[發(fā)明專利]一種紅外熱像儀非均勻校正系數(shù)生成及控制方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210545545.1
• 申請日: 2012-12-17
• 公開（公告）號: CN103033270A
• 公開（公告）日: 2013-04-10
• 發(fā)明（設計）人: 劉燕;梅平;韋良忠;陳黎明;蔣俊
• 申請（專利權）人: 無錫艾立德智能科技有限公司
• 主分類號: G01J5/52
• 分類號: G01J5/52
• 代理公司: 南京經(jīng)緯專利商標代理有限公司 32200
• 代理人: 樓高潮

1.一種紅外熱像儀非均勻校正系數(shù)生成及控制方法，包括下述步驟：

（1）采集紅外焦平面分別在“高溫”和“低溫”下的響應數(shù)據(jù)；

（2）通過上位機計算得到兩點校正法的增益系數(shù)G，并將其下載到并行flash中；

（3）紅外熱像儀開機啟動從flash中載入增益系數(shù)G到sram中；

（4）進行一次一點校正系數(shù)生成動作得到偏移系數(shù)O’；

（5）通過對探測器工作溫度的分析來判斷是否需要進行補償，如果是進入步驟（6），如果否則轉入步驟（7）；

（6）進行一次補償操作，更新一點校正系數(shù)生成動作得到偏移系數(shù)O’；

（7）進行兩點加一點法非均勻校正，并輸出校正結果。

2.根據(jù)權利要求1所述的紅外熱像儀非均勻校正系數(shù)生成及控制方法，其特征在于：所述步驟（5）中探測器工作溫度的分析為防止過于頻繁的校正，其操作方法為：

（a）探測器實現(xiàn)一次開機補償動作，并記錄探測器工作溫度T1；

（b）結合開機階段工作溫度變化快的特性，對開機階段作校正時間約束，設定一點補償校正閾值D為一個較大的溫度變化閾值Dmax；

（c）實時檢測探測器工作溫度T2，得到探測器溫度變化ΔT=|T2-T1|；

（d）如果ΔT>D，則轉入步驟（e），否則轉回步驟（c）；同時本步驟亦步驟（5）的判斷依據(jù)，如果ΔT<D，則轉到步驟（7），否則轉到步驟（6）；

（e）實現(xiàn)一次補償動作，并記錄兩次校正時間間隔t，更新工作溫度T1；

（f）判斷兩次校正時間間隔是否滿足要求；

（g）如果校正間隔時間滿足要求，則對溫度變化閾值D做一次減運算，最后趨于某一較小的固定閾值Dmin，轉入步驟（c）；

（h）如果校正間隔時間過小，則對溫度變化閾值D做一次加運算，最后趨于固定閾值Dmax，轉入步驟（c）。