[發明專利]一種粒徑小于50微米粉體的取樣方法無效
| 申請號: | 201210566687.6 | 申請日: | 2012-12-24 |
| 公開(公告)號: | CN103063468A | 公開(公告)日: | 2013-04-24 |
| 發明(設計)人: | 劉敏;楊樹燕;肖兵;韓永莉;李艷娜;姚曉玲;王小艷;王展展 | 申請(專利權)人: | 西安航天化學動力廠 |
| 主分類號: | G01N1/04 | 分類號: | G01N1/04;G01N15/02 |
| 代理公司: | 西北工業大學專利中心 61204 | 代理人: | 慕安榮 |
| 地址: | 710025 陜西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 粒徑 小于 50 微米 取樣 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種超細粉體取樣方法,特別是一種在實施取樣的時候,采用取樣勺取樣的取樣方法。
背景技術
超細粉體的研究,對于如何得到具有代表性的樣品是一大難題。
在實際操作過程中,要化驗的物料是大量的,其組成有的比較均勻,有的很不均勻。化驗時所稱取的分析試樣只是幾克,幾百毫克或更少,而分析結果必須能代表全部物料的平均組成,因此,仔細而正確的采取具有代表性的“平均試樣”,就具有極其重要的意義。一般說,采樣誤差常大于分析誤差,因此如果采樣不正確,分析結果就毫無意義,甚至給生產科研帶來很壞的后果。
對顆粒大小不均勻的超細粉體試樣,選取具有代表性的均勻試樣是一項較為復雜的操作。為了采取的試樣具有代表性,必須按一定的程序,自物料的各個不同部位,取出一定數量大小不同的顆粒,取出的分數越多,試樣的組成與被分析物料的平均組成越接近。但考慮以后在試樣處理上所花費的人力、物力等,應該以選用能達到預期準確度的最節約的采樣量為原則。
目前,超細粉體的取樣方法有多種,取樣工具以管式采樣器為主,采樣方法為:桶內45℃角,兩側對稱取樣。還有定量取樣器、螺旋絞刀取樣器,自動連續取樣器、水泥取樣器,、閉合式取樣器等多種,但因超細粉體的流動性差,這幾種采樣器對超細粉體的適用性低。且超細粉體多為易燃易爆粉體,安全性差。故目前在生產過程中,多采用人工隨手取樣的方式,由于物料量大,取樣點的設置沒有規定,因此取得具有代表性的試樣非常困難。因此確定一種簡便、安全易使用的取樣工具,確定一種多點取樣的方法是在超細粉體生產,特別是易燃易爆粉體生產的采樣方法是勢在必行的。
發明內容
為克服現有技術中存在的取樣點隨意,試樣具備代表性的不足,本發明提出了一種粒徑小于50微米粉體的取樣方法。
本發明在取樣時,首先確定各取樣單元中的取樣點。所述的取樣點包括第一系列取樣點和第二系列取樣點,并且第一系列取樣點和第二系列取樣點之間呈十字形交叉。具體是:
確定第一系列取樣點:
儲料容器口處取任意一點A,在儲料容器底部取一點B,并使所述儲料容器口處的A點與儲料容器底部的B點之間的連線為對角線。分別以A點、B點,以及AB連線上的1/4點、1/2點和3/4點為取料點。
確定第二系列取樣點:
儲料容器口處取一點C,該C點與第一系列取樣點中的A點之間的角度為90°;在儲料容器底部取一點D。C點與D點之間的連線為對角線。分別以C點、D點,以及CD連線上的1/4點和3/4點為取料點。
確定各取樣點后,用取樣勺依次進行取樣。對取得的試樣按常規方法進行制樣、測試。
本發明提供了一種超細粉體的取樣方法,通過采用取樣勺取樣法對超細粉體實施取樣;取樣點按照確定的多點取樣部位進行取樣試樣,以取得具有代表性的試樣。該方法克服了現有超細粉體的取樣技術缺乏代表性、實施困難、存在安全隱患的不足,確保超細粉體的取樣代表性、使用方便及安全。
本方法取樣工具為不銹鋼取樣勺,安全性能高,是一種直接、簡單、安全、適用性廣、操作簡單的超細粉體取樣工具。為了驗證取樣勺的取樣效果,將白色的粉體盛裝在容器的底部,上面覆蓋黑色煤灰,用取樣勺采取底部的粉體,取上的物料是覆蓋少量一層煤灰的白色超細粉體,通過多次取樣實驗,證明該方法取樣代表性好。
為了驗證本發明的效果,對粉體抽取試樣進行粒度測試。同一人員對同一桶物料進行多次取樣,進行粒度測試,測試結果見表1。不同人員對同一桶物料進行單次取樣,進行粒度測試,測試結果見表2。
表1對同一桶粉碎產品五次取樣的粒度結果
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