[發(fā)明專利]一種電路物理設(shè)計(jì)相似度的測試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210519168.4
• 申請(qǐng)日: 2012-12-06
• 公開（公告）號(hào): CN103020346A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 彭敏放;譚虎
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 湖南大學(xué)
• 主分類號(hào): G06F17/50
• 分類號(hào): G06F17/50
• 代理公司: 長沙市融智專利事務(wù)所 43114
• 代理人: 歐陽迪奇

1.一種電路物理設(shè)計(jì)相似度的測試方法，其特征在于，包括以下步驟，

步驟一：將需對(duì)比的兩個(gè)電路原理圖中的各個(gè)元件或功能模塊及其之間的連接抽象成復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)，以得到兩個(gè)電路原理圖相應(yīng)的復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)的節(jié)點(diǎn)集V、V'；

步驟二：根據(jù)步驟一所得到的兩個(gè)復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)的節(jié)點(diǎn)集來分別計(jì)算兩個(gè)復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)的四種特征參數(shù)：節(jié)點(diǎn)度、節(jié)點(diǎn)介數(shù)、節(jié)點(diǎn)聚類系數(shù)、節(jié)點(diǎn)平均路徑長度，在對(duì)每個(gè)節(jié)點(diǎn)的特征參數(shù)均進(jìn)行計(jì)算后，得到四種特征參數(shù)的數(shù)據(jù)集；

步驟三：根據(jù)步驟二所得的兩個(gè)復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)絡(luò)特征參數(shù)的數(shù)據(jù)集來分別計(jì)算特征參數(shù)的累積分布，并將兩個(gè)復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)的特征參數(shù)的累積分布進(jìn)行Kolmogorov–Smirnov對(duì)比測試以得到最大垂直偏差的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)量；

步驟四：根據(jù)步驟三中累積分布K-S測試所得的最大垂直偏差的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)量來計(jì)算電路物理設(shè)計(jì)的相似度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述的步驟一中所述的的抽象的方法為，將電路原理圖中的元件或功能模塊抽象為節(jié)點(diǎn)，將元件或功能模塊間的連線抽象為與節(jié)點(diǎn)連接的邊。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述的步驟二中計(jì)算節(jié)點(diǎn)度的步驟為：

NDi=Σj=1,j≠iN(j→i)]]>

其中ND_i代表節(jié)點(diǎn)i對(duì)應(yīng)的度，N為網(wǎng)絡(luò)的節(jié)點(diǎn)集V中元素的個(gè)數(shù)；若節(jié)點(diǎn)j與節(jié)點(diǎn)i有連接，則(j→i)=1，否則(j→i)=0。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述的步驟二中計(jì)算節(jié)點(diǎn)介數(shù)的步驟為：

NCi=Σs≠i≠t∈Vσst(i)σst]]>

其中NC_i表示節(jié)點(diǎn)i的介數(shù)，σ_st代表從節(jié)點(diǎn)s∈V到節(jié)點(diǎn)t∈V路徑的數(shù)目，σ_st(i)代表從節(jié)點(diǎn)s到節(jié)點(diǎn)t的最短路徑經(jīng)過節(jié)點(diǎn)i∈V的數(shù)目。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述的步驟二中計(jì)算節(jié)點(diǎn)聚類系數(shù)的步驟為：

Ci=2yiki(ki-1)]]>

其中C_i表示節(jié)點(diǎn)i的聚類系數(shù)，k_i表示節(jié)點(diǎn)i的度數(shù)即連接邊數(shù)；y_i表示節(jié)點(diǎn)i的鄰近節(jié)點(diǎn)之間的實(shí)際連接邊數(shù)。