[發明專利]一種磁盤陣列測試方法以及一種磁盤陣列

無效

• 申請號: 201210535084.X
• 申請日: 2012-12-12
• 公開（公告）號: CN103019901A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 李文杰
• 申請（專利權）人: 創新科存儲技術有限公司;創新科存儲技術（深圳）有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京德琦知識產權代理有限公司 11018
• 代理人: 謝安昆;宋志強

技術領域

本發明涉及測試技術，特別涉及一種磁盤陣列測試方法以及一種磁盤陣列。

背景技術

磁盤陣列(RAID，Redundant?Arrays?of?Inexpensive?Disks)是指由一系列價格較便宜、容量較小、穩定性較高、速度較慢的磁盤組合而成的一個大型的磁盤組。

利用同樣的一系列磁盤，如4個磁盤，通過不同的組合方式，可以得到不同的磁盤陣列，對于得到的各不同磁盤陣列，通常還需要對其進行測試，以確定其性能是否符合要求等。

可以看出，如果要對組合得到的各不同磁盤陣列的性能進行測試，上述4個磁盤就會被不斷的重復利用，即上述4個磁盤將一直處于高速運轉狀態，從而可能導致出現以下問題：

1)磁盤的溫度不斷升高，從而可能影響到磁頭的電阻感應靈敏度，進而產生讀寫錯誤；

2)磁盤在高速運轉過程中，由于振動等原因，磁頭可能會撞擊到盤片，從而導致盤片壞軌或磁頭損壞；

無論出現上述哪種情況，均會影響測試結果，導致測試結果不準確。

發明內容

有鑒于此，本發明提供了一種磁盤陣列測試方法以及一種磁盤陣列，能夠提高測試結果的準確性。

為達到上述目的，本發明的技術方案是這樣實現的：

一種磁盤陣列測試方法，包括：

確定得到待測試的磁盤陣列所需的磁盤；

獲取每個磁盤分別對應的磁盤模擬卡，每個磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分；

用獲取到的各磁盤模擬卡得到所述磁盤陣列；

向所述磁盤陣列發送測試信號，并獲取所述磁盤陣列對接收到的測試信號進行處理后返回的測試結果。

一種磁盤陣列，包括：

兩個以上磁盤模擬卡；

每個磁盤模擬卡，分別用于替代對應的磁盤得到所述磁盤陣列，每個磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分。

可見，采用本發明所述方案，可利用磁盤模擬卡來替代磁盤得到待測試的磁盤陣列，磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分，即去除了磁頭、電機、電機驅動芯片等機械部件，從而避免了出現現有技術中的問題，進而提高了測試結果的準確性。

附圖說明

圖1為本發明磁盤陣列測試方法實施例的流程圖。

圖2為現有磁盤的組成結構示意圖。

圖3為本發明磁盤模擬卡的組成結構示意圖。

具體實施方式

針對現有技術中存在的問題，本發明中提出一種改進后的磁盤陣列測試方法以及一種改進后的磁盤陣列，相比于現有技術，能夠提高測試結果的準確性。

為了使本發明的技術方案更加清楚、明白，以下參照附圖并舉實施例，對本發明所述方案作進一步地詳細說明。

圖1為本發明磁盤陣列測試方法實施例的流程圖。如圖1所示，包括：

步驟11：確定得到待測試的磁盤陣列所需的磁盤。

本步驟中，確定要得到待測試的磁盤陣列，需要用到哪些磁盤，其具體實現為現有技術。

步驟12：獲取每個磁盤分別對應的磁盤模擬卡，每個磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分。

圖2為現有磁盤的組成結構示意圖。如圖2所示，包括：接口、微處理器、高速緩存、數字信號處理器、前置信號處理器、電機驅動芯片、主軸電機、音圈電機、磁頭等。

其中，接口、微處理器、高速緩存、數字信號處理器和前置信號處理器為信號處理部分，主要用于進行信號處理；電機驅動芯片、主軸電機、音圈電機和磁頭等為機械部分，主要用于進行數據的存儲及讀取。

可針對每個磁盤，分別生成一個對應的磁盤模擬卡，其中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分，即去除了機械部分。

圖3為本發明磁盤模擬卡的組成結構示意圖。可以看出，相比于圖2所示磁盤，去除了虛線框內的組成部分，即將圖2中除虛線框內的組成部分之外的其它組成部分均集成到了磁盤模擬卡中。

步驟13：用獲取到的各磁盤模擬卡得到待測試的磁盤陣列。

在實際應用中，可將各磁盤模擬卡設置在待測試的磁盤陣列主板的背板上，如果未用磁盤模擬卡替代磁盤的話，磁盤也應該設置在該位置。

步驟14：向待測試的磁盤陣列發送測試信號，并獲取待測試的磁盤陣列對接收到的測試信號進行處理后返回的測試結果。

本步驟中，測試設備如計算機向待測試的磁盤陣列發送測試信號，待測試的磁盤陣列接收到測試信號后，對其進行處理，并將處理結果即測試結果返回給測試設備。