[發明專利]一種布線檢測方法及檢測系統

無效

• 申請號: 201210540326.4
• 申請日: 2012-12-13
• 公開（公告）號: CN103033521A
• 公開（公告）日: 2013-04-10
• 發明（設計）人: 王守坤;孫亮;李梁梁;郭會斌;劉曉偉
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術有限公司
• 主分類號: G01N21/956
• 分類號: G01N21/956
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 郭潤湘

技術領域

本發明涉及液晶制造領域，尤其涉及一種布線檢測方法及檢測系統。

背景技術

隨著印刷電路板（Printed?Circuit?Board；PCB）工藝的不斷進步，印刷電路板布線的線寬和線間距越來越小，以便滿足不同產品的電路板需求和節省電路板的寬間。但是由于布線的寬度及線間的間距都非常小，容易發生斷路或短路的現象，從而對生產造成困擾。為了解決這一問題，現有技術中一般采用電學測試的方法，以檢測電路板布線是否存在短路或斷路的情況。

但是電學測試的方法只能檢測電路板布線是否存在短路或斷路，而無法反饋出電路板上布線中存在短路或斷路缺陷的具體坐標位置，進而造成不良品無法及時發現，影響產線的生產效率。

發明內容

本發明的目的是提供一種方法布線檢測方法及檢測系統，以解決問題現有技術中電學測試無法檢測反饋電路板缺陷具體位置的問題。

本發明的目的是通過以下技術方案實現的：

本發明實施例提供一種布線檢測方法，步驟如下：

預先根據金板建立用于測試的坐標系和數據信息，所述數據信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標、用于檢測所述布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標組和用于識別布線的預設光照反饋值；

根據所述坐標系、所述測試點的坐標和所述預設光照反饋值，光學掃描待檢測電路板的當前待檢測布線，判斷所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標位置是否斷路；以及，

根據所述坐標系、所述測試點的坐標組和所述預設光照反饋值，光學掃描所述當前待檢測布線至相鄰待檢測布線，判斷所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間是否短路。

優選的，預先在所述待檢測電路板上設置機讀碼，并將所述機讀碼的坐標保存在所述數據信息中，所述機讀碼用于標識所述待檢測電路板上的待檢測布線。

優選的，檢測所述當前待檢測布線斷路的步驟如下：

根據所述坐標系查找所述機讀碼的坐標，以命中所述當前待檢測布線；

根據所述待檢測布線的所述測試點的坐標，光學掃描待檢測電路板的所述當前待檢測布線，當掃描到的光照反饋值是所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標的位置正常；掃描到的光照反饋值不是所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標的位置斷路。

優選的，檢測所述當前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間短路的步驟如下：

根據所述坐標系查找所述機讀碼的坐標，以命中所述當前待檢測布線；

根據所述測試點的坐標組，光學掃描待檢測電路板的所述當前待檢測布線至所述相鄰待檢測布線，當掃描到的所述坐標組之間的所述光照反饋值不具有所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標組之間未短路；當掃描到的所述坐標組之間的所述光照反饋值具有所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標組之間短路。

優選的，還包括根據所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標位置是否斷路的判斷結果，以及所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間在所述測試點的坐標組之間是否短路的結判斷果，輸出掃描數據或掃描圖形。

優選的，所述機讀碼為所述光學檢測設備能夠識別的二維碼或掩膜板圖形。

本發明的有益效果如下：通過光學檢測電路板布線，實現布線缺陷位置的準確定位，提高產線良品率和生產效率。

本發明實施例提供一種布線檢測系統，

預設單元，用于預先根據金板建立用于測試的坐標系和數據信息，所述數據信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標、用于檢測所述布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標組和用于識別布線的預設光照反饋值；

光學掃描單元，用于根據所述坐標系、所述測試點的坐標和所述預設光照反饋值，掃描待檢測電路板的當前待檢測布線；或者，根據所述坐標系、所述測試點的坐標組和所述預設光照反饋值，掃描所述當前待檢測布線至相鄰待檢測布線；

判斷單元，用于判斷所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標位置是否斷路；或者，用于判斷所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間是否短路。

優選的，所述預設單元還用于預先在所述數據信息中設置機讀碼的坐標；其中，所述機讀碼設置在所述待檢測電路板上，用于標識所述待檢測電路板上的待檢測布線。

優選的，還包括：

所述光學掃描單元，具體用于根據所述坐標系查找所述機讀碼的坐標，以命中所述當前待檢測布線；根據所述待檢測布線的所述測試點的坐標，掃描待檢測電路板的所述當前待檢測布線；