[發明專利]一種回收碳化硅中硅酸根離子含量的檢測方法無效
| 申請號： | 201210573885.5 | 申請日： | 2012-12-26 |
| 公開（公告）號： | CN103063540A | 公開（公告）日： | 2013-04-24 |
| 發明（設計）人： | 王彭;王祎 | 申請（專利權）人： | 江蘇大陽光輔股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N5/04 | 分類號： | G01N5/04 |
| 代理公司： | 江陰大田知識產權代理事務所(普通合伙) 32247 | 代理人： | 楊新勇 |
| 地址： | 214400 江蘇省無錫*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 回收 碳化硅 硅酸 離子 含量 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種回收碳化硅中硅酸根離子含量的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括以下步驟：
S1：取SiC?3g放入潔凈的鉑金皿在110℃～180℃溫度下烘干，潔凈的鉑金皿重量記作m1；
S2：將烘干后的固體粉末置于干燥皿中冷卻，取烘干后的固體粉末1g，記作m2，放入鉑金皿中，加約1ml純水潤濕；
S3：向鉑金皿中加入氟化氫濃度為40%的氫氟酸、濃度為95%～98%的濃硫酸、濃度為65%～68%的硝酸中的一種或兩種以上組合溶液1～25ml；
S4：將鉑金皿放置于砂浴爐中，升溫至200℃～500℃，保溫反應100～300min；?
S5：將鉑金皿從沙浴爐中取出，放置于馬弗爐中，升溫至750℃，保溫3～30min；?
S6：取出鉑金皿置于干燥皿中冷卻，稱量鉑金皿與鉑金皿中固體粉末總重量，記作m3；
S7：計算硅酸根離子含量：回收砂漿碳化硅中硅酸根離子質量百分比=（m1+m2-m3）/?m2?*100%。
2.根據權利要求1所述的回收碳化硅中硅酸根離子含量的檢測方法，其特征在于，所述S1中烘干溫度為110℃～160℃。
3.根據權利要求1所述的回收碳化硅中硅酸根離子含量的檢測方法，其特征在于，所述S1中烘干時間為3h～5h。
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