[發(fā)明專利]光學(xué)檢驗(yàn)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210512945.2
• 申請(qǐng)日: 2012-12-04
• 公開（公告）號(hào): CN103808729A
• 公開（公告）日: 2014-05-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林金霖
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣達(dá)電腦股份有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/88
• 分類號(hào): G01N21/88
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105
• 代理人: 史新宏

1.一種光學(xué)檢驗(yàn)方法，包括：

利用一檢驗(yàn)設(shè)備取得一待檢驗(yàn)物的一圖像；

決定該圖像的一目標(biāo)圖像區(qū)域；

取得該目標(biāo)圖像區(qū)域的多個(gè)檢驗(yàn)范圍的中心坐標(biāo)；

將該些中心坐標(biāo)填入一陣列，并依據(jù)該些中心坐標(biāo)的相對(duì)關(guān)系重新定序該些中心坐標(biāo)而得到一重新定序坐標(biāo)陣列；以及

比較該重新定序坐標(biāo)陣列與一原始坐標(biāo)陣列，以檢驗(yàn)該些檢驗(yàn)范圍所對(duì)應(yīng)的該待檢驗(yàn)物的部分是否有缺失。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢驗(yàn)方法，還包括：

轉(zhuǎn)正該圖像，并從轉(zhuǎn)正后的該圖像取得該目標(biāo)圖像區(qū)域。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢驗(yàn)方法，其中該重新定序該些中心坐標(biāo)的步驟包括：

定義多個(gè)x坐標(biāo)范圍與多個(gè)y坐標(biāo)范圍；以及

基于該些中心坐標(biāo)的相對(duì)關(guān)系，將屬于相同x坐標(biāo)范圍的該些中心坐標(biāo)填入該陣列的同一行，并將屬于相同y坐標(biāo)范圍的該些中心坐標(biāo)填入該陣列的同一列，以得到該重新定序坐標(biāo)陣列。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢驗(yàn)方法，其中于該重新定序坐標(biāo)陣列與該原始坐標(biāo)陣列中，不匹配的一元素所對(duì)應(yīng)的該待檢驗(yàn)物的部分有缺失。