[發明專利]光學檢驗方法

有效

• 申請號: 201210512945.2
• 申請日: 2012-12-04
• 公開（公告）號: CN103808729A
• 公開（公告）日: 2014-05-21
• 發明（設計）人: 林金霖
• 申請（專利權）人: 廣達電腦股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 史新宏

技術領域

本發明是有關于一種光學檢驗方法。

背景技術

現有的光學檢驗方法都是采用標準圖片(golden?sample)以與生產線上的待檢驗物的圖像進行比對。然而，所謂標準圖片卻是在檢驗環境中(亦即生產線上)取得。因此，標準圖片會受各種環境因素的影響而產生多種變異，例如：不同的環境光源、待檢驗物的定位與角度、或光學相機的高度與角度偏移等，使得標準圖片無法在不同的檢驗設備中使用，不利于系統維護且不具可移植性。

發明內容

本發明是有關于一種光學檢驗方法，不需使用傳統的標準圖片即可通過定序算法檢驗待檢驗物是否有缺失。

根據本發明的第一方面，提出一種光學檢驗方法，包括下列步驟。利用一檢驗設備取得一待檢驗物的一圖像。決定該圖像的一目標圖像區域。取得目標圖像區域的多個檢驗范圍的中心坐標。將該些中心坐標填入一陣列，并依據該些中心坐標的相對關系重新定序該些中心坐標而得到一重新定序坐標陣列。比較重新定序坐標陣列與一原始坐標陣列，以檢驗該些檢驗范圍所對應的待檢驗物的部分是否有缺失。

為了對本發明的上述及其它方面有更佳的了解，下文特舉一實施例，并配合所附圖式，作詳細說明如下。

附圖說明

圖1繪示依照一實施范例的光學檢驗方法的流程圖。

圖2～圖4A繪示依照一實施范例的光學檢驗方法的圖像示意圖。

圖4B繪示用以記錄該些中心坐標的一表格。

圖5A繪示一重新定序坐標陣列。

圖5B繪示對應至圖5A的數據陣列的像素點相對位置關系圖。

圖6A繪示另一重新定序坐標陣列。

圖6B繪示對應至圖6A的數據陣列的像素點相對位置關系圖。

圖7繪示對應至規格書的像素點相對位置關系圖。

圖8繪示將圖7的與圖6B結合后，所得到的補齊后的像素點相對位置關系圖。

圖9所示乃有瑕疵的待檢驗物的圖像。

圖10繪示從圖9中擷取的目標圖像區域的圖像。

圖11為將圖10細化后的圖像。

圖12則為對應至圖10的補齊后的像素點相對位置關系圖。

圖13～圖15，其繪示依照另一實施范例的光學檢驗方法的圖像示意圖。

[主要元件標號說明]

S100～S140：流程步驟????????????????202：目標圖像區域

302：檢驗范圍???????????????????????402：像素點

501、502：方格

具體實施方式

本發明所提出的光學檢驗方法，利用一定序算法對多個檢驗范圍的中心坐標進行排序以與一原始坐標陣列進行比對，故不需使用傳統的標準圖片即可檢驗待檢驗物是否有缺失。

請參照圖1～圖4A，圖1繪示依照一實施范例的光學檢驗方法的流程圖，圖2～圖4A繪示依照一實施范例的光學檢驗方法的圖像示意圖。于步驟S100中，利用一檢驗設備取得一待檢驗物的一圖像，如圖2所示，該待檢驗物例如為在主機板上的一中央處理器(CPU)插座(socket)。更進一步地，該圖像會被轉正以利后續處理。于步驟S110中，決定該圖像的一目標圖像區域202，亦即所想要檢驗的CPU插座區域，如圖3所示。之后，于步驟S120中，取得目標圖像區域的多個檢驗范圍的中心坐標。詳細來說，于步驟120中是進行細化操作，將目標圖像區域進行細化。所謂的檢驗范圍例如為一個接腳(pin)所占據的范圍，例如是檢驗范圍302。上述的細化操作是指，將每個檢驗范圍細化為單個像素點，每個像素點為對應的檢驗范圍的中心點，如圖4A所示。舉例來說，像素點402為將檢驗范圍302的中心點。之后，取得所有圖4A的像素點的坐標值(亦即該些接腳所對應的檢驗范圍的中心坐標)，并將該些中心坐標儲存于一緩存器的一表格中。圖4B所示者為此種表格的一例。