[發(fā)明專利]自動(dòng)回歸測(cè)試的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210462280.9
• 申請(qǐng)日: 2012-11-16
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103823747B
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-09-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊寧昕
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海華虹集成電路有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 上海浦一知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司31211
• 代理人: 戴廣志

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種在芯片前端設(shè)計(jì)的驗(yàn)證工作中進(jìn)行自動(dòng)回歸測(cè)試的方法。

背景技術(shù)

回歸測(cè)試在芯片前端驗(yàn)證中占有非常重要的地位。因?yàn)殡S著芯片復(fù)雜度越來(lái)越高，需要的前端測(cè)試向量也不斷細(xì)化和增多，如果沒(méi)有一個(gè)有效的回歸測(cè)試方法對(duì)其有效管理，則整個(gè)驗(yàn)證工作有可能會(huì)陷入一種低效的工作狀態(tài)。

隨著驗(yàn)證技術(shù)和方法的不斷發(fā)展和復(fù)雜化，對(duì)于在驗(yàn)證中占有重要作用的回歸測(cè)試也不斷提出新的需求和挑戰(zhàn)，即如何在有限的時(shí)間內(nèi)，盡可能保證驗(yàn)證工作的質(zhì)量，提高前端設(shè)計(jì)驗(yàn)證流程科學(xué)高效化，為芯片最終按時(shí)保質(zhì)的流片提供保證。

傳統(tǒng)的回歸測(cè)試方法通常是將所有需要運(yùn)行的測(cè)試向量依次序排列，相當(dāng)于批處理單獨(dú)運(yùn)行每個(gè)測(cè)試向量，每次相隔較長(zhǎng)時(shí)間，或做出較大更新后運(yùn)行一次回歸測(cè)試，并在最后通過(guò)人工或簡(jiǎn)單的命令來(lái)檢查結(jié)果。

這樣的回歸測(cè)試方法在驗(yàn)證復(fù)雜度較低，測(cè)試向量數(shù)量較少的情況下可以滿足要求；但是隨著設(shè)計(jì)和驗(yàn)證環(huán)境變得越來(lái)越復(fù)雜，測(cè)試向量的側(cè)重點(diǎn)，數(shù)量都不斷提高的情況下，傳統(tǒng)的回歸測(cè)試越來(lái)越難以滿足不同設(shè)計(jì)驗(yàn)證階段對(duì)回歸測(cè)試提出的要求。如測(cè)試向量數(shù)量的增多，使得很難在一個(gè)晚上或較短時(shí)間內(nèi)完成所有測(cè)試向量的回歸測(cè)試，這樣問(wèn)題不能得到盡快反饋時(shí)將為進(jìn)一步設(shè)計(jì)修改埋下隱患。另外，相隔較長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行一次回歸測(cè)試，也會(huì)使問(wèn)題不能盡快反饋，使設(shè)計(jì)處于不斷修改本來(lái)已經(jīng)通過(guò)的功能（性能）的狀態(tài)，而新的修改又總是有可能帶來(lái)新的問(wèn)題，如此陷入惡性循環(huán)，最終導(dǎo)致設(shè)計(jì)工作陷入低效的循環(huán)。還有，如果每次通過(guò)人工或簡(jiǎn)單命令檢查結(jié)果，只能檢查大致結(jié)果，不能給出每個(gè)測(cè)試向量的關(guān)鍵信息，除非依次查看每個(gè)測(cè)試向量的仿真結(jié)果，而如果失敗的測(cè)試向量比較多的情況下，這樣的做法也很難實(shí)施；并且由人工檢查結(jié)果還可能產(chǎn)生人為的錯(cuò)誤檢測(cè)結(jié)果。

為了彌補(bǔ)傳統(tǒng)回歸測(cè)試的不足，滿足項(xiàng)目對(duì)驗(yàn)證工作提出的挑戰(zhàn)，需要回歸測(cè)試能夠在設(shè)計(jì)驗(yàn)證的關(guān)鍵階段做到每天對(duì)最新更新進(jìn)行回歸測(cè)試，將可能的缺陷或故障消除在萌芽狀態(tài)，同時(shí)回歸測(cè)試可以提供失敗測(cè)試向量的關(guān)鍵信息，滿足加速調(diào)試的需要，以此來(lái)提高設(shè)計(jì)驗(yàn)證工作的效率。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的問(wèn)題是提供一種自動(dòng)回歸測(cè)試的方法，可以提高設(shè)計(jì)驗(yàn)證流程效率及驗(yàn)證的完備性。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明的自動(dòng)回歸測(cè)試的方法，包括如下步驟：

