[發明專利]用于磁頭-介質和凹凸體檢測的電阻溫度傳感器無效
| 申請號: | 201210464632.4 | 申請日: | 2012-11-16 |
| 公開(公告)號: | CN103123788A | 公開(公告)日: | 2013-05-29 |
| 發明(設計)人: | G·J·昆克爾;H·婁;D·麥卡恩;T·W·施特伯 | 申請(專利權)人: | 希捷科技有限公司 |
| 主分類號: | G11B5/48 | 分類號: | G11B5/48;G01K7/16;G01K7/22;G01K7/02 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 錢慰民 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 磁頭 介質 凹凸 體檢 電阻 溫度傳感器 | ||
相關專利文獻
本申請要求均于2010年11月17日提交的臨時專利申請SN?61/414,733和61/414,734的權益,這些優先權是遵照35U.S.C.§119(e)要求的并各自全部援引包含于此。
發明內容
本公開的實施例針對用于檢測磁頭-介質接觸的裝置,該裝置包括磁頭換能器和位于磁頭換能器的接近點處或附近并配置成測量接近點處或附近的溫度的溫度傳感器。測得的溫度響應于磁頭換能器和磁記錄介質之間的間距的改變而改變。檢測器耦合于溫度傳感器并被配置成檢測用于指示磁頭換能器和介質之間的接觸的開始的測得溫度的DC分量的變化。
根據其它實施例,一種用于檢測磁頭-介質接觸的方法涉及隨著磁記錄介質相對于磁頭換能器移動而測量在磁頭-盤界面處的溫度,測得的溫度響應于磁頭換能器和介質之間的間距的改變而變化。該方法還涉及檢測指示磁頭換能器和介質之間的接觸的開始的測得溫度的DC分量的變化。
根據各個實施例,一種裝置包括磁頭換能器和位于磁頭換能器上用以與磁記錄介質的凹凸體(asperity)相互作用的傳感器。該傳感器包括具有高的電阻溫度系數的感測元件。導電引體(lead)連接于感測元件。引體相對于感測元件具有低的電阻溫度系數,這種引體中熱誘導電阻的變化對感測元件對凹凸體的響應具有可以忽略的影響。
根據又一些實施例,一種方法涉及:相對于磁頭換能器移動磁記錄介質,并使用傳感器感測介質的凹凸體,所述傳感器包括具有高的電阻溫度系數的感測元件,所述感測元件耦合至相對于感測元件具有低的電阻溫度系數的導電引體,以使引體中的熱誘導電阻的變化對于感測元件對凹凸體的響應具有可忽略的影響。
可鑒于下面的詳細描述和附圖來理解各實施例的這些和其它的特征和方面。
附圖說明
圖1是根據各實施例結合溫度傳感器的加熱器致動的磁頭換能器結構的簡化側視圖;
圖2是圖1中示出的加熱器致動的磁頭換能器結構的前視圖;
圖3示出處于預致動配置和致動配置下的圖1和圖2的加熱器致動的磁頭換能器結構;
圖4A示出在磁頭換能器和磁記錄盤的表面之間接觸之前、之中和之后圖1-3所示類型的加熱器致動的記錄磁頭換能器的代表性溫度曲線;
圖4B示出在磁頭換能器和磁記錄盤的表面之間接觸之前、之中和之后非熱可致動的記錄磁頭換能器的代表性溫度曲線;
圖5示出根據各實施例的磁頭-介質接觸方法的各個過程;
圖6示出根據其它實施例的磁頭-介質接觸方法的各個過程;
圖7示出根據各實施例的用于檢測磁頭-介質接觸的裝置的視圖;
圖8A和8B示出根據各實施例的電阻溫度傳感器;
圖8C是圖8A和8B所示的傳感器元件的分解圖;
圖9是根據各個實施例的具有提高的凹凸體檢測保真度的電阻溫度傳感器的平面圖;以及
圖10和圖11給出根據各個實施例的展示適用于電阻溫度傳感器的感測元件的電阻材料的特定溫度系數的功效的數據和標繪圖。
具體實施方式
數據存儲系統一般包括將信息讀取和寫入至記錄介質的一個或多個記錄磁頭。一般希望在記錄磁頭與其相關聯的介質之間具有相對小的距離或間距。該距離或間距被稱為“飛行高度”或“磁頭-介質間距”。通過減小磁頭-介質間距,記錄磁頭通常能夠更好地將數據寫至介質和從介質讀出數據。減小磁頭-介質間距也允許勘察記錄介質形貌,例如檢測記錄介質表面的凹凸體和其它特征。
記錄磁頭換能器通常被設置成離介質具有最低可靠間距以獲得最高記錄密度。磁頭介質接觸檢測在設置這種低磁頭-介質間距中是關鍵的。一些傳統系統使用歸因于大偏斜角下的接觸摩擦的磁頭脫離磁道運動來測量磁頭-介質接觸。這些系統僅在介質表面的內徑和外徑上有效,并且不具有在介質表面的所有位置測量磁頭-介質接觸的能力。
其它傳統方法使用磁頭-盤調制以通過使用磁頭換能器上的讀取器或附加傳感器(例如熱傳感器)來檢測接觸。然而,調制使數據記錄系統劣化,且未來的記錄系統將不得不取消調制以達成較低的磁性間距和較高的面積密度。目前,沒有一種傳統系統能橫跨驅動器中的整個介質表面檢測無調制界面的磁頭-介質接觸。
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