[發(fā)明專利]暗室有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210479010.9 | 申請日: | 2012-11-22 |
| 公開(公告)號: | CN103812585A | 公開(公告)日: | 2014-05-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉克峰;漆一宏;謝喬治;謝輝 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市鼎立方無線技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | H04B17/00 | 分類號: | H04B17/00 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 張大威 |
| 地址: | 518102 廣東省深圳市寶安區(qū)西*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 暗室 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測量技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種用于無線通信性能參數(shù)測量的暗室。
背景技術(shù)
移動終端在進行入網(wǎng)測試時要按照CTIA(移動通信網(wǎng)絡(luò)協(xié)會)標準進行通信性能的測試。根據(jù)CTIA的標準,在以被測件為球心的球面上,在不同空間位置對被測件進行測量后,將所有測試結(jié)果綜合計算得出相應(yīng)指標。用于這種測試的測量系統(tǒng)通常需要特定的測試環(huán)境,例如需要使用微波暗室,用于消除環(huán)境噪音對測量結(jié)果造成的影響。
現(xiàn)有微波暗室的屏蔽箱體通常為長方體形狀,在暗室內(nèi)設(shè)置圓環(huán)形天線支架,天線(也稱為測量天線)沿周向均勻地設(shè)在所述圓環(huán)形天線支架上。
上述暗室存在以下問題:首先,由于在暗室內(nèi)設(shè)置圓環(huán)形天線支架,增加了元件數(shù)量,提高了成本,圓環(huán)形天線支架占據(jù)了暗室內(nèi)的空間,并且圓環(huán)形天線支架會反射暗室內(nèi)的電磁波,由此降低了測量精度。為了降低圓環(huán)形天線支架對電磁波的反射,需要在圓環(huán)形天線支架上設(shè)置吸波材料,從而進一步導(dǎo)致制造復(fù)雜,成本增加。
其次,由于天線沿周向均勻地設(shè)在所述圓環(huán)形天線支架上,暗室內(nèi)的在徑向上相對位置上的天線處于完全對射的方向,特別在安裝方向性較好的天線時,不僅增加了電磁反射(由裸露在吸波材料外的天線導(dǎo)致),而且當天線距離過近時會引起天線間的耦合干擾作用,嚴重影響測量效果,為此必須增大暗室的尺寸,限制了暗室的小型化,導(dǎo)致現(xiàn)有的暗室體積大、成本高、移動性差,使用不便。現(xiàn)有的小暗室,例如小于4米的暗室,雖然尺寸減小,但是測量精度差。
再次,由于天線環(huán)形支架設(shè)在屏蔽箱體內(nèi),與天線相連的通信電纜也都在屏蔽箱內(nèi)部走線。通信電纜作為眾所周知的強測量干擾源,會大大降低測量的精度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決上述技術(shù)問題之一或至少提供一種有用的商業(yè)選擇。為此,本發(fā)明的一個目的在于提出一種暗室,所述暗室結(jié)構(gòu)簡單、測量精確且可小型化。
根據(jù)本發(fā)明實施例的暗室包括:屏蔽箱體;吸波材料層,所述吸波材料層設(shè)在所述屏蔽箱體的內(nèi)壁上;和多個測量天線,多個所述測量天線設(shè)在所述屏蔽箱體的內(nèi)壁上且適于與所述屏蔽箱體外面的電纜相連。
根據(jù)本發(fā)明實施例的暗室,通過將吸波材料層和多個測量天線設(shè)置在屏蔽箱體的內(nèi)壁上,從而可以充分地利用屏蔽箱體的承載功能,無需在屏蔽箱體內(nèi)設(shè)置環(huán)形天線支架。由此不僅可以節(jié)省環(huán)形天線支架的制造成本,而且可以消除由環(huán)形天線支架引起的電磁遮擋和電磁反射對無線通信測量造成的誤差,提高了測量的精度和一致性。
而且,通過將多個測量天線設(shè)置在屏蔽箱體的內(nèi)壁上,從而可以將與測量天線相連的電纜全部設(shè)置在屏蔽箱體的外部,由此屏蔽箱體可以將與測量天線相連的電纜產(chǎn)生的電磁輻射完全屏蔽掉,以避免電纜產(chǎn)生的電磁輻射干擾屏蔽箱體的內(nèi)部測量環(huán)境。也就是說,通過將電纜全部設(shè)置在屏蔽箱體的外部,從而可以顯著地消除屏蔽箱體內(nèi)部存在的噪聲源,由此可以提高測量的精度和一致性。
此外,由于吸波材料層和多個測量天線設(shè)置在屏蔽箱體的內(nèi)壁上,因此吸波材料層的內(nèi)表面(射頻終止面)、測量天線的內(nèi)表面和屏蔽箱體的內(nèi)壁在空間上可以幾乎重合。由此不僅可以極大地減小測量天線的內(nèi)表面與屏蔽箱體的內(nèi)壁之間占用的空間,而且圍繞在測量天線周圍的吸波材料層可以有效地消除屏蔽箱體內(nèi)干擾無線通信測量的電磁反射,進一步提高無線通信測量的精度和一致性。
因此,根據(jù)本發(fā)明實施例的暗室具有制造成本低、占用空間小、可以小型化,便于移動,使用方便,提高了測量的精度和一致性等優(yōu)點。
另外,根據(jù)本發(fā)明上述實施例的暗室還可以具有如下附加的技術(shù)特征:
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例,所述屏蔽箱體為球形。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例,所述屏蔽箱體為柱狀且所述屏蔽箱體的橫截面為圓形或正多邊形。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例,所述正多邊形的邊數(shù)為N,且N≥3。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例,所述正多邊形的邊數(shù)N為12,且所述測量天線的數(shù)量為5個。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例,所述多個測量天線中的任意兩個在所述屏蔽箱體的徑向上彼此錯開。由此可以充分地利用屏蔽箱體的對稱性,將同樣測量密度所需的測量天線的數(shù)量減半,進一步降低暗室的設(shè)計成本和制造成本,極大地拉大了測量天線之間的距離,提高了測量精度,并且屏蔽箱體可以小型化,便于移動和搬運,提高了應(yīng)用性。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例,所述屏蔽箱體限定有縱軸線,所述多個測量天線布置在與所述屏蔽箱體的縱軸線正交的同一平面內(nèi)。由此可以進一步降低暗室的制造難度,提高測量精度。
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