[發明專利]一種光配向液晶材料的終點檢測方法及裝置有效

申請號：	201210467331.7	申請日：	2012-11-19
公開（公告）號：	CN102929017A	公開（公告）日：	2013-02-13
發明（設計）人：	徐亮	申請（專利權）人：	深圳市華星光電技術有限公司
主分類號：	G02F1/13	分類號：	G02F1/13;G02F1/1337;G01N21/35
代理公司：	深圳匯智容達專利商標事務所(普通合伙) 44238	代理人：	潘中毅;熊賢卿
地址：	518132 廣東***	國省代碼：	廣東;44
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種液晶材料終點檢測方法裝置
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【說明書】：

技術領域

本發明涉及液晶顯示領域，尤其涉及一種光配向液晶材料的終點檢測方法及裝置。

背景技術

隨著信息社會的發展，人們對顯示設備的需求得到了增長。為了滿足這種需求，最近幾種平板顯示設備，例如：LCD液晶顯示器件，PDP（Plasma?Display?Panel，等離子顯示板），OLED（Organic?Light-Emitting?Diode有機發光二極管）都得到了迅猛的發展。

在平板顯示器件當中，液晶顯示器件由于其重量低、體積小、能耗低的優點，正在逐步取代冷陰極顯示設備。但最初出現的TN（Twisted?nematic，扭曲向列型）或STN（Super?twisted?nematic，超扭曲向列型）液晶顯示器都存在對比度低，視角差等問題點。隨著人們生活水平的提高，對顯示器件的要求也越來越高，因此IPS（In?Plan?Switch，面內開關顯示模式），VA（Vertical?Alignment，垂直配向顯示模式）等廣視角顯示技術得到了飛躍的發展。

對于IPS面內開關顯示模式，其具有非常好的廣視角顯示效果，但是為了實現較好的面內開關顯示模式的顯示效果，在其生產過程中，對于摩擦工序的要求也就非常的高，這在很大程度上造成其摩擦的工藝冗余度較小。在大規模生產過程中，容易時不時地出現問題。同IPS面內開關模式相比，VA垂直配向模式在生產過程中不需要摩擦工藝，所以大大提高了其在大規模生產上的優勢。

目前，比較流行的是采用攙有高分子聚合單體的液晶，在后續的工藝過程中，通過紫外光和電的雙重效果，實現光配向。這種顯示模式被稱為PSVA（PSVA?Polymer?stained?vertical?alignment，高分子穩定垂直配向模式），其特點表現在彩膜側既不存在突起，也不存在ITO?slit（裂縫）。這不僅節省了彩膜的制作成本，而且還提高了整體的透過率。

但是，由于高分子穩定垂直配向模式使用紫外光配向，且紫外光是通過玻璃基板、配向膜上的各個層別后，才照射到液晶上的，所以實際照射到液晶上的紫外光的照度受基板的影響非常大。在一般的生產控制上，都是通過控制照射時間來進行生產管理的。但是由于大量生產時，基板的個體差異非常大，所以單純的控制照射時間往往會造成配向不足或者配向過度。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于，提供一種光配向液晶材料的終點檢測方法及裝置，通過檢測光配向的終止點控制配向的反應終點，降低玻璃基板個體差異對光配向的影響，且不會影響反應單體進行配向的反應過程。

為了解決上述技術問題，本發明公開了一種光配向液晶材料的終點檢測方法，包括以下步驟：

對液晶材料進行光配向，其包括：在電場作用下，利用輻射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反應單體發生聚合反應；

檢測所述液晶材料中所述反應單體的殘留數量或所述液晶材料中液晶盒的厚度變化數值，判斷檢測出的所述反應單體的殘留數量或所述液晶盒的厚度變化數值是否達到了預設值，當判斷為是時，為所述液晶材料光配向的終止點。

優選的，所述檢測所述液晶材料中所述反應單體殘留數量的步驟包括以下步驟：

對所述液晶材料進行紅外光照射；

根據所述液晶材料中所述反應單體的紅外光吸收強度，獲取反應單體中肉桂酸的濃度下降值。

優選的，所述根據所述液晶材料中所述反應單體的紅外光吸收強度，獲取反應單體中肉桂酸濃度下降值的步驟包括：

獲取所述肉桂酸成分中碳碳雙鍵對特定波長紅外光吸收強度的步驟。

優選的，所述對所述液晶材料進行紅外光照射的步驟包括：以不引發所述反應單體發生聚合反應的紅外光對所述液晶材料進行照射。

優選的，所述檢測所述液晶盒厚度變化數值的步驟至少包括：以不引發所述反應單體發生聚合反應的入射光對所述液晶盒進行照射的步驟。