[發(fā)明專利]一種布線檢測方法及檢測系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210540326.4 | 申請日: | 2012-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN103033521A | 公開(公告)日: | 2013-04-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王守坤;孫亮;李梁梁;郭會斌;劉曉偉 | 申請(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;北京京東方顯示技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/956 | 分類號: | G01N21/956 |
| 代理公司: | 北京同達(dá)信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291 | 代理人: | 郭潤湘 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 布線 檢測 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種布線檢測方法,其特征在于,步驟如下:
預(yù)先根據(jù)金板建立用于測試的坐標(biāo)系和數(shù)據(jù)信息,所述數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標(biāo)、用于檢測所述布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標(biāo)組和用于識別布線的預(yù)設(shè)光照反饋值;
根據(jù)所述坐標(biāo)系、所述測試點的坐標(biāo)和所述預(yù)設(shè)光照反饋值,光學(xué)掃描待檢測電路板的當(dāng)前待檢測布線,判斷所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)位置是否斷路;以及,
根據(jù)所述坐標(biāo)系、所述測試點的坐標(biāo)組和所述預(yù)設(shè)光照反饋值,光學(xué)掃描所述當(dāng)前待檢測布線至相鄰待檢測布線,判斷所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間是否短路。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,預(yù)先在所述待檢測電路板上設(shè)置機(jī)讀碼,并將所述機(jī)讀碼的坐標(biāo)保存在所述數(shù)據(jù)信息中,所述機(jī)讀碼用于標(biāo)識所述待檢測電路板上的待檢測布線。
3.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,檢測所述當(dāng)前待檢測布線斷路的步驟如下:
根據(jù)所述坐標(biāo)系查找所述機(jī)讀碼的坐標(biāo),以命中所述當(dāng)前待檢測布線;
根據(jù)所述待檢測布線的所述測試點的坐標(biāo),光學(xué)掃描待檢測電路板的所述當(dāng)前待檢測布線,當(dāng)掃描到的光照反饋值是所述預(yù)設(shè)光照反饋值時,所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)的位置正常;掃描到的光照反饋值不是所述預(yù)設(shè)光照反饋值時,所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)的位置斷路。
4.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,檢測所述當(dāng)前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間短路的步驟如下:
根據(jù)所述坐標(biāo)系查找所述機(jī)讀碼的坐標(biāo),以命中所述當(dāng)前待檢測布線;
根據(jù)所述測試點的坐標(biāo)組,光學(xué)掃描待檢測電路板的所述當(dāng)前待檢測布線至所述相鄰待檢測布線,當(dāng)掃描到的所述坐標(biāo)組之間不具有所述預(yù)設(shè)光照反饋值時,所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)組之間未短路;當(dāng)掃描到的所述坐標(biāo)組之間的所述光照反饋值具有所述預(yù)設(shè)光照反饋值時,所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)組之間短路。
5.如權(quán)利要求3或4所述的方法,其特征在于,還包括根據(jù)所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)位置是否斷路的判斷結(jié)果,以及所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間在所述測試點的坐標(biāo)組之間是否短路的結(jié)判斷果,輸出掃描數(shù)據(jù)或掃描圖形。
6.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述機(jī)讀碼為所述光學(xué)檢測設(shè)備能夠識別的二維碼或掩膜板圖形。
7.一種布線檢測系統(tǒng),其特征在于,包括:
預(yù)設(shè)單元,用于預(yù)先根據(jù)金板建立用于測試的坐標(biāo)系和數(shù)據(jù)信息,所述數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標(biāo)、用于檢測所述布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標(biāo)組和用于識別布線的預(yù)設(shè)光照反饋值;
光學(xué)掃描單元,用于根據(jù)所述坐標(biāo)系、所述測試點的坐標(biāo)和所述預(yù)設(shè)光照反饋值,掃描待檢測電路板的當(dāng)前待檢測布線;或者,根據(jù)所述坐標(biāo)系、所述測試點的坐標(biāo)組和所述預(yù)設(shè)光照反饋值,掃描所述當(dāng)前待檢測布線至相鄰待檢測布線;
判斷單元,用于判斷所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)位置是否斷路;或者,用于判斷所述當(dāng)前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間是否短路。
8.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng),其特征在于,所述預(yù)設(shè)單元還用于預(yù)先在所述數(shù)據(jù)信息中設(shè)置機(jī)讀碼的坐標(biāo);其中,所述機(jī)讀碼設(shè)置在所述待檢測電路板上,用于標(biāo)識所述待檢測電路板上的待檢測布線。
9.如權(quán)利要求8所述的系統(tǒng),其特征在于,還包括:
所述光學(xué)掃描單元,具體用于根據(jù)所述坐標(biāo)系查找所述機(jī)讀碼的坐標(biāo),以命中所述當(dāng)前待檢測布線;根據(jù)所述待檢測布線的所述測試點的坐標(biāo),掃描待檢測電路板的所述當(dāng)前待檢測布線;
所述判斷單元,具體用于當(dāng)掃描到的光照反饋值是所述預(yù)設(shè)光照反饋值時,所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)的位置正常;掃描到光照反饋值不是所述預(yù)設(shè)光照反饋值時,所述當(dāng)前待檢測布線在所述測試點的坐標(biāo)的位置斷路。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





