[發(fā)明專利]一種二維電子羅盤數(shù)據(jù)的取得方法及裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210467787.3
• 申請日: 2012-11-19
• 公開（公告）號: CN102937446A
• 公開（公告）日: 2013-02-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉遠(yuǎn)付
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市航盛電子股份有限公司
• 主分類號: G01C17/32
• 分類號: G01C17/32
• 代理公司: 深圳市科吉華烽知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44248
• 代理人: 王雨時;熊偉

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及傳感器領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種二維電子羅盤數(shù)據(jù)的取得方法及裝置。

背景技術(shù)

在電子產(chǎn)品呈爆炸式增長的今天，競爭的壓力導(dǎo)致電子研發(fā)對成本的考慮越來越多，因此很多產(chǎn)品都極度壓低主控芯片的主頻和功耗，甚至直接定制芯片，芯片的性能被發(fā)揮到極致，這對軟件編程提出了一定的要求；在電子產(chǎn)品智能化的過程中，越來越多的傳感器被加入電子產(chǎn)品中，軟件編寫者必須考慮到主控的性能和傳感器的算法，以達(dá)到最優(yōu)化的設(shè)計。在這種背景下，探索傳感器的優(yōu)化算法就很有意義，比如，光學(xué)傳感器所涉及的圖像壓縮算法，已經(jīng)在現(xiàn)在的電子產(chǎn)品中占有相當(dāng)大的比重，可以說是現(xiàn)代電子產(chǎn)品不可或缺的一部分，所帶來的經(jīng)濟(jì)效益是不可估量的。

通常而言，如果主控性能不是很好，要加入傳感器并實現(xiàn)算法是有困難的，尤其是在一些以控制為主的單片機中，乘法運算會占用比較多的處理時間，要加入算法就更困難，即使是一些簡單的傳感器，也需要時間去做優(yōu)化。

當(dāng)前對傳感器的算法設(shè)計，比較通用的方法是數(shù)學(xué)建模，其次是依靠數(shù)學(xué)方法直接推導(dǎo)出理想化的公式，在程序中實現(xiàn)并做補償。通常的二維電子羅盤算法是基于橢圓參考的算法設(shè)計，由于乘法和除法運算比較多，所以其公式復(fù)雜、計算步驟比較多，導(dǎo)致一些性能不高的主控難以實現(xiàn)，因此必須做優(yōu)化。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于，針對現(xiàn)有技術(shù)的上述公式復(fù)雜、計算步驟較多的缺陷，提供一種公式簡單、計算步驟較少的二維電子羅盤數(shù)據(jù)的取得方法及裝置。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：構(gòu)造一種二維電子羅盤數(shù)據(jù)的取得方法，所述二維電子羅盤包括第一傳感器和第二傳感器，所述方法包括如下步驟：

A）使所述二維電子羅盤的第一傳感器和第二傳感器在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn)，分別讀取所述第一傳感器測量的第一磁場強度和第二傳感器測量的第二磁場強度的值，并保存所述第一磁場強度及第二磁場強度的最大值和最小值；?

B）判斷所述旋轉(zhuǎn)的圈數(shù)是否小于預(yù)先設(shè)定的圈數(shù)，如是，返回步驟A）繼續(xù)讀取所述第一傳感器測量的第一磁場強度和第二傳感器測量的第二磁場強度的值；否則，停止所述旋轉(zhuǎn)并執(zhí)行步驟C）；

C）根據(jù)所述第一磁場強度及第二磁場強度的最大值和最小值，分別取得所述第一磁場強度偏移量及第二磁場強度偏移量；

D）分別讀取所述第一傳感器當(dāng)前測量的第一實際磁場強度和第二傳感器當(dāng)前測量的第二實際磁場強度的值，并將所述第一實際磁場強度減去所述第一磁場強度偏移量得到第一磁場強度校正值，將所述第二實際磁場強度減去所述第二磁場強度偏移量得到第二磁場強度校正值；

E）依據(jù)所述第一磁場強度校正值和第二磁場強度校正值取得所述二維電子羅盤所附載體的顯示屏正方向與地磁北方向的夾角，并由所述夾角取得所述二維電子羅盤所附載體的指示針的指示方向。

在本發(fā)明所述的二維電子羅盤數(shù)據(jù)的取得方法中，所述步驟C）進(jìn)一步包括：

C1）將所述第一磁場強度的最大值和最小值進(jìn)行相加得到第一之和；

C2）將所述第一之和除以2得到所述第一磁場強度偏移量；

C3）將所述第二磁場強度的最大值和最小值進(jìn)行相加得到第二之和；

C4）將所述第二之和除以2得到所述第二磁場強度偏移量；

上述步驟中，先順序執(zhí)行所述步驟C1）和C2）再順序執(zhí)行所述步驟C3）和C4），或先順序執(zhí)行所述步驟C3）和C4）再順序執(zhí)行所述步驟C1）和C2）。

在本發(fā)明所述的二維電子羅盤數(shù)據(jù)的取得方法中，所述步驟C）中除以2是通過在單片機中進(jìn)行右移1位實現(xiàn)的。

在本發(fā)明所述的二維電子羅盤數(shù)據(jù)的取得方法中，所述步驟A）進(jìn)一步包括：

A1）設(shè)定第一變量、第二變量、第三變量和第四變量；

A2）使所述二維電子羅盤的第一傳感器和第二傳感器在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn)，分別讀取所述第一傳感器測量的第一磁場強度和第二傳感器測量的第二磁場強度的值，并將所述第一磁場強度的值分別賦值給所述第一變量和第二變量，將所述第二磁場強度的值分別賦值給所述第三變量和第四變量；

A3）繼續(xù)分別讀取所述第一傳感器測量的第一磁場強度和第二傳感器測的第二磁場強度的值；

A4）判斷當(dāng)前第一磁場強度的值是否大于所述第二變量的值，如是，將當(dāng)前第一磁場強度的值賦值給第二變量并保存；否則，執(zhí)行步驟A5）；

A5）判斷當(dāng)前第一磁場強度的值是否小于所述第一變量的值，如是，將當(dāng)前第一磁場強度的值賦值給第一變量并保存；否則，執(zhí)行步驟A6）；