[發明專利]一種低關斷態電流晶體管電路有效
| 申請號: | 201210548838.5 | 申請日: | 2012-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN103066976A | 公開(公告)日: | 2013-04-24 |
| 發明(設計)人: | 蘇強;奕江濤 | 申請(專利權)人: | 廣州慧智微電子有限公司 |
| 主分類號: | H03K17/687 | 分類號: | H03K17/687 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 510663 廣東省廣州市高新技術產業*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 低關斷態 電流 晶體管 電路 | ||
技術領域
本發明涉及一種半導體集成電路,特別涉及一種低關斷態電流電路。
背景技術
隨著集成電路技術的飛速發展,集成電路的特征尺寸迅速減小,這帶來了諸多優點,如增大集成電路的集成度、減小電路的時延、降低集成電路的成本等,但是這同時也帶來了一些問題。一個較為普遍的問題是:當集成電路的特征尺寸減小后,其中晶體管的閾值電壓減小,這樣當晶體管的柵極源極電壓差為0、晶體管處于關斷態時,晶體管的關斷態電流增大。
低功耗集成電路是近年快速發展的集成電路領域,特別是在工業控制、醫療等應用領域,低功耗集成電路有著廣闊的發展前景。低功耗集成電路要求晶體管的關斷態電流非常小,這樣才不會影響其長達數月、甚至數年的待機時間。而集成電路的特征尺寸減小后,晶體管的關斷態電流增大就和低功耗集成電路的需求產生了矛盾。
一般情況下,可以通過增大晶體管的溝道長度L可以減小晶體管的關斷態電流。如圖1中常見的晶體管關斷態電路,開關S1閉合導通時,NMOS晶體管N1的柵極和源極短路,其柵極和源極電壓差為0,此時NMOS晶體管N1處于關斷態;增大NMOS晶體管N1的溝道長度L,可以增大載流子在溝道區的漂移長度,從而減小NMOS晶體管N1關斷態電流。但是,增大晶體管的溝道長度L勢必造成晶體管尺寸的增大,進而造成集成電路總尺寸的增大,并增加集成電路的單片成本。
發明內容
本發明提出了一種低關斷態電流晶體管電路。此電路中第一晶體管(100)和晶體管串(102)中所有晶體管的溝道長度總和Ltot和單一晶體管溝道長度L一樣時(即面積相等時),此電路有著更低的關斷態電流。
為實現以上功能,本發明采取如下技術方案:
一種低關斷態電流晶體管電路,如圖2所示,包括第一晶體管(100),其特征為柵極接節點(A),源極和體區接節點(B),漏極接節點(D);包括晶體管串(102),其特征為晶體管串(102)的柵極接節點(A),晶體管串(102)的源極接節點(D),晶體管串(102)的漏極接節點(E);包括開關(104),其特征為開關(104)一端接節點(A)、另一端接節點(B),開關(104)的開關控制端為節點(C);節點(A)、節點(E)為本電路和其他電路的互連節點;節點(B)接公共端,公共端可以是電源VDD,也可以是地線。
如圖3所示,第一晶體管(100)可以由NMOS晶體管(200)來實現,也可以由PMOS晶體管(202)來實現。當第一晶體管(100)由NMOS晶體管(200)實現時,節點(B)接公共端地線;當第一晶體管(100)由PMOS晶體管(202)實現時,節點(B)接公共端電源VDD。
如圖4所示,晶體管串(102)可以由NMOS晶體管構成,也可以由PMOS晶體管構成,其類型由第一晶體管(100)的實現方式決定:當第一晶體管(100)由NMOS晶體管(200)實現時,晶體管串(102)由NMOS晶體管構成;當第一晶體管(100)由PMOS晶體管(202)實現時,晶體管串(102)由PMOS晶體管構成。晶體管串(102)中晶體管的數目為1至8個,分別命名為第二晶體管、第三晶體管、第四晶體管、第五晶體管、第六晶體管、第七晶體管、第八晶體管、第九晶體管;晶體管串(102)中所有晶體管的柵極連接在一起,所有晶體管的體區連接在一起,第二晶體管的漏極接第三晶體管的源極、第三晶體管的漏極接第四晶體管的源極、第四晶體管的漏極接第五晶體管的源極、第五晶體管的漏極接第六晶體管的源極、第六晶體管的漏極接第七晶體管的源極、第七晶體管的漏極接第八晶體管的源極、第八晶體管的漏極接第九晶體管的源極;第二晶體管的源極為晶體管串(102)的源極,第二晶體管的柵極為晶體管串(102)的柵極,最后序號晶體管(如若晶體管串(102)含有6個晶體管,其最后序號晶體管即為第七晶體管)的漏極為晶體管串(102)的漏極。
如圖5所示,開關(104)可以由NMOS晶體管(300)來實現,也可以由PMOS晶體管(302)來實現,其實現方式由第一晶體管(100)的實現方式決定:當第一晶體管(100)由NMOS晶體管(200)實現時,開關(104)由NMOS晶體管(300)來實現;當第一晶體管(100)由PMOS晶體管(202)實現時,開關(104)由PMOS晶體管(302)來實現。當開關(104)由NMOS晶體管(300)實現時,開關控制端為高電平時開關導通,開關控制端為低電平時開關斷開;當開關(104)由PMOS晶體管(302)實現時,開關控制端為低電平時開關導通,開關控制端為高電平時開關斷開。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于廣州慧智微電子有限公司,未經廣州慧智微電子有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210548838.5/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





