[發明專利]一種合成孔徑雷達掃描工作模式最優波位選擇方法

無效

• 申請號: 201210480438.5
• 申請日: 2012-11-22
• 公開（公告）號: CN102998655A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: 丁澤剛;龍騰;曾濤;尹偉;楊文付
• 申請（專利權）人: 北京理工大學
• 主分類號: G01S7/02
• 分類號: G01S7/02;G01S13/90
• 代理公司: 北京理工大學專利中心 11120
• 代理人: 高燕燕

1.一種合成孔徑雷達掃描工作模式最優波位選擇方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟一、根據距離向測繪區域、等效后向散射系數（NESZ）最大值、模糊比最大值參數的限制，以及可選用的i組條帶寬度{w₁?w₂...w_i}，分別進行條帶工作模式波位設計，得出i組不同條帶寬度的波位x11x12...x1n1,···,xi1xi2...xini,]]>并將其并集作為掃描工作模式的待選波位集合；

步驟二、初始波位選擇：在所述的待選波位集合x11x12···x1n1···xi1xi2···xini]]>中選取波位覆蓋區域包含距離向測繪區域近端的波位集合y1y2...ynroot,]]>作為掃描工作模式波位選擇的待選起始波位；其余波位的集合z1z2...znchild]]>作為待選后續波位；

步驟三、波位樹的構建：從起始波位集合y1y2...ynroot]]>中依次選取元素y_k,k＝1,2…n_root作為根節點，分別構建n_root個波位樹，其中子節點與父節點波位含有重合的覆蓋區域；

步驟四、波位樹的遍歷：對于已構建的n_root個波位樹依次進行遍歷，在波位樹的各個支路中找出能夠滿足測繪帶覆蓋要求的波位組合，即該支路的根節點波位的近端下視角小于要求覆蓋區域的近端下視角、葉節點波位的遠端下視角大于要求覆蓋區域的遠端下視角，并分別計算對應波位的NESZ、方位向模糊度、距離向模糊度；

步驟五、選取最優波位組合：從步驟四的遍歷結果中，選取參數最優的波位組合，作為掃描工作模式的波位設計結果。

2.如權利要求1所述的一種合成孔徑雷達掃描工作模式最優波位選擇方法，其特征在于，步驟三中構建波位樹采用以下方法：首先將待選后續波位z1z2...znchild]]>分為互補的兩個集合yk1yk2...yknk]]>和z1′z2′...z′nchild,]]>其中yk1yk2...yknk]]>作為根節點y_k的子節點集合，z1′z2′...z′nchild]]>作為新的待選后續波位集合，將z1z2...znchild]]>中波位覆蓋區域與根節點yk波位覆蓋區域有重疊的元素集合作為yk1yk2...yknk,]]>剩余元素集合作為z1′z2′...z′nchild,]]>然后依照上述原則從新的待選后續波位集合z1′z2′...z′nchild]]>中分別選取子節點yk1yk2...yknk]]>的子節點，并產生新的待選后續波位集合，重復上述過程，直至待選后續波位集合為空集。