[發明專利]一種可靠性預計算法

有效

• 申請號: 201210460752.7
• 申請日: 2012-11-15
• 公開（公告）號: CN103810368B
• 公開（公告）日: 2016-10-26
• 發明（設計）人: 王群勇;陽輝;陳冬梅;白樺;陳宇
• 申請（專利權）人: 北京圣濤平試驗工程技術研究院有限責任公司
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

1.一種可靠性預計算法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、分別計算器件單粒子效應SEE、總劑量效應TID和位移損傷效應DD引起的失效率λ_SEE、λ_TID和λ_DD；

S2、根據公式λ_space=λ_TID+λ_DD+λ_SEE計算空間輻射環境引起的失效率λ_space；

S3、根據公式λ=λ_NOspace+λ_space計算器件的總失效率λ，其中λ_NOspace是非空間輻射環境引起的失效率。

2.如權利要求1所述的算法，其特征在于，所述單粒子效應SEE引起的失效率λ_SEE通過公式λ_SEE=λ_SEEPhysical∏_PM∏_Process計算，其中λ_SEEPhysical是單粒子效應物理貢獻的失效率，∏_PM是器件制造過程中的質量和技術控制因素，∏_Process是器件研發、制造和使用過程中的質量和技術控制因素。

3.如權利要求2所述的算法，其特征在于，∏_PM和∏_Process的取值參考FIDES?guide?2009，λ_SEEPhysical通過以下公式計算：

λSEEPhysical=ΣiSEEtype(Annual_timeSEEtype-i8760λSEEtype-i)]]>

其中，Annual_time_SEEtype-i是器件加電工作時間；

λ_SEEtype-i是第i種單粒子效應引起的失效率，λ_SEEtpye-i的計算公式為：

λSEEtype-i=∫0∞∫-11∫02πf(LET,θ,φ)σSEEtype-i(LET,θ,φ)dφd(cosθ)dLET]]>

其中，σ_SEEtype-i(LET,θ,φ)是試驗獲得的器件單粒子截面；

f(LET,θ，φ)是預計的空間全向LET微分譜，LET指線性能量轉移，θ為角度，φ為積分譜。