[發明專利]一種電路物理設計相似度的測試方法

有效

• 申請號: 201210519168.4
• 申請日: 2012-12-06
• 公開（公告）號: CN103020346A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 彭敏放;譚虎
• 申請（專利權）人: 湖南大學
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 長沙市融智專利事務所 43114
• 代理人: 歐陽迪奇

技術領域

本發明涉及一種電路物理設計相似度的測試方法。

背景技術

近年來，通信領域里各種專利糾紛不斷，訴訟成為了業界的常態。2011年4月蘋果對三星提出的7項專利侵權指控中，其中一項涉及iPad物理設計。然而目前對電路硬件設計是否侵權基本上從硬件的形狀進行判斷，影響侵權行為、侵權產品的客觀判定。因此，如何較合理地、定量地判斷集成電路產品設計的相似性是一項亟待解決的難題。

將電路的物理設計抽象成復雜網絡的好處在于可以利用圖論的相關工具對物理設計的表面結構采用統計方法來描述。近期的研究也驗證了從電路抽象出的網絡具有小世界特性、無尺度特性等復雜網絡特征。如何在缺少電量信息的情況下將復雜網絡特征應用于定量測量電路物理設計的相似度是一個嶄新的問題。對于網絡的相似度測量而言，現有的研究大多集中在網絡是否模塊化及內部模塊與整體自相似性的檢測上，以辨識一個給定網絡中的模塊以及模塊之間的關系。而對于有著不同節點數的整個網絡的比較及其相似度的定量測量方法則較為缺乏。

發明內容

為了解決目前電路物理設計專利侵權判定及網絡相似度測量較難以判斷的技術問題，本發明提供一種電路物理設計相似度的測試方法。

為了實現上述技術目的，本發明的技術方案是，一種電路物理設計相似度的測試方法，包括以下步驟，

步驟一：將需對比的兩個電路原理圖中的各個元件或功能模塊及其之間的連接抽象成復雜網絡，以得到兩個電路原理圖相應的復雜網絡的節點集V、V'；

步驟二：根據步驟一所得到的兩個復雜網絡的節點集來分別計算兩個復雜網絡的四種特征參數：節點度、節點介數、節點聚類系數、節點平均路徑長度，在對每個節點的特征參數均進行計算后，得到四種特征參數的數據集；

步驟三：根據步驟二所得的兩個復雜網絡的網絡特征參數的數據集來分別計算特征參數的累積分布，并將兩個復雜網絡的特征參數的累積分布進行Kolmogorov–Smirnov對比測試以得到最大垂直偏差的標準統計量；

步驟四：根據步驟三中累積分布K-S測試所得的最大垂直偏差的標準統計量來計算電路物理設計的相似度。

進一步的，所述的方法，所述的步驟一中所述的的抽象的方法為，將電路原理圖中的元件或功能模塊抽象為節點，將元件或功能模塊間的連線抽象為與節點連接的邊。

進一步的，所述的方法，所述的步驟二中計算節點度的步驟為：

NDi=Σj=1,j≠iN(j→i)]]>

其中ND_i代表節點i對應的度，N為網絡的節點集V中元素的個數；若節點j與節點i有連接，則(j→i)=1，否則(j→i)=0。

進一步的，所述的方法，所述的步驟二中計算節點介數的步驟為：

NCi=Σs≠i≠t∈Vσst(i)σst]]>