[發明專利]一種磁盤陣列測試方法以及一種磁盤陣列無效
| 申請號： | 201210535084.X | 申請日： | 2012-12-12 |
| 公開（公告）號： | CN103019901A | 公開（公告）日： | 2013-04-03 |
| 發明（設計）人： | 李文杰 | 申請（專利權）人： | 創新科存儲技術有限公司;創新科存儲技術（深圳）有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京德琦知識產權代理有限公司 11018 | 代理人： | 謝安昆;宋志強 |
| 地址： | 100191 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 磁盤陣列 測試 方法 以及 | ||
【權利要求書】：
1.一種磁盤陣列測試方法，其特征在于，包括：
確定得到待測試的磁盤陣列所需的磁盤；
獲取每個磁盤分別對應的磁盤模擬卡，每個磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分；
用獲取到的各磁盤模擬卡得到所述磁盤陣列；
向所述磁盤陣列發送測試信號，并獲取所述磁盤陣列對接收到的測試信號進行處理后返回的測試結果。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取所述測試結果之后，進一步包括：
確定所述測試結果是否為所需的測試結果，如果是，則利用所述測試結果對所述磁盤陣列的性能進行評估，否則，報告產生故障。
3.一種磁盤陣列，其特征在于，包括：
兩個以上磁盤模擬卡；
每個磁盤模擬卡，分別用于替代對應的磁盤得到所述磁盤陣列，每個磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分。
4.根據權利要求3所述的磁盤陣列，其特征在于，
每個磁盤模擬卡均位于所述磁盤陣列主板的背板上。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于創新科存儲技術有限公司;創新科存儲技術（深圳）有限公司，未經創新科存儲技術有限公司;創新科存儲技術（深圳）有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210535084.X/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
