[發明專利]一種多晶硅線痕片的制絨方法無效
| 申請號: | 201210576671.3 | 申請日: | 2012-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN103035780A | 公開(公告)日: | 2013-04-10 |
| 發明(設計)人: | 許穎;武濤;趙釗;陳招銀;鄭煒 | 申請(專利權)人: | 太陽能光伏北京市工程研究中心有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;C30B33/10 |
| 代理公司: | 北京紐樂康知識產權代理事務所 11210 | 代理人: | 秦月貞 |
| 地址: | 101102 北京市通*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 多晶 硅線痕片 方法 | ||
1.一種多晶硅線痕片的制絨方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)在8℃~10℃恒溫槽內配制硝酸和氫氟酸的混合溶液,該混合溶液為制絨液;
(2)將多晶硅線痕片進行裝載,然后在制絨液中制絨清洗,清洗1~3分鐘;以及
(3)制絨清洗后,將多晶硅線痕片依次進行純水清洗、堿洗、第二次純水清洗、去離子清洗以及第三次純水清洗過程,然后將硅片在溫度為40℃的空氣下烘干,最后將硅片卸載,得到制絨后的硅片。
2.根據權利要求1所述的一種多晶硅線痕片的制絨方法,其特征在于:所述步驟(1)中,硝酸的濃度為33%~35%,氫氟酸的濃度為5%~6%。
3.根據權利要求1所述的一種多晶硅線痕片的制絨方法,其特征在于:所述步驟(3)中,所述堿洗溶液為:濃度為8%的氫氧化鈉溶液。
4.根據權利要求1所述的一種多晶硅線痕片的制絨方法,其特征在于:所述步驟(3)中,所述去離子清洗液為:濃度為5%的鹽酸溶液。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于太陽能光伏北京市工程研究中心有限公司,未經太陽能光伏北京市工程研究中心有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210576671.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