步驟一、回歸啟動(dòng)及運(yùn)行，根據(jù)項(xiàng)目具體情況，對(duì)不同種類測(cè)試向量的回歸測(cè)試進(jìn)行分類型分級(jí)別管理，針對(duì)項(xiàng)目實(shí)際情況，在層次化驗(yàn)證的不同階段，分別選擇進(jìn)行模塊級(jí)，子系統(tǒng)級(jí)或系統(tǒng)級(jí)回歸測(cè)試，并產(chǎn)生常規(guī)信息文件和錯(cuò)誤信息文件；

步驟二、回歸信息后處理，針對(duì)每種級(jí)別的回歸測(cè)試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，分別產(chǎn)生項(xiàng)目回歸首頁(yè)，包括項(xiàng)目信息和回歸版本，覆蓋率；產(chǎn)生模塊分類分頁(yè)或回歸分類分頁(yè)，包括模塊分類類型列表及通過(guò)或失敗的測(cè)試用例匯總；產(chǎn)生每個(gè)模塊的詳細(xì)回歸結(jié)果分頁(yè)，包括每個(gè)測(cè)試用例名稱，仿真運(yùn)行時(shí)間，隨機(jī)次數(shù)，是否通過(guò)，失敗類型統(tǒng)計(jì)，仿真結(jié)果常規(guī)信息文件索引。

本發(fā)明使用全自動(dòng)腳本運(yùn)行，通過(guò)配置回歸測(cè)試的參數(shù)，啟動(dòng)回歸測(cè)試；驗(yàn)證工程師通過(guò)對(duì)回歸啟動(dòng)或者回歸信息后處理的配置文件進(jìn)行簡(jiǎn)單修改，就可以比較容易的在不同項(xiàng)目間復(fù)用；可以將不同種類測(cè)試向量進(jìn)行分類分級(jí)別管理，并針對(duì)項(xiàng)目實(shí)際情況在層次化驗(yàn)證的不同階段采用不同級(jí)別的回歸測(cè)試，合理安排不同階段的回歸測(cè)試。在回歸測(cè)試結(jié)束后，自動(dòng)化處理回歸測(cè)試結(jié)果，可以產(chǎn)生出用戶界面良好的回歸報(bào)告，該回歸報(bào)告包括歷史記錄及每次回歸，每個(gè)模塊及每個(gè)測(cè)試向量的關(guān)鍵信息，方便工程師快速定位缺陷或進(jìn)行調(diào)試，可以有效提高芯片前端設(shè)計(jì)的驗(yàn)證流程效率及驗(yàn)證的完備性；能夠與驗(yàn)證環(huán)境協(xié)同工作，與第三方工具及資助開(kāi)發(fā)的設(shè)計(jì)驗(yàn)證自動(dòng)化環(huán)境相配合，方便地與第三方工具接口，成為整個(gè)設(shè)計(jì)驗(yàn)證環(huán)境的一部分，形成統(tǒng)一的設(shè)計(jì)驗(yàn)證自動(dòng)化平臺(tái)，自動(dòng)化程度較高的完成測(cè)試結(jié)果檢查。

附圖說(shuō)明

下面結(jié)合附圖與具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明：

附圖是所述自動(dòng)回歸測(cè)試的方法控制流程圖。

具體實(shí)施方式

所述自動(dòng)回歸測(cè)試的方法是基于腳本及超文本標(biāo)記語(yǔ)言（HTML）等方法開(kāi)發(fā)的，所應(yīng)用的對(duì)象是針對(duì)芯片前端設(shè)計(jì)的驗(yàn)證流程進(jìn)行自動(dòng)回歸管理。在驗(yàn)證方法和測(cè)試激勵(lì)不斷復(fù)雜化的情況下，能更有效的管理所有測(cè)試向量，完善芯片前端設(shè)計(jì)的驗(yàn)證流程，高效執(zhí)行設(shè)計(jì)驗(yàn)證工作。