[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置的制造方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210543925.1 | 申請日: | 2012-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN103165478A | 公開(公告)日: | 2013-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 清水祐作;秋月伸也;小田高司;豐田英志;松村健 | 申請(專利權(quán))人: | 日東電工株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/56 | 分類號: | H01L21/56 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 王玉玲 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征在于,其是具備半導(dǎo)體芯片的半導(dǎo)體裝置的制造方法,該制造方法具備以下工序:
工序A,準備半導(dǎo)體芯片;
工序B,準備具有熱固化型樹脂層的樹脂片;
工序C,在所述熱固化型樹脂層上配置多個半導(dǎo)體芯片;以及
工序D,在所述多個半導(dǎo)體芯片上配置保護膜,并通過隔著配置的所述保護膜而施加的壓力,將所述多個半導(dǎo)體芯片埋入所述熱固化型樹脂層,
其中,所述保護膜對水的接觸角為90°以下。
2.一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征在于,其是具有半導(dǎo)體芯片的半導(dǎo)體裝置的制造方法,該制造方法具備以下工序:
工序A,準備半導(dǎo)體芯片;
工序B,準備具有熱固化型樹脂層的樹脂片;以及
工序D,將所述多個半導(dǎo)體芯片埋入所述熱固化型樹脂層。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





