[發(fā)明專(zhuān)利]一種光配向液晶材料的終點(diǎn)檢測(cè)方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210467331.7
• 申請(qǐng)日: 2012-11-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102929017A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-02-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐亮
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 深圳市華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G02F1/13
• 分類(lèi)號(hào): G02F1/13;G02F1/1337;G01N21/35
• 代理公司: 深圳匯智容達(dá)專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44238
• 代理人: 潘中毅;熊賢卿

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及液晶顯示領(lǐng)域，尤其涉及一種光配向液晶材料的終點(diǎn)檢測(cè)方法及裝置。

背景技術(shù)

隨著信息社會(huì)的發(fā)展，人們對(duì)顯示設(shè)備的需求得到了增長(zhǎng)。為了滿(mǎn)足這種需求，最近幾種平板顯示設(shè)備，例如：LCD液晶顯示器件，PDP（Plasma?Display?Panel，等離子顯示板），OLED（Organic?Light-Emitting?Diode有機(jī)發(fā)光二極管）都得到了迅猛的發(fā)展。

在平板顯示器件當(dāng)中，液晶顯示器件由于其重量低、體積小、能耗低的優(yōu)點(diǎn)，正在逐步取代冷陰極顯示設(shè)備。但最初出現(xiàn)的TN（Twisted?nematic，扭曲向列型）或STN（Super?twisted?nematic，超扭曲向列型）液晶顯示器都存在對(duì)比度低，視角差等問(wèn)題點(diǎn)。隨著人們生活水平的提高，對(duì)顯示器件的要求也越來(lái)越高，因此IPS（In?Plan?Switch，面內(nèi)開(kāi)關(guān)顯示模式），VA（Vertical?Alignment，垂直配向顯示模式）等廣視角顯示技術(shù)得到了飛躍的發(fā)展。

對(duì)于IPS面內(nèi)開(kāi)關(guān)顯示模式，其具有非常好的廣視角顯示效果，但是為了實(shí)現(xiàn)較好的面內(nèi)開(kāi)關(guān)顯示模式的顯示效果，在其生產(chǎn)過(guò)程中，對(duì)于摩擦工序的要求也就非常的高，這在很大程度上造成其摩擦的工藝冗余度較小。在大規(guī)模生產(chǎn)過(guò)程中，容易時(shí)不時(shí)地出現(xiàn)問(wèn)題。同IPS面內(nèi)開(kāi)關(guān)模式相比，VA垂直配向模式在生產(chǎn)過(guò)程中不需要摩擦工藝，所以大大提高了其在大規(guī)模生產(chǎn)上的優(yōu)勢(shì)。

目前，比較流行的是采用攙有高分子聚合單體的液晶，在后續(xù)的工藝過(guò)程中，通過(guò)紫外光和電的雙重效果，實(shí)現(xiàn)光配向。這種顯示模式被稱(chēng)為PSVA（PSVA?Polymer?stained?vertical?alignment，高分子穩(wěn)定垂直配向模式），其特點(diǎn)表現(xiàn)在彩膜側(cè)既不存在突起，也不存在ITO?slit（裂縫）。這不僅節(jié)省了彩膜的制作成本，而且還提高了整體的透過(guò)率。

但是，由于高分子穩(wěn)定垂直配向模式使用紫外光配向，且紫外光是通過(guò)玻璃基板、配向膜上的各個(gè)層別后，才照射到液晶上的，所以實(shí)際照射到液晶上的紫外光的照度受基板的影響非常大。在一般的生產(chǎn)控制上，都是通過(guò)控制照射時(shí)間來(lái)進(jìn)行生產(chǎn)管理的。但是由于大量生產(chǎn)時(shí)，基板的個(gè)體差異非常大，所以單純的控制照射時(shí)間往往會(huì)造成配向不足或者配向過(guò)度。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于，提供一種光配向液晶材料的終點(diǎn)檢測(cè)方法及裝置，通過(guò)檢測(cè)光配向的終止點(diǎn)控制配向的反應(yīng)終點(diǎn)，降低玻璃基板個(gè)體差異對(duì)光配向的影響，且不會(huì)影響反應(yīng)單體進(jìn)行配向的反應(yīng)過(guò)程。

為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明公開(kāi)了一種光配向液晶材料的終點(diǎn)檢測(cè)方法，包括以下步驟：

對(duì)液晶材料進(jìn)行光配向，其包括：在電場(chǎng)作用下，利用輻射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)；

檢測(cè)所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量或所述液晶材料中液晶盒的厚度變化數(shù)值，判斷檢測(cè)出的所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量或所述液晶盒的厚度變化數(shù)值是否達(dá)到了預(yù)設(shè)值，當(dāng)判斷為是時(shí)，為所述液晶材料光配向的終止點(diǎn)。

優(yōu)選的，所述檢測(cè)所述液晶材料中所述反應(yīng)單體殘留數(shù)量的步驟包括以下步驟：

對(duì)所述液晶材料進(jìn)行紅外光照射；

根據(jù)所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的紅外光吸收強(qiáng)度，獲取反應(yīng)單體中肉桂酸的濃度下降值。

優(yōu)選的，所述根據(jù)所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的紅外光吸收強(qiáng)度，獲取反應(yīng)單體中肉桂酸濃度下降值的步驟包括：

獲取所述肉桂酸成分中碳碳雙鍵對(duì)特定波長(zhǎng)紅外光吸收強(qiáng)度的步驟。

優(yōu)選的，所述對(duì)所述液晶材料進(jìn)行紅外光照射的步驟包括：以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的紅外光對(duì)所述液晶材料進(jìn)行照射。

優(yōu)選的，所述檢測(cè)所述液晶盒厚度變化數(shù)值的步驟至少包括：以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的入射光對(duì)所述液晶盒進(jìn)行照射的步驟。

優(yōu)選的，所述入射光的波長(zhǎng)為580nm。

為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明采用的另一種技術(shù)方案為：一種光配向液晶材料的終點(diǎn)檢測(cè)裝置，至少包括：

用以產(chǎn)生電場(chǎng)的電場(chǎng)裝置；

用以產(chǎn)生輻射光，使液晶材料中的反應(yīng)單體在電場(chǎng)和輻射光的作用下發(fā)生聚合反應(yīng)，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)液晶材料配向的輻射光裝置；

用以檢測(cè)所述液晶材料中所述反應(yīng)單體殘留數(shù)量的第一檢測(cè)裝置；以及

用以判斷所述檢測(cè)出的所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量是否達(dá)到預(yù)設(shè)值的第一判斷裝置，當(dāng)所述第一判斷裝置判斷為是時(shí)，為所述液晶材料光配向的終止點(diǎn)。

優(yōu)選的，所述第一檢測(cè)裝置至少包括：