[發(fā)明專利]一種粒徑小于50微米粉體的取樣方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210566687.6 | 申請(qǐng)日: | 2012-12-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103063468A | 公開(公告)日: | 2013-04-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉敏;楊樹燕;肖兵;韓永莉;李艷娜;姚曉玲;王小艷;王展展 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安航天化學(xué)動(dòng)力廠 |
| 主分類號(hào): | G01N1/04 | 分類號(hào): | G01N1/04;G01N15/02 |
| 代理公司: | 西北工業(yè)大學(xué)專利中心 61204 | 代理人: | 慕安榮 |
| 地址: | 710025 陜西*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 粒徑 小于 50 微米 取樣 方法 | ||
1.一種粒徑小于50微米粉體的取樣方法,其特征在于,
取樣時(shí),首先確定各取樣單元中的取樣點(diǎn);所述的取樣點(diǎn)包括第一系列取樣點(diǎn)和第二系列取樣點(diǎn),并且第一系列取樣點(diǎn)和第二系列取樣點(diǎn)之間呈十字形交叉;確定各取樣點(diǎn)后,用不銹鋼取樣勺依次進(jìn)行取樣。
2.如權(quán)利要求1所述一種粒徑小于50微米粉體的取樣方法,其特征在于,所述第一系列取樣點(diǎn)是在儲(chǔ)料容器口處取任意一點(diǎn)A,在儲(chǔ)料容器底部取一點(diǎn)B,并使所述儲(chǔ)料容器口處的A點(diǎn)與儲(chǔ)料容器底部的B點(diǎn)之間的連線為對(duì)角線;分別以A點(diǎn)、B點(diǎn),以及AB連線上的1/4點(diǎn)、1/2點(diǎn)和3/4點(diǎn)為取料點(diǎn)。
3.如權(quán)利要求1所述一種粒徑小于50微米粉體的取樣方法,其特征在于,所述第二系列取樣點(diǎn)是在儲(chǔ)料容器口處取一點(diǎn)C,該C點(diǎn)與第一系列取樣點(diǎn)中的A點(diǎn)之間的角度為90°;在儲(chǔ)料容器底部取一點(diǎn)D;C點(diǎn)與D點(diǎn)之間的連線為對(duì)角線;分別以C點(diǎn)、D點(diǎn),以及CD連線上的1/4點(diǎn)和3/4點(diǎn)為取料點(diǎn)。
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