[發(fā)明專利]一種GaN基白光倒裝芯片的制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210561072.4 | 申請日: | 2012-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN103887218B | 公開(公告)日: | 2018-03-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 封波;趙漢民;孫錢;彭翔 | 申請(專利權(quán))人: | 晶能光電(常州)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683;H01L33/48;H01L33/50;H01L33/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 213164 江蘇省常*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 gan 白光 倒裝 芯片 制備 方法 | ||
1.一種GaN基白光倒裝芯片的制備方法,包括:
在生長襯底上依次生長緩沖層、n型GaN層、活性層、p型GaN層,形成GaN基半導(dǎo)體多層結(jié)構(gòu);
在所述半導(dǎo)體多層結(jié)構(gòu)上制備P、N電極,所述P、N電極在半導(dǎo)體多層結(jié)構(gòu)的同一側(cè),且通過不導(dǎo)電的介質(zhì)膜隔離開;
在所述半導(dǎo)體多層結(jié)構(gòu)上涂第一膠,與第一臨時基板進行固化;所述第一膠的固化后邵氏硬度80—100D,耐溫度范圍-25—300℃,拉彎強度80--120MPa,壓縮強度200—300MPa;
將所述生長襯底剝離掉;
在剝離后暴露的半導(dǎo)體多層結(jié)構(gòu)表面涂第二膠,與永久支撐基板結(jié)合;所述第二膠的耐溫范圍-55-+200℃,拉伸強度60-100MPa,拉彎強度105-200MPa;
去掉第一臨時基板和第一膠;
其中所述永久支撐基板為摻了熒光粉的陶瓷或玻璃透明基板。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的GaN基白光倒裝芯片的制備方法,其特征在于:所述生長襯底為硅、藍寶石、SiC中的任意一種。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的GaN基白光倒裝芯片的制備方法,其特征在于:所述半導(dǎo)體多層結(jié)構(gòu)上還蒸鍍有導(dǎo)電反射復(fù)合金屬層,并對所述導(dǎo)電反射復(fù)合金屬層進行合金處理,合金溫度為300-600℃。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的GaN基白光倒裝芯片的制備方法,其特征在于:所述第一膠為高溫環(huán)氧樹脂改性膠或邦定膠或UV膠中的任意一種。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的GaN基白光倒裝芯片的制備方法,其特征在于:所述第一膠的厚度為50-500微米,固化溫度為80-160℃,固化時間為30-120分鐘。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的GaN基白光倒裝芯片的制備方法,其特征在于:所述第一臨時基板的材質(zhì)為硅、藍寶石、玻璃或陶瓷中的任意一種。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的GaN基白光倒裝芯片的制備方法,其特征在于:所述襯底剝離的方法為濕法腐蝕、機械研磨、激光剝離中的一種或多種。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的GaN基白光倒裝芯片的制備方法,其特征在于:在所述剝離后暴露的半導(dǎo)體多層結(jié)構(gòu)表面涂第二膠之前,對其做粗化處理。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或8所述的GaN基白光倒裝芯片的制備方法,其特征在于:所述第二膠為硅膠、UV膠、環(huán)氧樹脂改性膠中的任意一種。
10.根據(jù)權(quán)利要求1或8所述的GaN基白光倒裝芯片的制備方法,其特征在于:其中所述第二膠的厚度為5-30微米,固化溫度120—180℃,固化時間10—60分鐘。
11.根據(jù)權(quán)利要求1或8所述的GaN基白光倒裝芯片的制備方法,其特征在于:所述結(jié)合方式為加熱固化、UV光固化中的任意一種。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





