[發明專利]一種電子元器件參數測試裝置

無效

• 申請號: 201210581917.6
• 申請日: 2012-12-28
• 公開（公告）號: CN103149468A
• 公開（公告）日: 2013-06-12
• 發明（設計）人: 段超;孫吉興;陳雁;王旭;孟猛;龔欣;張偉;姬青;張延偉
• 申請（專利權）人: 中國空間技術研究院
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 李江

技術領域

本發明設計一種電子元器件參數測試技術領域，尤其涉及一種能夠快速進行電子元器件關鍵參數測試的裝置及方法。?

背景技術

隨著電子元器件特別是集成電路的不斷發展，電子元器件管腳數量不斷增加、功能不斷復雜化、封裝形式多樣化，這些都給電子元器件的測試帶來了很多新的挑戰。目前電子元器件測試是一項非常復雜而且龐大的系統工程，這需要硬件、軟件和人員之間相互協作才能夠實現電子元器件的參數測試。目前元器件的測試都是采用了大型測試系統，測試系統一般都需要占用一間房間或者更大的空間，測試系統的售價一般都在1000萬人民幣以上，使用一個小時的費用在2000人民幣左右，編寫一個集成電路的測試程序一般的周期為一個月，因此如果只采用大型測試系統對電子元器件的關鍵參數進行測試的費用和時間都是很大的一個消耗。?

其實作為用戶而言，電子元器件的生產廠在器件出廠時已經進行過完整的參數測試和功能考核了，生產廠已經采用大型測試系統對集成電路的參數和功能進行了完整的測試。作為用戶僅僅需要對電子元器件的關鍵參數和功能進行測試，特別是懷疑電子元器件存在某些功能異常或者發生失效時，一種快速、便捷且廉價的電子元器件測試手段對用戶或者電子元器件失效分析人員來說就顯得非常必要了。?

但是，目前采用的都是電子元器件測試系統全參數測試，并結合圖示儀進行I-V的方法進行電子元器件關鍵參數測試的。對于復雜電子元器件測試系統測試，針對失效或異常電子元器件的測試程序基本上都需要進行重新開發，并且這種測試基本上都是一次性的，因此測試系統測試的周期長、費用大，并且復用幾率低。另一方面I-V特性曲線測試僅能測試器件兩個管腳之間的測試電流電壓曲線，無法將元器件固定在某種偏置或工作狀態下。?

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發明內容

為解決上述現有技術中存在的缺陷，本發明提供了一種能快速進行電子元器件關鍵參數測試的裝置及方法。?

為達到目的，本發明采用了如下技術方案：?

一種電子元器件參數測試裝置，包括中央處理器，控制單元，電平轉換單元，電壓、電流檢測單元和人機交互單元，其特征在于：

中央處理器，分別與人機交互單元和控制單元連接，用于測試激勵的載入、狀態數據的分析和與人機交互單元進行交互；

控制單元，分別與存儲單元、電壓、電流檢測單元和電平轉換單元連接，用于實現激勵信號的生成、調整和輸出，采集被測芯片的輸出信號，檢測激勵及采樣信號的電壓和電流信息，并調整被測芯片的供電電壓；

電平轉換單元，分別與控制單元和被測芯片連接，用于將控制單元發出的測試激勵信號轉換為實際施加在被測芯片上的信號；

電壓、電流檢測單元，分別與控制單元和被測芯片連接，用于將采集到的被測芯片的電壓電流信息發送給控制單元。

作為優選，所述測試裝置還包括存儲單元，該存儲單元包括SSD存儲模塊和DDR數據緩沖區。?

作為優選，所述中央處理器為x86處理器，采用SOM/COM架構核心板，外擴SSD作為數據存儲器，并通過PCI總線及UART兩種連接方式同時與控制單元進行通信，其中PCI總線用于對控制單元發出激勵生成控制，UART用于從控制單元獲取監控數據。?

作為優選，所述控制單元為FPGA。?

作為優選，所述電平轉換單元以32路信號為一組，分組進行信號方向和信號電平的設置。?

作為優選，所述電平轉換單元還包括有信號保護電路。?

作為優選，所述電壓、電流檢測單元中有檢流電阻。?

作為優選，所述測試裝置還包括有測試電源和雙保護電路，所述測試電源用于為被測芯片供電，所述雙保護電路用于提供兩級的過流保護。?

作為優選，所述雙保護電路包括過流檢測保護電路和自恢復保險絲。?

一種電子元器件參數測試方法，該方法采用如上所述的測試裝置，其特征在于，包括以下步驟：?

步驟一：配置基礎資源，根據被測芯片的引腳設定和轉接板情況選擇電源供給電壓、IO方向及IO電平標準，并根據測試項目連接電流檢測電路；

步驟二：測試形式選擇，所述形式包括有單步測試、連續測試和擴展測試；

步驟三：輸入測試激勵，根據測試形式，選擇導入真值表或手工輸入真值表，導入波形文件的方式輸入測試激勵；

步驟四：獲取并輸出測試結果。

作為優選，所述步驟三中的導入的真值表為CSV格式真值表，所述波形文件為CSV格式或VCD格式的波形文件。?