[發明專利]晶體管篩選儀校準裝置

有效

• 申請號: 201210562978.8
• 申請日: 2012-12-21
• 公開（公告）號: CN103048636A
• 公開（公告）日: 2013-04-17
• 發明（設計）人: 王榮
• 申請（專利權）人: 深圳深愛半導體股份有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 吳平

技術領域

本發明涉及儀器校準領域，特別是涉及一種晶體管篩選儀校準裝置。

背景技術

隨著電子技術的發展，晶體管在電路中的應用十分廣泛。在使用晶體管時通常要知道晶體管是否可用以及晶體管的各種特征參數，所以使用前一般會使用晶體管篩選儀對晶體管進行篩選。

晶體管篩選儀使用時，要保證其本身的測試精度的準確性，所以一般在晶體管篩選儀使用一段時間后需要對其進行校準。因晶體管篩選儀是非標準儀器，法定的計量機構目前無法檢定或校準，一般使用一定數量幾種不同類型的標準晶體管作為標準對晶體管篩選儀手工進行測量和記錄。

對晶體管篩選儀進行手工校準比較耗時間，效率低，平均每個測量參數測試時間在1分鐘以上；手工進行校準的測量精度較低，由于是人工進行測量，多人進行測量時的個體差異較大，重復性差。

發明內容

基于此，有必要針對手工進行校準時好事、效率低、個體差異大等問題，提供一種效率高、速度快且精度高的晶體管篩選儀校準裝置。

一種晶體管篩選儀校準裝置，用于對晶體管篩選儀進行校準，包括：

標準晶體管載體，連接有第一數量不同規格的標準晶體管，且具有一一對應每一個標準晶體管的基極和發射極的觸點；

第一選擇開關，包括通過總線與所述基極觸點連接的基極開關選擇組及對應的基極選擇鍵，和通過總線與所述發射極觸點連接的發射極開關選擇組及對應的發射極選擇鍵；

三個接線柱，分別為與所述基極選擇鍵連接的基極接線柱、與所述發射極選擇鍵連接的發射極接線柱以及與所有標準晶體管的集電極連接的集電極接線柱；所述基極接線柱、發射極接線柱以及集電極接線柱用于分別連接所述晶體管校準儀的三個檢測探針。

在其中一個實施例中，所述基極開關選擇組包括第一數量基極選擇級，每個基極選擇級分別對應所述第一數量不同規格的標準晶體管的基極觸點；

所述發射極開關選擇組包括第一數量發射極選擇級，每個發射極選擇級分別對應所述第一數量不同規格的標準晶體管的發射極觸點。

在其中一個實施例中，所述基極開關選擇組與所述發射極開關選擇組同級選擇，所述基極選擇鍵接通所述一種規格的標準晶體管的基極引腳時，所述發射極選擇鍵接通相應標準晶體管的發射極引腳。

在其中一個實施例中，所述第一數量為6-10。

在其中一個實施例中，包括第二數量的標準晶體管載體，每個標準晶體管載體連接第一數量的同種型號的標準晶體管。

在其中一個實施例中，還包括第二選擇開關，所述第二選擇開關用于選擇一種型號的標準晶體管，在所述第二選擇開關選擇所述一種型號的標準晶體管后，所述第一選擇開關選擇所述型號的標準晶體管中的一個標準晶體管。

在其中一個實施例中，所述第二選擇開關包括基極選組單元和發射極選組單元；

所述基極選擇單元包括第二數量的基極選組觸點和基極選組鍵，所述基極選組鍵連接所述基極接線柱，每個基極選組觸點通過第一選擇開關的基極選擇鍵連接每個標準晶體管載體連接的標準晶體管的基極觸點；

所述發射極選擇單元包括第二數量的發射極選組觸點和發射極選組鍵，所述發射極選組鍵連接所述發射極接線柱，每個發射極選組觸點通過第一選擇開關的發射極選擇鍵連接每個標準晶體管載體連接的標準晶體管的基極觸點。

在其中一個實施例中，對應同一型號標準晶體管的基極選擇單元和發射極選擇單元同級選擇，所述基極選組鍵連接對應一種型號標準晶體管的基極選組觸點時，所述發射極選組鍵選擇連接對應同種型號標準晶體管的發射極選組觸點。

在其中一個實施例中，所述第二數量為3-5。

上述晶體管篩選儀校準裝置，通過標準晶體管載體將進行晶體管篩選儀校準的標準晶體管進行封裝，在測試時，通過第一選擇開關選擇不同的標準晶體管進行校準。通過使用該晶體管篩選儀校準裝置進行校準避免了手工進行校準時測試速度慢、效率低且人工測量會有個體差異導致測量數據誤差的問題，加快測量速度、提高測量效率且測量精度高重復性好。

附圖說明

圖1為本發明一實施例晶體管篩選儀校準裝置示意圖；

圖2為本發明另一實施例晶體管篩選儀校準裝置示意圖。

具體實施方式