[發(fā)明專利]閃爍體面板、放射線檢測設(shè)備以及放射線檢測系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210576106.7 | 申請日: | 2012-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN103176200A | 公開(公告)日: | 2013-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 石田陽平;岡田聰;中山明哉 | 申請(專利權(quán))人: | 佳能株式會社 |
| 主分類號: | G01T1/20 | 分類號: | G01T1/20;G01T1/202 |
| 代理公司: | 北京魏啟學(xué)律師事務(wù)所 11398 | 代理人: | 魏啟學(xué) |
| 地址: | 日本東京都大*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 閃爍 體面 放射線 檢測 設(shè)備 以及 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及閃爍體面板、放射線檢測設(shè)備以及包括放射線檢測設(shè)備的放射線檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)
傳統(tǒng)上,一種放射線檢測設(shè)備包括傳感器面板和設(shè)置于該傳感器面板上的閃爍體面板。該傳感器面板具有多個光電轉(zhuǎn)換元件,所述光電轉(zhuǎn)換元件以具有行和列的矩陣形式配置。該閃爍體面板具有閃爍體層,該閃爍體層將放射線轉(zhuǎn)換為波長能被光電轉(zhuǎn)換元件檢測到的光。美國專利申請2004/017495公開了一種在閃爍體和光電轉(zhuǎn)換元件之間具有改進(jìn)的光學(xué)耦合的放射線檢測設(shè)備。該放射線檢測設(shè)備包括具有光接收面的傳感器面板,該光接收面具有凸凹以提高光吸收。在該傳感器面板和該閃爍體層之間從該傳感器面板側(cè)按順序設(shè)置有空隙和抗反射層。
如果抗反射層和空隙在折射率上存在差異,則背景技術(shù)中所描述的放射線檢測設(shè)備可能在抗反射層和空隙之間引起光反射。這種反射會導(dǎo)致散射并且會不必要地降低閃爍體所發(fā)出的光的強度,從而使得到達(dá)傳感器面板的光的強度(量)低。因此,閃爍體所發(fā)出的光在傳感器面板上可用的量低,這會劣化圖像質(zhì)量。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一方面,閃爍體面板包括將放射線轉(zhuǎn)換為波長能被光電轉(zhuǎn)換元件檢測到的光的閃爍體。所述閃爍體面板具有包括多個彼此相鄰的凸部的表面。所述相鄰的凸部以小于針對所述閃爍體發(fā)出的光的波長的衍射極限的間距配置。根據(jù)本發(fā)明的另一方面,放射線檢測設(shè)備包括:包括光電轉(zhuǎn)換元件的傳感器面板;包括將放射線轉(zhuǎn)換為波長能被所述光電轉(zhuǎn)換元件檢測到的光的閃爍體的閃爍體面板;與所述閃爍體面板的與所述傳感器面板相對的表面具有不同的折射率的構(gòu)件。所述閃爍體設(shè)置在所述傳感器面板上且所述構(gòu)件設(shè)置于所述表面和所述光電轉(zhuǎn)換元件之間。所述表面包括多個彼此相鄰的凸部。所述相鄰的凸部以小于針對所述閃爍體發(fā)出的光的波長的衍射極限的間距配置。
有利地,根據(jù)本發(fā)明至少一個實施例公開的閃爍體面板和放射線檢測裝置提高了閃爍體發(fā)出的光的可利用率。
根據(jù)下面參考所附圖示的典型實施例的描述,本發(fā)明的其他特征將變得更加明顯。
附圖說明
圖1A是根據(jù)本發(fā)明實施例的放射線檢測設(shè)備的示意性平面圖。
圖1B是沿圖1A中的IB-IB線的示意性剖視圖。
圖2是放射線檢測設(shè)備中的一個像素的示意性剖視圖。
圖3A是示出放射線檢測設(shè)備中的閃爍體表面上的凸凹的示意性平面圖。
圖3B是沿圖3A中的IIIB-IIIB線的示意性剖視圖。
圖4A至圖4C是示出閃爍體面板的制造過程的示意性剖視圖。
圖5A至圖5D是示出放射線檢測設(shè)備的制造過程的示意性剖視圖。
圖6A是示出根據(jù)本發(fā)明另一實施例的放射線檢測設(shè)備的示意性平面圖。
圖6B是沿圖6A中的VIB-VIB線的示意性剖視圖。
圖7是示出包括根據(jù)本發(fā)明另一實施例的放射線檢測設(shè)備的放射線檢測系統(tǒng)的例子的示意圖。
具體實施方式
現(xiàn)在將參考圖1A、圖1B、圖2、圖3A和圖3B詳細(xì)描述根據(jù)本發(fā)明實施例的放射線檢測設(shè)備。圖1A是根據(jù)本實施例的放射線檢測設(shè)備100的示意性平面圖。圖1B是沿圖1A中的IB-IB線的示意性剖視圖。圖2是以放大視圖示出一個像素的示意性剖視圖。圖3A是示出閃爍體表面上的凸凹的示意性平面圖。圖3B是沿圖3A中的IIIB-IIIB線的示意性剖視圖。
如圖1A和圖1B中所示,放射線檢測設(shè)備100包括容納傳感器面板110和閃爍體面板120的殼體180。傳感器面板110包括以具有行和列的矩陣形式配置的多個像素112。閃爍體面板120包括與傳感器面板110相對設(shè)置的閃爍體121。像素112至少包括稍后將描述的光電轉(zhuǎn)換元件202。光電轉(zhuǎn)換元件202的寬度對應(yīng)于像素112的寬度,可以為50μm至200μm。至少利用密封部130將傳感器面板110和閃爍體面板120接合在一起。放射線檢測設(shè)備100還包括具有驅(qū)動電路141的驅(qū)動柔性電路板142、驅(qū)動印刷電路板143、具有信號處理電路151的信號處理柔性電路板152以及信號處理印刷電路板153。放射線檢測設(shè)備100還包括具有控制和電力供給電路171的印刷電路板172。驅(qū)動印刷電路板143通過柔性電路板161連接至印刷電路板172。信號處理印刷電路板153通過柔性電路板162連接至印刷電路板172。
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