[發(fā)明專利]一種奇數(shù)齒或花鍵大徑的測量方法及測量設(shè)備

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210570651.5
• 申請日: 2012-12-25
• 公開（公告）號: CN103033115A
• 公開（公告）日: 2013-04-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳海艷;王英惠
• 申請（專利權(quán)）人: 江蘇森威集團(tuán)飛達(dá)股份有限公司
• 主分類號: G01B5/08
• 分類號: G01B5/08
• 代理公司: 無錫互維知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32236
• 代理人: 王愛偉

1.一種奇數(shù)齒或花鍵大徑的測量方法，其特征在于：按照如下的計(jì)算公式進(jìn)行測量其大徑，即h值的：

h=r*tgαcosα(tgα-tgα2);]]>

其中，r為奇數(shù)齒或花鍵外廓圓的半徑，α為180°/Z，Z為奇數(shù)齒的齒數(shù)。

2.如權(quán)利要求1所述的奇數(shù)齒或花鍵大徑的測量方法，其特征在于：測量h值必須滿足以下兩個(gè)基本條件：

1)測量時(shí)兩曲面相接觸點(diǎn)必須有公法線；

2)靜態(tài)下測量時(shí)必須滿足力學(xué)上的靜平衡條件即力平衡和力矩平衡。

3.一種依照如權(quán)利要求1所述的測量方法的測量設(shè)備，包括主尺部件以及測量部件，所述測量部件包括外測量端和內(nèi)測量端，其特征在于：所述外測量端或內(nèi)測量端設(shè)置為帶有一定凹陷角度的測量端，所述一定凹陷角度為180°-360°/Z，其中，Z為奇數(shù)齒的齒數(shù)。

4.如權(quán)利要求3所述的測量設(shè)備，其特征在于：所述主尺部件的刻度根據(jù)進(jìn)行設(shè)定，其中，α為180°/Z，Z為奇數(shù)齒的齒數(shù)。

5.如權(quán)利要求3所述的測量設(shè)備，其特征在于：所述主尺部件為游標(biāo)卡尺結(jié)構(gòu)。

6.如權(quán)利要求5所述的測量設(shè)備，其特征在于：所述游標(biāo)卡尺結(jié)構(gòu)為數(shù)顯卡尺結(jié)構(gòu)。

7.如權(quán)利要求3所述的測量設(shè)備，其特征在于：所述主尺部件為外徑千分尺結(jié)構(gòu)。

8.如權(quán)利要求7所述的測量設(shè)備，其特征在于：所述外徑千分尺結(jié)構(gòu)為數(shù)顯卡尺結(jié)構(gòu)。

9.如權(quán)利要求7所述的測量設(shè)備，其特征在于：所述主尺部件的螺距根據(jù)進(jìn)行設(shè)定，其中，α為180°/Z，Z為奇數(shù)齒的齒數(shù)。