[發明專利]一種GaN基白光倒裝芯片的制備方法有效
| 申請號: | 201210561072.4 | 申請日: | 2012-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN103887218B | 公開(公告)日: | 2018-03-09 |
| 發明(設計)人: | 封波;趙漢民;孫錢;彭翔 | 申請(專利權)人: | 晶能光電(常州)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683;H01L33/48;H01L33/50;H01L33/00 |
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| 搜索關鍵詞: | 一種 gan 白光 倒裝 芯片 制備 方法 | ||
技術領域
本發明涉及半導體發光器件的制備工藝。更具體而言,本發明涉及采用兩次襯底轉移工藝制備GaN基白光倒裝芯片的方法。
背景技術
GaN基LED倒裝芯片由于其電流擴散均勻,散熱好的特點,使其可以在較大的電流密度下工作,而且發光效率基本不受影響。此外還具有封裝工藝簡單,直接共晶焊封裝,不需要焊線的優點。目前越多越多的科研人員致力于LED倒裝芯片的研究,各大LED公司都相繼推出了倒裝芯片產品。目前所有商業化的GaN基LED倒裝芯片產品都不能直接發出白光,如果要做成發出白光的芯片,需要在芯片封裝時涂覆熒光粉。LED倒裝芯片對襯底的要求是必須透明、不吸光,主流的透明襯底是藍寶石和碳化硅。硅襯底由于具備制造工藝成熟,可以做大尺寸且成本相對低廉的特點,目前已經被公認為是除藍寶石和碳化硅之外的可以用于生長GaN基LED的襯底之一。但是硅襯底不透光,硅上生長的GaN基LED如果直接做成倒裝芯片的話,其所發出來的光基本上全部被硅襯底吸收,因此不能享受倒裝芯片電流擴散均勻、散熱好、封裝工藝簡單的優勢。本發明不但解決了GaN基LED倒裝芯片對生長襯底的限制,而且可以使其直接發出白光。
發明內容
本發明要解決的技術問題是GaN基LED倒裝芯片不能直接發出白光,以及其對生長襯底的限制。
為解決上述技術問題,本發明提出一種GaN基白光倒裝芯片的制備方法,包括以下步驟:在生長襯底上依次生長緩沖層、n型GaN層、活性層、p型GaN層,形成GaN基半導體多層結構;在所述半導體多層結構上制備P、N電極,所述P、N電極在半導體多層結構的同一側,且通過不導電的介質膜隔離開;在所述半導體多層結構上涂第一膠,與第一臨時基板進行固化;將所述生長襯底剝離掉;在剝離后暴露的半導體多層結構表面涂第二膠,與永久支撐基板結合;去掉第一臨時基板和第一膠;其中所述永久支撐基板為摻了熒光粉的陶瓷或玻璃透明基板。
作為本發明的優選方案,其中所述生長襯底為硅、藍寶石、SiC中的任意一種。
作為本發明的優選方案,其中所述半導體多層結構上還蒸鍍有導電反射復合金屬層,并對所述導電反射復合金屬層進行合金處理,合金溫度為300-600℃。
作為本發明的優選方案,其中所述第一膠為一種高溫環氧樹脂改性膠或邦定膠或UV膠
作為本發明的優選方案,其中所述第一膠的固化后邵氏硬度80—100D,耐溫度范圍-25—300℃,拉彎強度80--120MPa,壓縮強度200—300MPa。
作為本發明的優選方案,其中所述第一膠的厚度為50-500微米,固化溫度為80-160℃,固化時間為30-120分鐘。
作為本發明的優選方案,所述第一臨時基板的材質為硅、藍寶石、玻璃或陶瓷中的任意一種。
作為本發明的優選方案,所述襯底剝離的方法為濕法腐蝕、機械研磨、激光剝離中的一種或多種。
作為本發明的優選方案,在所述剝離后暴露的半導體多層結構表面涂第二膠之前,對其做粗化處理。
作為本發明的優選方案,其中所述第二膠為硅膠、UV膠、環氧樹脂改性膠中的任意一種。
作為本發明的優選方案,其中所述第二膠的耐溫范圍-55-+200℃,拉伸強度60-100MPa,拉彎強度105-200MPa。
作為本發明的優選方案,其中所述第二膠的厚度為5-30微米,固化溫度120—180℃,固化時間10—60分鐘。
作為本發明的優選方案,其中所述結合方式為加熱固化、UV光固化中的任意一種。
本發明的有益效果如下:
本發明采用兩次轉移外延層的方法,解除了GaN基倒裝芯片對生長襯底的限制,任何襯底生長的GaN外延層,均可以做成倒裝芯片;同時將半導體多層結構固定在摻了熒光粉的透明永久支撐基板上,使倒裝芯片直接發出白光。這樣可以降低封裝成本、提高封裝良率。
附圖說明
圖1a-1g為本發明一個實施例的制造過程的示意圖。
圖2a-2g為本發明另一個實施例的制造過程的示意圖。
圖中標識說明:
硅襯底101,n型GaN層102,活性層103,p型GaN層104,Ag層105,多層金屬膜106,介質膜107,P電極108,N電極109,第一膠110,第一臨時基板111,第二膠112,永久支撐基板113。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





