[發明專利]一種圈盤周長的標準值計算方法、檢測臺校準方法及裝置

有效

• 申請號: 201210574049.9
• 申請日: 2012-12-26
• 公開（公告）號: CN103063176A
• 公開（公告）日: 2013-04-24
• 發明（設計）人: 高潘;趙瑞青;王曉宇
• 申請（專利權）人: 山東金宇實業股份有限公司
• 主分類號: G01B21/02
• 分類號: G01B21/02
• 代理公司: 北京信遠達知識產權代理事務所(普通合伙) 11304
• 代理人: 趙百令;劉大玲

1.一種圈盤周長的標準值計算方法，其特征在于，該方法包括：

在圈盤處于閉合狀態，且圈盤的結合面貼緊無縫隙的情況下，獲取使用周長尺測量的所述圈盤貼合時圈盤各尺寸階層的周長；

在所述圈盤處于撐開狀態，且圈盤的外表面與標準圈的內表面緊貼無縫隙的情況下，獲取使用內徑千分尺測量的圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度以及使用檢測臺自帶的數顯卡尺測量圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度，其中所述開度為所述圈盤處于撐開狀態時，圈盤之間相隔的距離；

根據所述圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度和所述圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度，得到圈盤開度的修正值；

根據所述圈盤各階層的周長、所述圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度以及所述圈盤開度的修正值，得到圈盤各尺寸階層周長的標準周長。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度和所述圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度，得到圈盤開度的修正值包括：

獲取圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度的平均值；

將所述圈盤各尺寸階層的兩邊緣處開度的平均值減去對應的所述圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度，得到圈盤各尺寸階層的開度偏差值；

將圈盤各尺寸階層的開度偏差值平均，獲取圈盤開度的修正值。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，根據所述圈盤各階層的周長、所述圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度以及所述圈盤開度的修正值，得到圈盤各尺寸階層周長的標準周長包括：

根據公式圈盤各尺寸階層周長的標準周長=圈盤各尺寸階層的周長+2×(a+K1），其中a為圈盤開度的修正值，K1為所述圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，獲取使用周長尺測量的所述圈盤貼合時圈盤各尺寸階層的周長包括：獲取使用分度值為0.02mm的周長尺測量的所述圈盤貼合時圈盤各尺寸階層的周長；

獲取使用內徑千分尺測量的圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度包括：獲取使用分度值為0.01mm的內徑千分尺測量的圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度。

5.根據權利要求1至4任意一項所述的方法，其特征在于，在獲取的使用檢測臺自帶數顯卡尺測量的圈盤的結合縫隙為零的情況下，圈盤的結合面貼緊無縫隙。

6.一種胎圈內周長檢測臺校準方法，其特征在于，包括：

應用如權利要求1-5任意一項所述的方法獲取圈盤各尺寸階層周長的標準周長；

將圈盤各尺寸階層周長的標準周長輸入校準設備，并使用圈盤各尺寸階層周長的標準周長測量標準圈；

判斷測量標準圈得到的測量值是否在允許誤差范圍內，如果是，將所述圈盤各尺寸階層周長的標準周長作為所述胎圈內周長檢測臺的標準值，否則，重新獲取圈盤各尺寸階層周長的標準周長。

7.一種胎圈內周長檢測臺圈盤周長的標準值計算裝置，其特征在于，該裝置包括：

第一獲取單元，用于在圈盤處于閉合狀態，且圈盤的結合面貼緊無縫隙的情況下，獲取使用周長尺測量的所述圈盤貼合時圈盤各尺寸階層的周長；

第二獲取單元，用于在圈盤處于撐開狀態，且圈盤的外表面與標準圈的內表面緊貼無縫隙的情況下，獲取使用內徑千分尺測量的圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度以及使用檢測臺自帶的數顯卡尺測量圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度，其中所述開度為所述圈盤處于撐開狀態時，圈盤之間相隔的距離；

第一計算單元，用于根據圈盤開度獲取單元獲取的圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度和圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度，得到圈盤開度的修正值；

第二計算單元，用于根據第一獲取單元獲取的圈盤各尺寸階層的周長、第二獲取單元獲取的圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度以及第一計算單元計算得到的圈盤開度的修正值，得到圈盤各尺寸階層周長的標準周長。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，第一計算單元包括：

第三計算單元，用于獲取圈盤各尺寸階層的兩邊緣處的開度的平均值；

第四計算單元，用于將第三計算單元計算得到的圈盤各尺寸階層的兩邊緣處開度的平均值減去對應的圈盤各尺寸階層的圓心之間的開度，得到圈盤各尺寸階層的開度偏差值；

第五計算單元，用于將第四計算單元計算得到的圈盤各尺寸階層的開度偏差值平均，獲取圈盤開度的修正值。