[發(fā)明專利]一種光配向液晶材料的終點檢測方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210467331.7 | 申請日： | 2012-11-19 |
| 公開（公告）號： | CN102929017A | 公開（公告）日： | 2013-02-13 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 徐亮 | 申請（專利權(quán)）人： | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/13 | 分類號： | G02F1/13;G02F1/1337;G01N21/35 |
| 代理公司： | 深圳匯智容達(dá)專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44238 | 代理人： | 潘中毅;熊賢卿 |
| 地址： | 518132 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 液晶 材料 終點 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種光配向液晶材料的終點檢測方法，包括以下步驟：
對液晶材料進(jìn)行光配向，其包括：在電場作用下，利用輻射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)；
檢測所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量或所述液晶材料中液晶盒的厚度變化數(shù)值，判斷檢測出的所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量或所述液晶盒的厚度變化數(shù)值是否達(dá)到了預(yù)設(shè)值，當(dāng)判斷為是時，所述液晶材料光配向終止。
2.如權(quán)利要求1所述的光配向液晶材料的終點檢測方法，其特征在于，所述檢測所述液晶材料中所述反應(yīng)單體殘留數(shù)量的步驟包括以下步驟：
對所述液晶材料進(jìn)行紅外光照射；
根據(jù)所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的紅外光吸收強度，獲取反應(yīng)單體中肉桂酸的濃度下降值。
3.如權(quán)利要求2所述的光配向液晶材料的終點檢測方法，其特征在于，所述根據(jù)所述液晶材料中所述反應(yīng)單體的紅外光吸收強度，獲取反應(yīng)單體中肉桂酸濃度下降值的步驟包括：
獲取所述肉桂酸成分中碳碳雙鍵對特定波長紅外光吸收強度的步驟。
4.如權(quán)利要求2或3所述的光配向液晶材料的終點檢測方法，其特征在于，所述對所述液晶材料進(jìn)行紅外光照射的步驟包括：
以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的紅外光對所述液晶材料進(jìn)行照射。
5.如權(quán)利要求1所述的光配向液晶材料的終點檢測方法，其特征在于，所述檢測所述液晶盒厚度變化數(shù)值的步驟至少包括:
以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的入射光對所述液晶盒進(jìn)行照射的步驟。
6.如權(quán)利要求5所述的光配向液晶材料的終點檢測方法，其特征在于，所述入射光的波長為580nm。
7.一種光配向液晶材料的終點檢測裝置，至少包括：
用以產(chǎn)生電場的電場裝置；
用以產(chǎn)生輻射光，使液晶材料中的反應(yīng)單體在電場和輻射光的作用下發(fā)生聚合反應(yīng)，進(jìn)而實現(xiàn)液晶材料配向的輻射光裝置；
用以檢測所述液晶材料中所述反應(yīng)單體殘留數(shù)量的第一檢測裝置；以及
用以判斷所述檢測出的所述反應(yīng)單體的殘留數(shù)量是否達(dá)到預(yù)設(shè)值的第一判斷裝置，當(dāng)所述第一判斷裝置判斷為是時，為所述液晶材料光配向的終止點。
8.如權(quán)利要求7所述的光配向液晶材料的終點檢測裝置，其特征在于，所述第一檢測裝置至少包括：
紅外線發(fā)射探頭，裝設(shè)在液晶材料液晶盒的頂部，用于向液晶盒發(fā)射以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的紅外光；
紅外線接收探頭，裝設(shè)在液晶盒的底部，用于接收穿透所述液晶盒的所述紅外光；以及
用于根據(jù)所述紅外線發(fā)射探頭發(fā)射紅外光和所述紅外線接收探頭接收紅外光情況，獲取所述液晶盒中所述反應(yīng)單體的紅外光吸收強度，及反應(yīng)單體中肉桂酸濃度下降值的濃度檢測器。
9.一種光配向液晶材料的終點檢測裝置，至少包括：
用以產(chǎn)生電場的電場裝置；
用以產(chǎn)生輻射光，使液晶材料中的反應(yīng)單體在電場和輻射光的作用下發(fā)生聚合反應(yīng)，進(jìn)而實現(xiàn)液晶材料配向的輻射光裝置；
用以檢測液晶材料中液晶盒厚度變化數(shù)值的第二檢測裝置；以及
用以判斷所述檢測出的所述液晶盒的厚度變化數(shù)值是否達(dá)到預(yù)設(shè)值的第二判斷裝置，當(dāng)所述第二判斷裝置判斷為是時，所述液晶材料光配向終止。
10.如權(quán)利要求9所述的光配向液晶材料的終點檢測裝置，其特征在于，所述第二檢測裝置至少包括：
光源，用于產(chǎn)生以不引發(fā)所述反應(yīng)單體發(fā)生聚合反應(yīng)的入射光對所述液晶盒進(jìn)行照射。
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G02F 用于控制光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置，例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào)，上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來修改的；用于上述操作的技術(shù)或工藝；變頻；非線性光學(xué)；光學(xué)
G02F1-00 控制來自獨立光源的光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置，例如，轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制；非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制，即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的
