[發(fā)明專利]一種紅外熱像儀非均勻校正系數(shù)生成及控制方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210545545.1 | 申請日: | 2012-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN103033270A | 公開(公告)日: | 2013-04-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉燕;梅平;韋良忠;陳黎明;蔣俊 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫艾立德智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G01J5/52 | 分類號: | G01J5/52 |
| 代理公司: | 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司 32200 | 代理人: | 樓高潮 |
| 地址: | 214135 江蘇省無錫市新區(qū)*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 紅外 熱像儀非 均勻 校正 系數(shù) 生成 控制 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于紅外熱像技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種紅外熱像儀非均勻校正系數(shù)生成及控制方法。
背景技術(shù)
紅外焦平面陣列探測器及其紅外圖像后處理技術(shù)的發(fā)展,使得紅外熱像儀在軍事、工業(yè)和民用方面都越來越多地被應(yīng)用。然而由于紅外熱像探測器至今仍然存在探測單元對熱反應(yīng)存在非均勻,在紅外熱像儀中還不能脫離對探測元的非均勻校正技術(shù)。
由于在紅外熱像裝置中安裝兩個不同溫度的冷、熱黑體增加了系統(tǒng)設(shè)計的復(fù)雜性,且大大提高了裝置的能耗,因而當(dāng)前常用的非均勻校正方法為兩點加一點的非均勻校正方法,硬件架構(gòu)上常使用flash加sram的方案來緩存非均勻校正系數(shù)(參照專利CN201010514957.X)。
該方案下的兩點法的系數(shù)數(shù)據(jù)流程為:
1、出廠前采集探測器在冷、熱黑體環(huán)境下的響應(yīng)數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析。
2、上位機(jī)計算兩點法增益系數(shù)G、偏移系數(shù)O,將系數(shù)下載到裝置的flash中。
3、開機(jī)將flash中的G、O載入到sram中進(jìn)行,被非均勻校正模塊讀取進(jìn)行兩點法校正。
一點法系數(shù)由FPGA產(chǎn)生,利用補(bǔ)償黑片作為“環(huán)境溫度黑體”對偏移系數(shù)O系數(shù)進(jìn)行微調(diào),得到O’,以此來削弱因探測器溫漂引起的“非均勻性對紅外畫面的影響”,但同時也帶來了畫面停頓對視覺的影響。
由于探測器分辨率的提高,兩點法生成的非均勻校正系數(shù)數(shù)量也隨之提高,以384x288的探測器為例,G、O系數(shù)皆以16位來表示,則需要3.538944Mbit的flash空間。同時,由于flash讀寫速度慢,系數(shù)的載入和下載過程也非常緩慢。
因此,有必要對此過程進(jìn)行改進(jìn)設(shè)計。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的利用紅外熱像儀開機(jī)階段進(jìn)行一點校正的方法降低flash的存儲空間并加速系數(shù)下載過程,同時提供了一種一點校正電路的控制方法,對一點校正時機(jī)作控制避免開機(jī)后頻繁補(bǔ)償造成的畫面停頓。
本發(fā)明為實現(xiàn)上述目的,采用如下技術(shù)方案:
一種紅外熱像儀非均勻校正系數(shù)生成及控制方法,包括下述步驟:
(1)采集紅外焦平面分別在“高溫”和“低溫”下的響應(yīng)數(shù)據(jù);
(2)通過上位機(jī)計算得到兩點校正法的增益系數(shù)G,并將其下載到并行flash中;
(3)紅外熱像儀開機(jī)啟動從flash中載入增益系數(shù)G到sram中;
(4)進(jìn)行一次一點校正系數(shù)生成動作得到偏移系數(shù)O’;
(5)通過對探測器工作溫度的分析來判斷是否需要進(jìn)行補(bǔ)償,如果是進(jìn)入步驟(6),如果否則轉(zhuǎn)入步驟(7);
(6)進(jìn)行一次補(bǔ)償操作,更新一點校正系數(shù)生成動作得到偏移系數(shù)O’;
(7)進(jìn)行兩點加一點法非均勻校正,并輸出校正結(jié)果。
其進(jìn)一步特征在于:所述步驟(5)中探測器工作溫度的分析為防止過于頻繁的校正,其操作方法為:
(a)探測器實現(xiàn)一次開機(jī)補(bǔ)償動作,并記錄探測器工作溫度T1;
(b)結(jié)合開機(jī)階段工作溫度變化快的特性,對開機(jī)階段作校正時間約束,設(shè)定一點補(bǔ)償校正閾值D為一個較大的溫度變化閾值Dmax;
(c)實時檢測探測器工作溫度T2,得到探測器溫度變化ΔT=|T2-T1|;
(d)如果ΔT>D,則轉(zhuǎn)入步驟(e),否則轉(zhuǎn)回步驟(c);同時本步驟亦步驟(5)的判斷依據(jù),如果ΔT<D,則轉(zhuǎn)到步驟(7),否則轉(zhuǎn)到步驟(6);
(e)實現(xiàn)一次補(bǔ)償動作,并記錄兩次校正時間間隔t,更新工作溫度T1;
(f)判斷兩次校正時間間隔是否滿足要求;
(g)如果校正間隔時間滿足要求,則對溫度變化閾值D做一次減運算,最后趨于某一較小的固定閾值Dmin,轉(zhuǎn)入步驟(c);
(h)如果校正間隔時間過小,則對溫度變化閾值D做一次加運算,最后趨于固定閾值Dmax,轉(zhuǎn)入步驟(c)。
本發(fā)明去除了兩點法偏置系數(shù)O的計算和存儲過程,降低了一半的flash存儲容量并且將非均勻系數(shù)的下載和載入過程縮短一半,同時采用并行flash的設(shè)計加速flash的讀寫速度,極大地提高了電路運行效率。通過對探測器工作溫度的分析控制,避免了因探測器因工作溫度不溫度造成的畫面頻繁停頓的現(xiàn)象。
附圖說明
圖?1?為本發(fā)明方法流程圖。
圖?2?為本發(fā)明探測器工作溫度的分析和防止過于頻繁校正的流程圖。
具體實施方式
下面根據(jù)附圖1說明本發(fā)明的實現(xiàn)流程:
1、步驟100是開始準(zhǔn)備階段。
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