塑性加工性能,通常被用作為柵控行波管電子槍中的柵網(wǎng)。然而,鉬柵網(wǎng)在行波管工作期間經(jīng)常出現(xiàn)熱電子發(fā)射現(xiàn)象,會導(dǎo)致行波管出現(xiàn)打火故障并失效。針對這種現(xiàn)象通常采取的措施是對鉬柵網(wǎng)進(jìn)行表面改性處理,即在基底柵網(wǎng)上增加一層反發(fā)射薄膜,能有效改善柵發(fā)射現(xiàn)象。但是,表面改性的薄膜與基底之間存在結(jié)合力不牢問題,有脫落現(xiàn)象,從而產(chǎn)生次生問題影響柵控行波管的工作可靠性和穩(wěn)定性。因此,反發(fā)射薄膜與鉬柵網(wǎng)基底間結(jié)合力不牢問題必須予以解決。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是為了解決上述反發(fā)射薄膜與鉬柵網(wǎng)基底間結(jié)合力不牢問題,提供了一種提高反發(fā)射薄膜與鉬柵網(wǎng)基底結(jié)合力的方法。該發(fā)明方法操作簡單、成果顯著。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,辦發(fā)明包括如下技術(shù)方案:
一種提高反發(fā)射薄膜與鉬柵網(wǎng)基底結(jié)合力的方法,包括以下步驟:
A.將加工好的鉬柵網(wǎng)進(jìn)行真空除氣,溫度為800±20℃;
B.采用離子束輔助沉積法在上述Mo柵網(wǎng)上沉積一層反發(fā)射薄膜;
C.對所制成的柵網(wǎng)進(jìn)行退火處理,退火溫度為1000~1300℃。
如上所述的方法,優(yōu)選地,所述步驟A真空除氣操作中,真空度優(yōu)于1×10-5Pa,保溫時間為10±3分鐘。
如上所述的方法,優(yōu)選地,所述步驟B的離子束輔助沉積過程中,離子束(Ar+)能量為800~1000eV,本底真空度優(yōu)于1×10-4Pa,工作氣壓為0.02~0.1Pa。
如上所述的方法,優(yōu)選地,所述步驟B中,反發(fā)射薄膜為表面功函數(shù)大于2.3eV且熔點(diǎn)高于1500℃的金屬。
如上所述的方法,優(yōu)選地,所述金屬為鉑、鋯或鉿。
如上所述的方法,優(yōu)選地,所述反發(fā)射薄膜厚度為1.0±0.1um。
如上所述的方法,優(yōu)選地,所述步驟C的退火處理操作中,退火時間為0.5~3小時,本底真空優(yōu)于1×10-4Pa。
另一方面,本發(fā)明提供一種柵控行波管用鉬柵基底,其是采用如上所述的方法制備的。
本發(fā)明的有益效果在于:該方法利用離子束輔助沉積法在鉬柵網(wǎng)基底上沉積反發(fā)射薄膜,通過離子束轟擊基底表面,提高基底表面粗糙度,從而使得膜基結(jié)合力增加,再結(jié)合后續(xù)高溫退火處理,使得反發(fā)射薄膜和鉬基底間形成合金相,進(jìn)一步提高膜基結(jié)合力。
附圖說明
圖1是本發(fā)明對比例1柵網(wǎng)在1200℃,0.5小時真空退火后用納米劃痕法表征結(jié)合力的測試曲線。
圖2a是本發(fā)明實(shí)施例1柵網(wǎng)在退火前用納米劃痕法表征結(jié)合力的測試曲線。
圖2b是本發(fā)明實(shí)施例1柵網(wǎng)在退火后用納米劃痕法表征結(jié)合力的測試曲線。
圖3是本發(fā)明實(shí)施例1柵網(wǎng)在進(jìn)行高溫?zé)釠_擊后用納米劃痕法表征結(jié)合力的測試曲線。
具體實(shí)施方式
下面通過實(shí)施例進(jìn)一步描述本發(fā)明。這些實(shí)施例并非是對本發(fā)明的限制,任何等同替換或公知改變均屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
對比例1采用磁控濺射沉積技術(shù)制備反發(fā)射薄膜
制備步驟如下:
A.將加工好的鉬柵網(wǎng)進(jìn)行高溫真空除氣,溫度為800℃,真空度優(yōu)于1×10-5Pa,保溫時間為10分鐘。
B.采用磁控濺射沉積法在上述Mo柵網(wǎng)上沉積一層金屬鉿(Hf)反發(fā)射薄膜,本底真空度優(yōu)于1×10-4Pa,磁控濺射過程中氣壓為0.05Pa,反發(fā)射薄膜的度為1.0um。
C.對步驟B制成的柵網(wǎng)進(jìn)行退火處理,退火溫度為1200℃,退火時間為0.5小時,本底真空優(yōu)于1×10-4Pa。所獲得的基片用納米劃痕法測量結(jié)合力所得的測試曲線如圖1所示,由圖可知,磁控濺射沉積法制備的Hf薄膜與Mo柵網(wǎng)基底之間結(jié)合力約為95mN。
實(shí)施例1采用離子束輔助濺射沉積技術(shù)制備反發(fā)射薄膜
(一)制備步驟如下:
A.將加工好的鉬柵網(wǎng)進(jìn)行高溫真空除氣,溫度為800℃,真空度優(yōu)于1×10-5Pa,保溫時間為10分鐘。
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