[發明專利]一種奇數齒或花鍵大徑的測量方法及測量設備

無效

• 申請號: 201210570651.5
• 申請日: 2012-12-25
• 公開（公告）號: CN103033115A
• 公開（公告）日: 2013-04-10
• 發明（設計）人: 吳海艷;王英惠
• 申請（專利權）人: 江蘇森威集團飛達股份有限公司
• 主分類號: G01B5/08
• 分類號: G01B5/08
• 代理公司: 無錫互維知識產權代理有限公司 32236
• 代理人: 王愛偉

技術領域

本發明涉及一種用于測量待測量的奇數齒輪或花鍵大徑的測量方法及其相應的測量設備。

背景技術

三坐標即三坐標測量機，是指在三維可測的空間范圍內，能夠根據測頭系統返回的點數據，通過三坐標的軟件系統計算各類幾何形狀、尺寸等測量能力的儀器，又稱為三坐標測量儀或三坐標量床。

現在各行業中對奇數齒輪大徑的測量，由于無法使用通用量具如游標卡尺、外徑千分尺等進行測量，一般需采用三座標測量，而三座標需在專門的場所，且測量效率低、成本較高，從而直接影響了現場的生產。

發明內容

鑒于上述現有技術存在的問題，提出了本發明。

因此，本發明要解決的其中之一的技術問題是，如何對現有技術中測量奇數齒輪大徑的方法進行改進，使其能夠實現生產現場的快速測量。

為解決上述技術問題，本發明提供了如下技術方案：

一種奇數齒或花鍵大徑的測量方法，按照如下的計算公式進行測量其大徑，即h值的：

h=r*tgαcosα(tgα-tgα2);]]>

其中，r為奇數齒或花鍵外廓圓的半徑，α為180°/Z，Z為奇數齒的齒數。

作為本發明所述奇數齒或花鍵大徑的測量方法的一種優選方案，其中：測量h值必須滿足以下兩個基本條件：

1)測量時兩曲面相接觸點必須有公法線；

2)靜態下測量時必須滿足力學上的靜平衡條件即力平衡和力矩平衡。

另外，本發明進一步要解決的技術問題是，如何利用奇數齒或花鍵大徑的測量方法對現有測量工具進行改進的問題。

為解決上述技術問題，本發明提供了如下技術方案：一種依照奇數齒或花鍵大徑的測量方法的測量設備，包括主尺部件以及測量部件，所述測量部件包括外測量端和內測量端，所述外測量端或內測量端設置為帶有一定凹陷角度的測量端，所述一定凹陷角度為180°-360°/Z，其中，Z為奇數齒的齒數。

作為本發明所述測量設備一種優選方案，其中：所述主尺部件的刻度根據進行設定，其中，α為180°/Z，Z為奇數齒的齒數。

作為本發明所述測量設備的一種優選方案，其中：所述主尺部件為游標卡尺結構。

作為本發明所述測量設備的一種優選方案，其中：所述游標卡尺結構為數顯卡尺結構。

作為本發明所述測量設備的一種優選方案，其中：所述主尺部件為外徑千分尺結構。

作為本發明所述測量設備的一種優選方案，其中：所述外徑千分尺結構為數顯卡尺結構。

作為本發明所述測量設備一種優選方案，其中：所述主尺部件的螺距根據進行設定，其中，α為180°/Z，Z為奇數齒的齒數。

本發明是利用三角函數關系解決奇數齒或奇數花鍵的大徑的直接測量的方法，利用此方法可以制造的游標卡尺結構，此游標卡尺中的刻度可以是標準刻度，也可以是表中1/Δ數值為刻度進行制造,從而可以直接進行測量，此游標卡尺結構可以是但不限于此結構，還可以是數顯卡尺結構；利用此方法還可以制造外徑千分尺結構，此外徑千分尺中的螺距可以是標準螺距，也可以是表中1/Δ數值為螺距進行制造,從而可以直接進行測量，此外徑千分尺結構可以是但不限于此結構，還可以是數顯結構。本發明能夠解決各種規格奇數齒輪、花鍵的大徑在生產現場的快速測量的問題，具有生產成本低、方便快捷等優點，極其適于生產應用。

附圖說明

圖1是本發明所述測量方法的數據關系示意圖。

圖2是本發明所述測量設備的一個實施例的示意圖。

圖3是本發明所述測量設備的另一個實施例的示意圖。

具體實施方式