[發明專利]一種圈盤周長的標準值計算方法、檢測臺校準方法及裝置

有效

• 申請號: 201210574049.9
• 申請日: 2012-12-26
• 公開（公告）號: CN103063176A
• 公開（公告）日: 2013-04-24
• 發明（設計）人: 高潘;趙瑞青;王曉宇
• 申請（專利權）人: 山東金宇實業股份有限公司
• 主分類號: G01B21/02
• 分類號: G01B21/02
• 代理公司: 北京信遠達知識產權代理事務所(普通合伙) 11304
• 代理人: 趙百令;劉大玲

技術領域

本申請涉及輪胎行業領域，特別涉及一種圈盤周長的標準值計算方法、檢測臺校準方法及裝置。

背景技術

在輪胎行業，對生產的胎圈的大小要求較高，所以需要一個胎圈周長的標準值來檢測生產的胎圈是否符合標準，同時也要求檢測胎圈周長的檢測臺具有精確的校準度。

目前，胎圈內周長的標準值通過量油尺對標準胎圈進行測量得到。測量胎圈內周長的標準值的具體過程為：將標準胎圈置于胎圈內周長檢測臺的圈盤上，并將圈盤撐開保證圈盤與標準胎圈的結合面貼緊無縫隙。然后使用量油尺的零刻度對準標準胎圈的某一位置，繞標準胎圈一周，測得胎圈周長，該胎圈周長即胎圈內周長的標準值。取得胎圈內周長的標準值后，將胎圈內周長的標準值輸入電腦，用來校準胎圈內周長檢測臺。

從上述過程中可以看出，現有技術中胎圈內周長的標準值僅僅使用量油尺測量得到，但是僅僅使用量油尺一種測量工具來測量標準值，會使測量得到的標準值誤差較大，得到的標準值不夠精確。如果將誤差較大的標準值輸入校準設備，導致需要重新獲取標準值，所以需要重新使用量油尺測量標準胎圈的周長，直到使用量油尺測得的標準值符合標準為止，使用量油尺測量標準胎圈的周長不僅準確度低，而且可能需要重復進行測量，導致測量得到的結果的不確定性增加，工作效率低。

總之，目前需要本領域技術人員迫切解決的一個技術問題就是：如何得到準確度高的胎圈內周長的標準值，并利用該胎圈內周長的標準來精確的校準胎圈內周長檢測臺。

發明內容

為解決上述技術問題，本申請提供一種圈盤周長的標準值計算方法、檢測臺校準方法，以達到得到誤差小，準確度高，不確定性低的標準值，并利用該標準值來精確的校準胎圈內周長檢測臺的目的，技術方案如下：

一種圈盤周長的標準值計算方法，包括：

在圈盤處于閉合狀態，且圈盤的結合面貼緊無縫隙的情況下，獲取使用周長尺測量的所述圈盤貼合時圈盤各尺寸階層的周長；

在所述圈盤處于撐開狀態，且圈盤的外表面與標準圈的內表面緊貼無縫隙的情況下，獲取使用內徑千分尺測量的圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度以及使用檢測臺自帶的數顯卡尺測量圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度，其中所述開度為所述圈盤處于撐開狀態時，圈盤之間相隔的距離；

根據所述圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度和所述圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度，得到圈盤開度的修正值；

根據所述圈盤各階層的周長、所述圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度以及所述圈盤開度的修正值，得到圈盤各尺寸階層周長的標準周長。

優選的，根據所述圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度和所述圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度，得到圈盤開度的修正值包括：

獲取圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度的平均值；

將所述圈盤各尺寸階層的兩邊緣處開度的平均值減去對應的所述圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度，得到圈盤各尺寸階層的開度偏差值；

將圈盤各尺寸階層的開度偏差值平均，獲取圈盤開度的修正值。

優選的，根據所述圈盤各階層的周長、所述圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度以及所述圈盤開度的修正值，得到圈盤各尺寸階層周長的標準周長包括：

根據公式圈盤各尺寸階層周長的標準周長=圈盤各尺寸階層的周長+2×(a+K1），其中a為圈盤開度的修正值，K1為所述圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度。

優選的，獲取使用周長尺測量的所述圈盤貼合時圈盤各尺寸階層的周長包括：獲取使用分度值為0.02mm的周長尺測量的所述圈盤貼合時圈盤各尺寸階層的周長；

獲取使用內徑千分尺測量的圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度包括：獲取使用分度值為0.01mm的內徑千分尺測量的圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度。

優選的，在獲取的使用檢測臺自帶數顯卡尺測量的圈盤的結合縫隙為零的情況下，圈盤的結合面貼緊無縫隙。

一種胎圈內周長檢測臺校準方法，包括：

應用上述任意一項所述的方法獲取圈盤各尺寸階層周長的標準周長；

將圈盤各尺寸階層周長的標準周長輸入校準設備，并使用圈盤各尺寸階層周長的標準周長測量標準圈；

判斷測量標準圈得到的測量值是否在允許誤差范圍內，如果是，將所述圈盤各尺寸階層周長的標準周長作為所述胎圈內周長檢測臺的標準值，否則，重新獲取圈盤各尺寸階層周長的標準周長。

一種胎圈內周長檢測臺圈盤周長的標準值計算裝置，該裝置包括：