[發(fā)明專(zhuān)利]閃爍體面板、放射線檢測(cè)設(shè)備以及放射線檢測(cè)系統(tǒng)無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210576106.7 | 申請(qǐng)日: | 2012-12-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103176200A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 石田陽(yáng)平;岡田聰;中山明哉 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 佳能株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01T1/20 | 分類(lèi)號(hào): | G01T1/20;G01T1/202 |
| 代理公司: | 北京魏?jiǎn)W(xué)律師事務(wù)所 11398 | 代理人: | 魏?jiǎn)W(xué) |
| 地址: | 日本東京都大*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 閃爍 體面 放射線 檢測(cè) 設(shè)備 以及 系統(tǒng) | ||
1.一種閃爍體面板,包括:
閃爍體,將放射線轉(zhuǎn)換為波長(zhǎng)能被光電轉(zhuǎn)換元件檢測(cè)到的光,
其中,所述閃爍體面板具有包括多個(gè)彼此相鄰的凸部的表面,以及
所述相鄰的凸部以小于針對(duì)所述閃爍體發(fā)出的光的波長(zhǎng)的衍射極限的間距配置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃爍體面板,其特征在于,進(jìn)一步包括用于覆蓋所述閃爍體的覆蓋層,
其中,所述表面為所述覆蓋層的表面,以及
所述間距滿(mǎn)足:40nm≤P<λ/2n,
其中P為所述間距,λ為所述閃爍體發(fā)出的光的波長(zhǎng),n為所述相鄰的凸部的折射率。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的閃爍體面板,其特征在于,所述閃爍體為柱狀晶體堿金屬鹵化物閃爍體。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃爍體面板,其特征在于,所述閃爍體為粒狀閃爍體,
其中,所述表面為所述閃爍體的表面。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃爍體面板,其特征在于,所述間距小于針對(duì)最大發(fā)射波長(zhǎng)的衍射極限,所述最大發(fā)射波長(zhǎng)為所述閃爍體發(fā)出的強(qiáng)度最高的光的波長(zhǎng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃爍體面板,其特征在于,所述間距小于針對(duì)最低發(fā)射波長(zhǎng)的衍射極限,所述最低發(fā)射波長(zhǎng)為所述閃爍體發(fā)出的光的最短波長(zhǎng)。
7.一種放射線檢測(cè)設(shè)備,包括:
傳感器面板,包括光電轉(zhuǎn)換元件;
閃爍體面板,包括將放射線轉(zhuǎn)換為波長(zhǎng)能被所述光電轉(zhuǎn)換元件檢測(cè)到的光的閃爍體;
構(gòu)件,具有與所述閃爍體面板的與所述傳感器面板相對(duì)的表面不同的折射率,所述閃爍體設(shè)置在所述傳感器面板上且所述構(gòu)件設(shè)置于所述表面和所述光電轉(zhuǎn)換元件之間,
其中,所述表面包括多個(gè)彼此相鄰的凸部,以及
所述相鄰的凸部以小于針對(duì)所述閃爍體發(fā)出的光的波長(zhǎng)的衍射極限的間距配置。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的放射線檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,所述傳感器面板包括以矩陣形式配置的多個(gè)像素,所述像素包括所述光電轉(zhuǎn)換元件,
其中,所述構(gòu)件包括吸收所述閃爍體發(fā)出的光的光吸收構(gòu)件,以及
所述光吸收構(gòu)件設(shè)置于所述傳感器面板與所述閃爍體面板之間,從而使得所述光吸收構(gòu)件的正交投影位于所述像素間的區(qū)域的至少一部分中。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的放射線檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,所述構(gòu)件包括空氣。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的放射線檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,所述閃爍體面板進(jìn)一步包括覆蓋所述閃爍體的覆蓋層,
其中,所述表面為所述覆蓋層的與所述傳感器面板相對(duì)的表面,以及
所述間距為40nm或更大。
11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的放射線檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,所述表面為所述閃爍體的與所述傳感器面板相對(duì)的表面。
12.一種放射線檢測(cè)系統(tǒng),包括:
根據(jù)權(quán)利要求7所述的放射線檢測(cè)設(shè)備;
信號(hào)處理單元,用于處理來(lái)自所述放射線檢測(cè)設(shè)備的信號(hào);
記錄單元,用于記錄來(lái)自所述信號(hào)處理單元的信號(hào);
顯示單元,用于顯示來(lái)自所述信號(hào)處理單元的信號(hào);以及
傳輸處理單元,用于傳輸來(lái)自所述信號(hào)處理單元的信號(hào)。
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