[發明專利]一種電子元器件參數測試裝置

無效

• 申請號: 201210581917.6
• 申請日: 2012-12-28
• 公開（公告）號: CN103149468A
• 公開（公告）日: 2013-06-12
• 發明（設計）人: 段超;孫吉興;陳雁;王旭;孟猛;龔欣;張偉;姬青;張延偉
• 申請（專利權）人: 中國空間技術研究院
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 李江

1.一種電子元器件參數測試裝置，包括中央處理器，控制單元，電平轉換單元，電壓、電流檢測單元，存儲單元和人機交互單元，其特征在于：

中央處理器，分別與人機交互單元和控制單元連接，用于測試激勵的載入、狀態數據的分析和與人機交互單元進行交互；

控制單元，分別與存儲單元、電壓、電流檢測單元和電平轉換單元連接，用于實現激勵信號的生成、調整和輸出，采集被測芯片的輸出信號，檢測激勵及采樣信號的電壓和電流信息，并調整被測芯片的供電電壓；

電平轉換單元，分別與控制單元和被測芯片連接，用于將控制單元發出的測試激勵信號轉換為實際施加在被測芯片上的信號；

電壓、電流檢測單元，分別與控制單元和被測芯片連接，用于將采集到的被測芯片的電壓電流信息發送給控制單元；

存儲單元，該存儲單元包括SSD存儲模塊和DDR數據緩沖區。

2.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述中央處理器為x86處理器，采用SOM/COM架構核心板，外擴SSD作為數據存儲器，并通過PCI總線及UART兩種連接方式同時與控制單元進行通信，其中PCI總線用于對控制單元發出激勵生成控制，UART用于從控制單元獲取監控數據。

3.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述控制單元為FPGA。

4.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述電平轉換單元以32路信號為一組，分組進行信號方向和信號電平的設置。

5.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述電平轉換單元還包括有信號保護電路。

6.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述電壓、電流檢測單元中有檢流電阻。

7.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述測試裝置還包括有測試電源和雙保護電路，所述測試電源用于為被測芯片供電，所述雙保護電路用于提供兩級的過流保護。

8.根據權利要求7所述的測試裝置，其特征在于：所述雙保護電路包括過流檢測保護電路和自恢復保險絲。

9.一種電子元器件參數測試方法，該方法采用如權利要求1-8任一所述的測試裝置，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一：配置基礎資源，根據測試芯片的引腳設定和轉接板情況選擇電源供給電壓、IO方向及IO電平標準，并根據測試項目連接電流檢測電路；

步驟二：測試形式選擇，所述形式包括有單步測試、連續測試和擴展測試；

步驟三：輸入測試激勵，根據測試形式，選擇導入真值表或手工輸入真值表，導入波形文件的方式輸入測試激勵；

步驟四：獲取并輸出測試結果。

10.根據權利要求9所述的測試方法，其特征在于：所述步驟三中的導入的真值表為CSV格式真值表，所述波形文件為CSV格式或VCD格式的波形文件。