[發明專利]一種存儲器電路的通用單粒子效應檢測方法

無效

• 申請號: 201210512620.4
• 申請日: 2012-11-30
• 公開（公告）號: CN103021469A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 陳莉明;董攀;鄭宏超;范隆;岳素格;陸時進;杜守剛;馬建華;王煌偉;陳茂鑫;文圣泉;畢瀟
• 申請（專利權）人: 北京時代民芯科技有限公司;北京微電子技術研究所
• 主分類號: G11C29/44
• 分類號: G11C29/44
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 安麗

1.一種存儲器電路的通用單粒子效應檢測方法，其特征在于步驟如下：

(1)配置待測儲器電路為寫狀態，對于同步存儲器電路還需要確定其工作時鐘頻率；

(2)選擇測試向量并將測試向量寫入待測存儲器電路的各個地址單元，然后將待測存儲器電路置于輻照環境中開始輻照；在輻照過程中實時監測待測存儲器電路的工作電流直至測試結束，當工作電流發生異常并超過正常工作電流的1.5倍時判定發生閂鎖；

(3)選擇是進行動態測試或者靜態測試，若為動態測試則進入步驟(4)，若為靜態測試則進入步驟(6)；

(4)將待測存儲器電路配置為讀狀態，將待測存儲器電路的各個地址單元存儲的數據讀出并與寫入的數據進行比較，將比較結果不一致的地址單元的數量作為總錯誤計數，然后進入步驟(5)；

(5)對于比較結果不一致的各地址單元均進行以下操作，記被操作的地址單元為地址單元i，

(51)將地址單元i的寫入數據Si的每一位取反并和地址單元i的讀出數據Si+1的相應位進行邏輯與的操作，得到相應的一組數據序列T(i，j)，其中i代表該地址單元，j為該地址單元的數據位數，若T(i，j)的值為1，則判定地址單元i中的第j位的數據發生了0->1的翻轉；若T(i，j)的值為0，則判定地址單元i中的第j位的數據沒有發生0->1翻轉；

(52)將地址單元i的寫入數據Si的每一位和地址單元i的讀出數據Si+1的相應位的非進行邏輯與的操作，得到相應的一組數據序列K(i，j)，若K(i，j)的值為1，則判定地址單元i中的第j位的數據發生了1->0翻轉；若K(i，j)的值為0，則判定地址單元i中的第j位的數據沒有發生1->0翻轉；

(53)分別統計T(i，j)和K(i，j)兩組數據序列，根據數據序列中j的取值情況，得到地址單元i發生2位或者2位以上數據翻轉的情況，結束測試；

(6)將待測存儲器電路配置為不讀不寫狀態，對于同步存儲器電路還需要設定其時鐘信號停止，當輻照過程中的累計輻照粒子達到標準后停止輻照；對于同步存儲器電路設定其時鐘信號回復，然后順序讀出待測存儲器電路各地址單元內的數據并與寫入數據進行比較，對于異步存儲器電路則直接順序讀出待測存儲器電路各地址單元內的數據并與寫入數據進行比較，將比較結果不一致的地址單元的數量作為總錯誤計數，結束測試。

2.根據權利要求1所述的一種存儲器電路的通用單粒子效應檢測方法，其特征在于：所述的測試向量為：“00”，“FF”，“55”，“AA”，“55”+“AA”，“00”+“FF”，或者MARCH。