[發明專利]一種可靠性預計算法

有效

• 申請號: 201210460752.7
• 申請日: 2012-11-15
• 公開（公告）號: CN103810368B
• 公開（公告）日: 2016-10-26
• 發明（設計）人: 王群勇;陽輝;陳冬梅;白樺;陳宇
• 申請（專利權）人: 北京圣濤平試驗工程技術研究院有限責任公司
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

技術領域

本發明涉及可靠性預計技術領域，具體涉及一種可靠性預計算法。

背景技術

現有的可靠性預計方法主要是基于常數失效率假設的可靠性預計方法，如GJB299和MIL-HDBK-217，采用失效數統計方法，其電子元器件可靠性預計結果與實際情況相差很大，具有以下缺陷：

1）不能對環境應力對元器件可靠性造成的影響進行定量分析；

2）未考慮用戶過程控制和質量控制水平；

3）未考慮輻照效應等新失效機理。

例如，某星用電源模塊論證時采用GJB299進行產品可靠性預計，但未考慮產品的輻射敏感效應，預計不準確。

發明內容

（一）要解決的技術問題

本發明從元器件失效機理和模式出發，研究并建立元器件失效率與應力的定量關系，同時考慮元器件質量水平及用戶過程控制和質量控制水平。在可靠性預計（FIDES）模型的基礎上，增加輻射應力響應，可用于航空航天輻射敏感元器件的可靠性預計。

（二）技術方案

本發明提供了一種可靠性預計算法，包括以下步驟：

S1、分別計算器件單粒子效應SEE、總劑量效應TID和位移損傷效應DD引起的失效率λ_SEE、λ_TID和λ_DD；

S2、根據公式λ_space=λ_TID+λ_DD+λ_SEE計算空間輻射環境引起的失效率λ_space；

S3、根據公式λ=λ_NOspace+λ_space計算器件的總失效率λ，其中λ_NOspace是非空間輻射環境引起的失效率。

進一步的，所述單粒子效應SEE引起的失效率λ_SEE通過公式λ_SEE=λ_SEEPhysical∏_PM∏_Process計算，其中λ_SEEPhysical是單粒子效應物理貢獻的失效率，∏_PM是器件制造過程中的質量和技術控制因素，∏_Process是器件研發、制造和使用過程中的質量和技術控制因素。

進一步的，∏_PM和∏_Process的取值參考FIDES?guide?2009，λ_SEEPhysical通過以下公式計算：

λSEEPhysical=ΣiSEEtype(Annual_timeSEEtype-i8760λSEEtype-i)]]>

其中，Annual_time_SEEtype-i是器件加電工作時間；

λ_SEEtype-i是第i種單粒子效應引起的失效率，λ_SEEtype-i的計算公式為：