[發(fā)明專利]一種二維電子羅盤數(shù)據(jù)的取得方法及裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210467787.3
• 申請日: 2012-11-19
• 公開（公告）號: CN102937446A
• 公開（公告）日: 2013-02-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉遠付
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市航盛電子股份有限公司
• 主分類號: G01C17/32
• 分類號: G01C17/32
• 代理公司: 深圳市科吉華烽知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44248
• 代理人: 王雨時;熊偉

1.一種二維電子羅盤數(shù)據(jù)的取得方法，其特征在于，所述二維電子羅盤包括第一傳感器和第二傳感器，所述方法包括如下步驟：

A）使所述二維電子羅盤的第一傳感器和第二傳感器在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn)，分別讀取所述第一傳感器測量的第一磁場強度和第二傳感器測量的第二磁場強度的值，并保存所述第一磁場強度及第二磁場強度的最大值和最小值；?

B）判斷所述旋轉(zhuǎn)的圈數(shù)是否小于預(yù)先設(shè)定的圈數(shù)，如是，返回步驟A）繼續(xù)讀取所述第一傳感器測量的第一磁場強度和第二傳感器測量的第二磁場強度的值；否則，停止所述旋轉(zhuǎn)并執(zhí)行步驟C）；

C）根據(jù)所述第一磁場強度及第二磁場強度的最大值和最小值，分別取得所述第一磁場強度偏移量及第二磁場強度偏移量；

D）分別讀取所述第一傳感器當前測量的第一實際磁場強度和第二傳感器當前測量的第二實際磁場強度的值，并將所述第一實際磁場強度減去所述第一磁場強度偏移量得到第一磁場強度校正值，將所述第二實際磁場強度減去所述第二磁場強度偏移量得到第二磁場強度校正值；

E）依據(jù)所述第一磁場強度校正值和第二磁場強度校正值取得所述二維電子羅盤所附載體的顯示屏正方向與地磁北方向的夾角，并由所述夾角取得所述二維電子羅盤所附載體的指示針的指示方向。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二維電子羅盤數(shù)據(jù)的取得方法，其特征在于，所述步驟C）進一步包括：

C1）將所述第一磁場強度的最大值和最小值進行相加得到第一之和；

C2）將所述第一之和除以2得到所述第一磁場強度偏移量；

C3）將所述第二磁場強度的最大值和最小值進行相加得到第二之和；

C4）將所述第二之和除以2得到所述第二磁場強度偏移量；

上述步驟中，先順序執(zhí)行所述步驟C1）和C2）再順序執(zhí)行所述步驟C3）和C4），或先順序執(zhí)行所述步驟C3）和C4）再順序執(zhí)行所述步驟C1）和C2）。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的二維電子羅盤數(shù)據(jù)的取得方法，其特征在于，所述步驟C）中除以2是通過在單片機中進行右移1位實現(xiàn)的。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任意一項所述的二維電子羅盤數(shù)據(jù)的取得方法，其特征在于，所述步驟A）進一步包括：

A1）設(shè)定第一變量、第二變量、第三變量和第四變量；

A2）使所述二維電子羅盤的第一傳感器和第二傳感器在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn)，分別讀取所述第一傳感器測量的第一磁場強度和第二傳感器測量的第二磁場強度的值，并將所述第一磁場強度的值分別賦值給所述第一變量和第二變量，將所述第二磁場強度的值分別賦值給所述第三變量和第四變量；

A3）繼續(xù)分別讀取所述第一傳感器測量的第一磁場強度和第二傳感器測的第二磁場強度的值；

A4）判斷當前第一磁場強度的值是否大于所述第二變量的值，如是，將當前第一磁場強度的值賦值給第二變量并保存；否則，執(zhí)行步驟A5）；

A5）判斷當前第一磁場強度的值是否小于所述第一變量的值，如是，將當前第一磁場強度的值賦值給第一變量并保存；否則，執(zhí)行步驟A6）；

A6）判斷當前第二磁場強度的值是否大于所述第四變量的值，如是，將當前第二磁場強度的值賦值給第四變量并保存；否則，執(zhí)行步驟A7）；

A7）判斷當前第二磁場強度的值是否小于所述第三變量的值，如是，將當前第二磁場強度的值賦值給第三變量并保存，執(zhí)行步驟B）；否則，執(zhí)行步驟B）；

所述第一變量、第二變量、第三變量和第四變量的值分別為所述第一磁場強度的最小值、第一磁場強度的最大值、第二磁場強度的最小值和第二磁場強度的最大值。