[發明專利]自動回歸測試的方法

有效

• 申請號: 201210462280.9
• 申請日: 2012-11-16
• 公開（公告）號: CN103823747B
• 公開（公告）日: 2017-09-15
• 發明（設計）人: 楊寧昕
• 申請（專利權）人: 上海華虹集成電路有限責任公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 上海浦一知識產權代理有限公司31211
• 代理人: 戴廣志

1.一種自動回歸測試的方法，其特征在于，包括如下步驟：步驟一、回歸啟動及運行，根據項目具體情況，對不同種類測試向量的回歸測試進行分類型分級別管理，針對項目實際情況在層次化驗證的不同階段，分別選擇進行模塊級，子系統級或系統級回歸測試；在回歸測試運行后，產生常規信息文件和錯誤信息文件；

步驟二、回歸信息后處理，針對每種級別的回歸測試結果進行統計分析，分別產生項目回歸首頁，包括項目信息和回歸版本，覆蓋率；產生模塊分類分頁或回歸分類分頁，包括模塊分類類型列表及通過或失敗的測試用例匯總；產生每個模塊的詳細回歸結果分頁，包括每個測試用例名稱，仿真運行時間，隨機次數，是否通過，失敗類型統計，仿真結果常規信息文件索引；

步驟一所述回歸啟動及運行采用如下方法實施，在項目開始前對項目進行歸一化的參數配置，配置設計驗證環境相關參數和變量，設置相關設計驗證環境調用配置，通過單命令行或者周期性執行命令啟動自動回歸測試；調用版本管理工具命令同步設計驗證環境及設計源代碼，并記錄相關項目回歸版本號；根據啟動命令行，進行回歸測試類型分析，并根據回歸測試類型分析結果選擇進入相應回歸測試類型；根據啟動命令行和進入的回歸測試類型，進行回歸測試級別分析，并根據回歸測試級別分析結果選擇進入相應級別回歸測試。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟一所述回歸測試類型，包括如下五種，分別是：

基本回歸，在寄存器傳輸級代碼更新后，用于確認是否會對其他部分設計產生影響；

快速回歸，在每次對寄存器傳輸級代碼更新后，用于確認是否會對其他部分設計產生影響，其回歸測試規模小于所述基本回歸類型；

日常回歸，在芯片前端設計的驗證中后期，用于每天晚上進行回歸測試，產生每日回歸測試報告，跟蹤測試進程；

整體回歸，用于芯片流片之前進行一次所有激勵的回歸，運行或需要最后確認而沒有必要往復運行的測試向量，在芯片流片之前或者假期進行多次整體回歸類型回歸測試；

單激勵回歸，用于支持每個測試向量進行單個仿真調試；

每種回歸測試類型包括模塊級，子系統級，系統級三個級別。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于：所述模塊級回歸測試和子系統級回歸測試運行前，依次進行測試向量配置、隨機數配置、波形配置和覆蓋率配置。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于：所述系統級回歸測試包括：寄存器傳輸級、現場可編程門陣列級和網表級三個子類別回歸測試；對所述系統級回歸測試進行子類別選擇后，進入相應子類別回歸測試；

所述寄存器傳輸級回歸測試包括：模塊級、子系統級、系統級和軟硬件協同級回歸測試；對所述寄存器傳輸級回歸測試進行子級別選擇后，進入相應子級別回歸測試；

所述網表級回歸測試，包括：布局布線前預仿真的回歸測試PRE、最壞情況下回歸測試WC、最好情況下回歸測試BC、典型情況下回歸測試TC和最好情況下低溫回歸測試BCLT五種時序類型；對所述網表級回歸測試進行時序類型選擇后，進入相應時序類型回歸測試；

所述系統級回歸測試運行前，依次進行接口配置、加密配置、波形配置和覆蓋率配置。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于：在回歸啟動之前對仿真的激勵文件命名格式進行規范化；其中，項目域，從設計驗證環境變量中直接得到；級別域，針對不同的回歸測試級別，根據預先規定好的命名規則進行設定；模塊域，根據模塊的命名規則及所驗證的功能進行設定；功能域，根據所驗證的特征點進行設定，無預先規定的規則。

6.如權利要求1所述的方法，其特征在于：在回歸啟動及運行之前，在驗證平臺中對仿真的打印信息進行規范化；包括：

模塊開始信息，用來記錄特定激勵文件屬于某一個特定的模塊；

模塊結束信息，用來記錄一個模塊測試是否正常結束；

激勵開始信息，用來作為一個激勵的開始；

激勵結束信息，用來記錄一個激勵的正常結束，通過或者失敗信息，一個激勵是否通過；

仿真運行時間信息，用來記錄一個特定激勵耗時；

如果是模塊級和子系統級回歸測試，采用隨機數作為激勵，則需要重復次數作為隨機次數信息。