[發明專利]太赫茲連續波系統及其獲得三維圖像的方法

無效

• 申請號: 201210525891.3
• 申請日: 2012-12-07
• 公開（公告）號: CN103163145A
• 公開（公告）日: 2013-06-19
• 發明（設計）人: 田東錫;姜光鏞;柳漢哲;金濟河
• 申請（專利權）人: 韓國電子通信研究院
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 李芳華

相關申請的交叉引用

該美國非臨時專利申請要求2011年12月8日提交的韓國專利申請第10－2011－0131127號和2012年9月6日提交的韓國專利申請第10－2012－0098935號在35U.S.C.§119下的優先權，由此通過引用全部其全部內容。

技術領域

這里的本發明構思涉及用于三維非破壞性分子（molecular）圖像的太赫茲(terahertz)連續波系統及其獲得三維圖像的方法。

背景技術

太赫茲波段（100GHz-10THz）存在于光波和電波之間的邊界處，并且是在技術級別延誤開發的頻帶。為了展開太赫茲波段，已使用最新激光技術和最新半導體技術將太赫茲波段開發為新電磁波技術。太赫茲電磁波通過毫微微秒光脈沖使用超高速光電導天線（開關）按照脈沖波類型振蕩，并且基于光學混頻器使用光學外差（heterodyne）方法按照連續波類型振蕩。太赫茲波段連續波系統作為太赫茲光譜學（spectroscopy）或圖像測量系統已正被引起關注，因為與脈沖波太赫茲系統相比，其具有諸如頻率選擇性、成本、尺寸和測量時間的長處。

發明內容

本發明構思的實施例提供了一種太赫茲連續波系統。該太赫茲連續波系統可包括太赫茲波發生器，用于生成太赫茲連續波；非破壞性檢測器，用于通過將生成的太赫茲連續波發射到樣本、并在按照預定間隔沿著二維移動該樣本的同時控制所發射的太赫茲連續波的焦點，來測量太赫茲連續波的改變；和三維圖像處理器，用于使用與所測量的太赫茲連續波對應的二維圖像來獲得三維圖像。

本發明構思的實施例還提供了一種太赫茲連續波系統的獲得三維圖像的方法。該方法可包括：生成太赫茲連續波；向樣本發射所生成的太赫茲連續波；在按照預定間隔移動該樣本的同時改變該太赫茲連續波的焦點；測量該太赫茲連續波的改變；獲得與所測量的該太赫茲連續波的改變對應的二維圖像；使用該二維圖像來獲得二維深度圖像；和使用該二維深度圖像來獲得三維圖像。

附圖說明

下面將參考附圖來更詳細地描述本發明構思的優選實施例。然而，本發明構思的這些實施例可按照不同形式實施，并且不應被解釋為限于這里闡明的實施例。相反，提供這些實施例，使得該公開將是徹底和完整的，并將向本領域技術人員全面傳達本發明構思的范圍。相同的附圖標記始終表示相同的元件。

圖1是圖示了根據本發明構思的第一實施例的太赫茲連續波系統的圖。

圖2是圖示了從圖1中圖示的數據處理單元獲得三維圖像的處理的流程圖。

圖3是用于解釋圖1中圖示的使用孔徑（aperture）或共焦針眼（pinhole）控制焦距的原理的圖。

圖4是圖示了根據本發明構思的第二實施例的太赫茲連續波系統的圖。

圖5是用于解釋圖4中圖示的鏡頭盒構成和控制焦距的原理的圖。

圖6是圖示了根據本發明構思的第三實施例的太赫茲連續波系統的圖。

圖7是用于解釋圖6中圖示的金屬材料鏡頭盒構成和控制金屬材料鏡頭盒的焦距的原理的圖。

圖8是圖示了根據本發明構思的第四實施例的太赫茲連續波系統的圖。

圖9是圖示了根據本發明構思的第五實施例的太赫茲連續波系統的圖。

圖10是圖示了圖8或9中圖示的太赫茲布置檢測器的圖。

圖11是根據本發明構思的一些實施例的輸出電路的框圖。

圖12是圖示了根據本發明構思的一些實施例的對數周期天線的圖。

圖13A和13B是圖示了根據本發明構思的一些實施例的當使用金屬材料鏡頭和光學鏡頭時的解析度的圖。

圖14是圖示了根據本發明構思的一些實施例的特氟綸基板上的金屬墊圈的樣本和塑料墊圈的樣本的圖。

圖15是圖示了根據本發明構思的一些實施例的由穿過特氟綸基板的太赫茲波所測量的金屬墊圈和塑料墊圈的二維深度圖像的圖。

圖16是圖示了圖15中圖示的金屬墊圈和塑料墊圈的三維笛卡爾積分（integration）圖像的圖。

圖17是圖示了對于圖15中圖示的金屬墊圈和塑料墊圈的三維可視圖像執行圖像處理的圖像的圖。

具體實施方式