[發(fā)明專利]定位方法及定位裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210559208.8
• 申請(qǐng)日: 2012-12-20
• 公開（公告）號(hào): CN103064085A
• 公開（公告）日: 2013-04-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄭文達(dá);吳礎(chǔ)任
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01S17/06
• 分類號(hào): G01S17/06
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 胡海國(guó)

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及定位技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種用于液晶面板制程中的定位方法及定位裝置。?

背景技術(shù)

在TFT陣列基板的制程中，需要測(cè)量TFT陣列基板的信號(hào)線的寬度，以保證TFT陣列基板的質(zhì)量。現(xiàn)有技術(shù)中，在測(cè)量陣列基板的信號(hào)線之前，一般先由激光定位裝置對(duì)TFT陣列基板進(jìn)行定位，使測(cè)量裝置能獲取更清楚的圖片，提高測(cè)量的準(zhǔn)確度。

目前的激光定位裝置在對(duì)TFT陣列基板進(jìn)行定位時(shí)，由激光定位裝置的激光發(fā)射器向TFT陣列上預(yù)先確定的待定位點(diǎn)發(fā)射光束，發(fā)射的光束經(jīng)待定位點(diǎn)反射后形成反射光束，接收器則接收該反射光束來(lái)確定待定位點(diǎn)的高度信息，然后根據(jù)定位點(diǎn)的高度信息調(diào)整TFT陣列基板的高度，使TFT陣列基板處于最適合測(cè)量裝置進(jìn)行測(cè)量的高度。

然而由于在進(jìn)行定位時(shí)，TFT陣列基板上已形成多個(gè)元件，使TFT陣列基板的表面凹凸不平，并且有時(shí)TFT陣列基板表面也會(huì)存在各種雜質(zhì)，若待定位點(diǎn)的表面凹凸不平或者有雜質(zhì)，則會(huì)導(dǎo)致照射到待定位點(diǎn)上的光束反射后呈散射狀態(tài)，使得反射光束投射于接收器范圍之外，導(dǎo)致接收器不能接收到待定位點(diǎn)的反射光束，從而導(dǎo)致定位失敗。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種定位方法及定位裝置，旨在提高定位的成功率。

為達(dá)以上目的，本發(fā)明提出一種定位方法，包括步驟：

向待定位點(diǎn)和輔助定位點(diǎn)發(fā)射光束；

接收發(fā)射的光束經(jīng)待定位點(diǎn)和輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束；

判斷是否接收到所述待定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束；

若是，則根據(jù)所述待定位點(diǎn)或輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束確定所述待定位點(diǎn)的高度信息；

若否，則根據(jù)所述輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束確定所述待定位點(diǎn)的高度信息。

優(yōu)選地，所述根據(jù)所述待定位點(diǎn)或輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束確定該待定位點(diǎn)的高度信息包括：

判斷接收到的所述待定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束是否有效；

若有效，則根據(jù)所述待定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束確定該待定位點(diǎn)的高度信息；

若無(wú)效，則根據(jù)所述輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束確定所述待定位點(diǎn)的高度信息。

優(yōu)選地，所述根據(jù)所述輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束確定所述待定位點(diǎn)的高度信息包括：

根據(jù)所述輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的有效反射光束確定所述待定位點(diǎn)的高度信息。

優(yōu)選地，所述根據(jù)反射光束確定所述待定位點(diǎn)的高度信息包括：

記錄所述待定位點(diǎn)和輔助定位點(diǎn)的投射位置；

根據(jù)所述投射位置確定所述待定位點(diǎn)的高度信息。

優(yōu)選地，所述向待定位點(diǎn)和輔助定位點(diǎn)發(fā)射光束的步驟之前還包括：

確定所述待定位點(diǎn)；

確定所述輔助定位點(diǎn)，且該輔助定位點(diǎn)以所述待定位點(diǎn)為中心對(duì)稱設(shè)置。

本發(fā)明同時(shí)提出一種定位裝置，包括：

發(fā)射器，用于向待定位點(diǎn)和輔助定位點(diǎn)發(fā)射光束；

接收器，用于接收發(fā)射器發(fā)射的光束經(jīng)待定位點(diǎn)和輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束；

判斷模塊，判斷所述接收器是否接收到所述待定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束；

計(jì)算模塊，用于接收判斷模塊的判斷結(jié)果，若接收到的判斷結(jié)果為是時(shí)，則根據(jù)待定位點(diǎn)或輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束確定所述待定位點(diǎn)的高度信息；若接收到的判斷結(jié)果為否時(shí)，則根據(jù)輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束確定所述待定位點(diǎn)的高度信息。

優(yōu)選地，所述判斷模塊還用于判斷所述接收器接收到的所述待定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束是否有效，并將判斷結(jié)果發(fā)送至所述計(jì)算模塊；

所述計(jì)算模塊接收到判斷結(jié)果為有效時(shí)，則根據(jù)待定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束確定該待定位點(diǎn)的高度信息；計(jì)算模塊接收到判斷結(jié)果為無(wú)效時(shí)，則根據(jù)輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束確定所述待定位點(diǎn)的高度信息。

優(yōu)選地，所述判斷模塊還用于判斷所述接收器接收到的輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束是否有效，并將判斷結(jié)果發(fā)送至所述計(jì)算模塊；

所述計(jì)算模塊根據(jù)輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束確定所述待定位點(diǎn)的高度信息時(shí)，則選擇所述輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的有效反射光束確定所述待定位點(diǎn)的高度信息。

優(yōu)選地，所述接收器還用于記錄所述待定位點(diǎn)和輔助定位點(diǎn)反射回來(lái)的反射光束在接收器上的投射位置，所述計(jì)算模塊根據(jù)所述投射位置確定所述待定位點(diǎn)的高度信息。

優(yōu)選地，所述定位裝置還包括確定模塊，該確定模塊用于確定待定位點(diǎn)和輔助定位點(diǎn)，所述輔助定位點(diǎn)以所述待定位點(diǎn)為中心對(duì)稱設(shè)置。