[發明專利]一種電力半導體芯片臺面處理方法有效
| 申請號: | 201210580864.6 | 申請日: | 2012-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN103035491A | 公開(公告)日: | 2013-04-10 |
| 發明(設計)人: | 項衛光;徐偉;李有康;李曉明 | 申請(專利權)人: | 浙江正邦電力電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02 |
| 代理公司: | 浙江杭州金通專利事務所有限公司 33100 | 代理人: | 柯利進 |
| 地址: | 321400 浙江省麗水市縉*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電力 半導體 芯片 臺面 處理 方法 | ||
1.一種電力半導體芯片臺面處理方法,包括對芯片臺面依次進行腐蝕、清洗和烘干處理,其特征是:腐蝕處理時,所述芯片整齊重疊成柱狀,并橫置于有相應凹槽的耐腐蝕籃中,然后將該芯片和耐腐蝕籃一起放入盛有腐蝕液的耐腐蝕盤內,所述腐蝕液面高出芯片頂邊1-2厘米,耐腐蝕盤放置在超聲波清洗器的工作槽中,工作槽中盛有2-3厘米深度清水,腐蝕處理時間為40-55秒;清洗處理時,將耐腐蝕籃和芯片一起取出,然后按常規使用清水將芯片清洗干凈;烘干處理時,將清洗干凈后的芯片水平擺放后按常規烘干。
2.根據權利要求1所述的一種電力半導體芯片臺面處理方法,其特征是:所述超聲波清洗器功率為900W,頻率為28KHZ。
3.根據權利要求1或2所述的一種電力半導體芯片臺面處理方法,其特征是:所述耐腐蝕籃和耐腐蝕盤分別為長方形塑料籃和塑料盤。
4.根據權利要求3所述的一種電力半導體芯片臺面處理方法,其特征是:所述耐腐蝕籃中設有5--9個凹槽。
5.根據權利要求4所述的一種電力半導體芯片臺面處理方法,其特征是:所述耐腐蝕籃中的凹槽橫截面為V形。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





