[發明專利]晶體管篩選儀校準裝置

有效

• 申請號: 201210562978.8
• 申請日: 2012-12-21
• 公開（公告）號: CN103048636A
• 公開（公告）日: 2013-04-17
• 發明（設計）人: 王榮
• 申請（專利權）人: 深圳深愛半導體股份有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 吳平

1.一種晶體管篩選儀校準裝置，用于對晶體管篩選儀進行校準，其特征在于，包括：

標準晶體管載體，連接有第一數量不同規格的標準晶體管，且具有一一對應每一個標準晶體管的基極和發射極的觸點；

第一選擇開關，包括通過總線與所述基極觸點連接的基極開關選擇組及對應的基極選擇鍵，和通過總線與所述發射極觸點連接的發射極開關選擇組及對應的發射極選擇鍵；

三個接線柱，分別為與所述基極選擇鍵連接的基極接線柱、與所述發射極選擇鍵連接的發射極接線柱以及與所有標準晶體管的集電極連接的集電極接線柱；所述基極接線柱、發射極接線柱以及集電極接線柱用于分別連接所述晶體管校準儀的三個檢測探針。

2.根據權利要求1所述的晶體管篩選儀校準裝置，其特征在于，

所述基極開關選擇組包括第一數量基極選擇級，每個基極選擇級分別對應所述第一數量不同規格的標準晶體管的基極觸點；

所述發射極開關選擇組包括第一數量發射極選擇級，每個發射極選擇級分別對應所述第一數量不同規格的標準晶體管的發射極觸點。

3.根據權利要求2所述的晶體管篩選儀校準裝置，其特征在于，所述基極開關選擇組與所述發射極開關選擇組同級選擇，所述基極選擇鍵接通所述一種規格的標準晶體管的基極引腳時，所述發射極選擇鍵接通相應標準晶體管的發射極引腳。

4.根據權利要求1所述的晶體管篩選儀校準裝置，其特征在于，所述第一數量為6-10。

5.根據權利要求1所述的晶體管篩選儀校準裝置，其特征在于，包括第二數量的標準晶體管載體，每個標準晶體管載體連接第一數量的同種型號的標準晶體管。

6.根據權利要求5所述的晶體管篩選儀校準裝置，其特征在于，還包括第二選擇開關，所述第二選擇開關用于選擇一種型號的標準晶體管，在所述第二選擇開關選擇所述一種型號的標準晶體管后，所述第一選擇開關選擇所述型號的標準晶體管中的一個標準晶體管。

7.根據權利要求6所述的晶體管篩選儀校準裝置，其特征在于，所述第二選擇開關包括基極選組單元和發射極選組單元；

所述基極選擇單元包括第二數量的基極選組觸點和基極選組鍵，所述基極選組鍵連接所述基極接線柱，每個基極選組觸點通過第一選擇開關的基極選擇鍵連接每個標準晶體管載體連接的標準晶體管的基極觸點；

所述發射極選擇單元包括第二數量的發射極選組觸點和發射極選組鍵，所述發射極選組鍵連接所述發射極接線柱，每個發射極選組觸點通過第一選擇開關的發射極選擇鍵連接每個標準晶體管載體連接的標準晶體管的基極觸點。

8.根據權利要求7所述的晶體管篩選儀校準裝置，其特征在于，對應同一型號標準晶體管的基極選擇單元和發射極選擇單元同級選擇，所述基極選組鍵連接對應一種型號標準晶體管的基極選組觸點時，所述發射極選組鍵選擇連接對應同種型號標準晶體管的發射極選組觸點。

9.根據權利要求5所述的晶體管篩選儀校準裝置，其特征在于，所述第二數量為3-5。